烟化炉的汽化冷却改造

<正> 我矿采用烟化炉火法富集流程处理低品位氧化铅锌矿,产出富铅锌锗烟尘。 烟化炉炉底面积7.8米~2,主要由水套式炉体和水套式架空烟道构成。强制冷却用水每小时达300～400吨,溢出的热水经冷却塔冷却后泵回循环使用。不但浪费了热能,而且还得外加电耗。 当水套采用水冷方式时,由于用水量     

氧乙炔焰喷焊铁基粉末应用于中压阀门密封面的初步探讨

本文介绍了氧乙炔焰喷焊金属粉末的基本原理和特点,并从多种性能试验入手,通过分析、比较,对氧乙炔焰喷焊铁基粉末,应用于中压阀门密封面的可行性,进行了初步探讨。认为:氧乙炔焰金属粉末喷焊新工艺,应用于中压阀门密封面,有利于提高中压阀门的质量,并能显著地提高经济效益。     

先进的S段应答机研究计划(NASA-CR-99511) 第六章 封装

6.引言本章叙述锁相环路应荅机的封装问题。分析和讨论的主要课题是环境标准,封装技术,结构设计,屏蔽和壳体要求。6.1.环境6.1.1 境环设计标准的选择环境条件是先进应荅机的设计标准,假设它最大可能的用场是用于“阿波罗”部件,由此来选定一组环境条件。而登月舱 S 波段应荅机、指挥舱(Ⅱ期)的应荅机和     

中频衰减器的制作与使用

一、概述测量接收机的噪声系数,通常是用气体放电管噪声发生器或二极管噪声发生器作为信号源,在被测接收机的检波器输出端用附加的电流或电压表来测量检波电流或电压,作为输出噪声功率的指示仪表。但是,检波器对不同大小的输入信号有不同的反应:小信号时呈平方律检波;大信号时呈线性律检波;中等信号时处于两者之间。由于检波规律的不同,会使测得的噪声系数有较大的误差。如能有一个精密的衰减器来改变信号的大小,使测量噪声系数的过程中,保持检波器的输入信号大小不变,则因为检波规律相同,就可以避免由检波规律     

连续激光束径向能量分布的测量

一、概述激光束的径向能量分布是衡量激光器输出的激光束几何结构的重要参数之一。在理想情况下,以TEM_(00)基模运转的激光器输出一束具有高斯空间能量分布的平行光束。实际上,由于种种原因(例如谐振腔的光学表面有一定的加工误差;光学调准有误差;激光管的内径与出射孔径不规则等),都将使高斯分布发生变化,甚至使激光器以较高级的TEM模运转,输出的激光束具有多光束特性,其径向能量分     

往复式压缩机管道的消振方法及应用

在化工、化肥、炼钢等等企业中,大型往复式压缩机是极为重要的设备。由于布置管道时振动方面的问题考虑不周,或者根本没有考虑,致使在运行时管道发生激烈振动,并导致周围建筑物振动和引起烦人的噪音。有时,还会降低容积效率,增加额外功率消耗。更甚者,还会牵扯气缸摇头,发生气阀及控制阀失灵和管道、支架疲劳破坏等严重后果。为了克服管道振动,不少厂矿往往因盲目地求助于加固、迭焊等简单的措施,收效甚微,因而造成极大的困扰。     

微生物和化学溶剂浸出金的工艺原理

早已证明,氨基酸、朊、肽和核素酸对金的溶解具有一定的作用.为了进一步利用溶金代谢物提取金属,对溶金代谢物的酶化条件作了研究.在用微生物合成的氨基酸中,氨羰基丙氨酸、乙氨酸、丁氨二酸、组氨酸、丝氨酸、和丙氨酸等都能使金溶解,肽中的酸肽和碱肽(其反应能力与分子质量成反比);核素酸中的脱氧核糖核酸等都能溶解金.碳水化合物不参与金的溶解,但在碳水化合物存在下可生成金属溶胶.只有在碱介     

国外贵金属提取技术进展的新动向

目前,在黄金选冶工艺上出现了许多革新.它们大致可分为两类:第一类是对整个贵金属的生产有重大影响的;第二类是能够解决贵金属提取工艺中某些局部难题的方法和设备上的改革.堆浸法和活性炭吸附浸出法的出现,对采金工业的发展产生了重大影响.这些方法已在加拿大、澳大利亚,菲律宾和津巴布韦等世界各产金国家得到了广泛应用.     

以“冷、静”之名九州风神Gabriel散热器评测

这个年头,对于日常使用来讲．台式电脑的性能早就显得过剩了。前不久,笔者去电脑城配电脑的时候都已不再一味地追求性能,转而追求更小一点、更安静一点……,好让自己更舒适一点。毕竟．谁也不想待在书房上网的时候听到让人厌烦的噪声吧？结果,在配电脑的时候．折腾一番．选购散热器花掉的精力和时间变得最多了……     

多晶硅部分剥离技术对抗辐照VDMOS动态特性的影响

在考虑VDMOS器件的抗辐照特性时,为了总剂量辐照加固的需求,需要减薄氧化层的厚度,然而,从VDMOS器件的开关特性考虑,希望栅氧化层厚度略大些。本文论证了在保证抗辐照特性的需求的薄氧化层条件下,采用漂移区多晶硅部分剥离技术以器件动态特性的可行性,研究了该结构对器件开启电压、击穿电压、导通电阻、寄生电容、栅电荷等参数的影响,重点研究了漂移区多晶硅窗口尺寸对于VDMOS动态特性的影响。模拟结果显示,选取合理的多晶硅尺寸,可以降低栅电荷Qg,减小了栅-漏电容Cgd,减小器件的开关损耗、提高器件的动态性能。