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高水分组织化大豆蛋白干燥与复水特性研究 总被引:7,自引:0,他引:7
高水分组织化大豆蛋白是一种应用湿法挤压技术生产的植物蛋白仿肉制品.本文以高水分组织化大豆蛋白为试验材料,研究了其干燥特性与复水特性.结果表明:(1)60℃为样品最佳干燥温度,粒状样品在该温度下干燥50min,带状样品干燥120min均能使水分降到5%以下.(2)样品的干燥温度和复水温度对样品的复水特性均有显著影响(α<0.01).当复水温度为30℃、60℃、90℃时,最大复水率分别为155%、211%和300%.通过质构分析发现,烘干型样品在30℃复水55~60min,60℃复水30~35min,90℃复水15~20min后均可达到对照样品(鲜样)的质地.结合感观分析,建议食用前将烘干型高水分组织化大豆蛋白在30℃水中复水55~60min或在60℃水中复水30~35min. 相似文献
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固体激光器的热管理仍然是高功率激光系统发展的一个持续挑战。在激光系统中增益介质和泵浦光之间引入相对运动是一种高效的热管理方案。针对静止泵浦,旋转增益介质泵浦以及泵浦光旋转泵浦3种泵浦方式,借助有限元数值模拟方法分析了Nd∶YAG晶体的温度分布。泵浦光以800 r/min旋转时,在35 W泵浦功率下,使用标准的热沉冷却技术,晶体的最高温度达到约36 ℃,仅增加约16 ℃,这远低于静止泵浦时的142 ℃。实验设计并演示了一种腔外旋转泵浦的Nd∶YAG激光器,得到了12.2 W的1064 nm连续输出,斜率效率为37.2%,这大于静止时的35.1%,实验结果与理论结果相符合。研究表明,腔外旋转泵浦的固体激光器拥有高效的热管理。 相似文献
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p-GaN HEMT凭借高频、高功率密度的优势,已逐渐应用于高频电源领域。负载短路、错误的栅控信号等因素均会导致器件处于严重的短路状态。目前,研究重点多聚焦于600 V/650 V商用器件的最终失效上,缺乏对器件在短路应力下的退化机理研究。通过重复短路应力研究了100 V商用p-GaN HEMT的短路稳健性,随着应力次数的增加,器件的阈值电压VTH表现出持续正向漂移且漂移量可达+0.65 V,漏极电流IDsat持续下降。此外,还研究了短路应力后器件的动态恢复过程。在较弱的短路应力后,由于Al GaN势垒层内的陷阱和p-GaN/AlGaN界面陷阱释放掉被捕获的电子,VTH和IDsat能够完全恢复;而在苛刻的短路应力后,栅下产生的热电子将轰击p-GaN/AlGaN界面从而诱导出新的界面缺陷,这将导致VTH永久性的正向漂移,最终使得IDsat不可恢复。 相似文献
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外部坏点造成的不良是电容传感芯片制造过程中良率损失的主要来源之一。由于庞大的市场需求和日趋激烈的竞争,有必要进一步提升产品良率。从电容传感的原理出发,阐释外部坏点与产品实际物理结构之间的联系;按照失效分析的思路介绍了大粒径塑封填料颗粒异常混入、小粒径填料颗粒异常聚集和塑封料基体树脂异常聚集3类造成电容传感芯片外部坏点的典型成因;并借助有效介质理论归纳了相应的物理模型,给出大颗粒或聚集体临界尺寸的计算方法。在此基础上,依据外部坏点的物理表现和临界尺寸的计算结果,从塑封原材料的生产和塑封料的来料检验角度,分别提出了管控方案。根据实施方案前后同型号产品多批次因外部坏点导致的不良品扣料监控数据分析,几类措施均能有针对性地提升产品良率。 相似文献
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列举了电网运行中几起常见事故案例,通过分析,找到了造成事故的原因,并从设计思路、人员因素、产品质量以及技改工作等不同角度对影响电网安全生产运行的因素进行归纳、分析,进而提出了相应的防范措施。 相似文献