CCSDS压缩算法对高光谱数据质量的影响研究

成像光谱仪能够探测获取目标的空间信息和光谱信息,逐渐在军事/民用遥感领域广泛应用.然而随着成像光谱仪的空间分辨率和光谱分辨率的提高,数据量也飞速提高.受数据下行链路带宽限制,星载高分辨率成像光谱仪所获取的海量数据必须进行有损压缩,而采用有损压缩又带来了一个关键问题:有损压缩所造成的数据失真究竟会对高光谱数据质量及后续遥感应用造成怎样的影响.本文基于CCSDS压缩算法的两种压缩方案,从统计性能、辐射性能、空间性能、光谱性能和应用性能5个方面,系统性分析了数据压缩对高光谱数据质量造成的影响.结果表明,利用高光谱数据的高谱间相关性,采用谱间去相关与CCSDS空间数据压缩相结合的方案,与直接采用CCSDS进行空间数据压缩的方案相比,具有更好的压缩性能,对高光谱数据质量造成的影响更小.     

QC平台对SAP系统过程管理的研究

本文从SAP系统测试管理的现状入手,分析了SAP系统测试过程管理中存在的问题.并提出引入QC测试管理平台以提升SAP系统测试管理水平、提高软件测试工作效率、规范软件测试管理流程,并针对中海油SAP系统测试需求对QC进行系统优化和个性化配置,使之成为SAP系统测试过程管理的最佳解决方案.     

Wishart分布情形下极化SAR图像目标CFAR检测解析方法

等效视数是影响极化合成孔径雷达（PolSAR）图像恒虚警 （CFAR）检测性能的重要参数.目前等效视数的估计大都不是整数,导致已有的基于整数等效视数的CFAR检测方法不再适用.为解决此问题,提出了一种新的PolSAR图像目标CFAR检测解析算法.首先,在Wishart分布假设下,推导出了多视极化白化滤波（MPWF）检测量的概率密度函数;然后对其积分得到了CFAR检测门限关于等效视数的解析表达式;最后通过仿真数据和AIRSAR实测数据比较了新方法与已有的适用于整数等效视数的检测方法和双参数恒虚警（2P-CFAR）检测方法的CFAR检测性能.结果表明新方法中实际虚警概率与给定的恒虚警概率最为接近,更好保证了CFAR检测的恒虚警假设.     

新型微生物控制技术在生活用纸中的应用

随着生活水平的提高,生活用纸的产量和消费量日渐增长。消费者对生活用纸的品质特别是与健康卫生相关的微生物控制提出更高的要求。有效的微生物控制方案不仅保护纤维等原料,保证产品质量,还能够提高纸机效能和运行效率。NALCOWater研发了新一代OxiPROTM稳定型微生物控制技术,通过在线反应生成稳定的活性成分,并在系统中缓慢释放,防止浆料因微生物繁殖引起的腐败,为浆料防腐提供良好的持效性。与常用的氧化型次氯酸钠类及氯胺类杀菌剂相比,新型OxiPROTM微生物控制技术在气相中腐蚀速率最小,与添加剂的相容性高。本文通过实验研究和应用案例阐明通过该项新技术的使用不仅保证生活用纸品质．有效提高纸机生产效率,同时通过降低杀菌剂的腐蚀风险保护纸机设备。     

基于ANT协议的智能家居网络系统设计

分析了智能家居环境中无线通信的特点,从网络自组织性、抗干扰性、稳定性等方面提出了对无线通信协议的要求.根据ANT协议简单高效、组网灵活、易于改进的特点,以ANT协议为基础,结合无线传感器网络技术,设计一种包含智能接入、动态路由、自适应跳频技术的无线网络系统.通过真实场景实验,结果表明该网络系统有效地解决了家居智能接入、家庭网络安全性、稳定性的问题,提高了网络的抗干扰能力,其作为家庭无线网络具有一定的可行性.     

湖南凤滩水电站扩机工程竣工安全鉴定工作结束

国家电力监管委员会大坝安全监察中心受湖南风滩发电有限责任公司的委托，承担凤滩水电站扩机工程竣工安全鉴定工作。竣工安全鉴定从2004年2月中旬开始，至2005年3月底结束。2005年8月30日大坝安全监察中心向湖南风滩水力发电厂正式提交《湖南风滩水电站扩机工程竣工安全鉴定报告》，标志着湖南风滩水电站扩机工程竣工安全鉴定工作结束。     

C9石油树脂加氢技术研究进展及应用市场

分析了C9石油树脂加氢技术及其相关催化剂的研究进展和专利申请情况,并分析了C9加氢石油树脂的用途及其市场消费状况,指出了C9加氢石油树脂是C9资源利用的一个有效途径。     

鄂坪水利水电枢纽工程蓄水安全鉴定工作结束

黄龙滩电厂扩建工程1号机组继2号机6月17日投运后，于8月5日上午6时05分顺利完成72小时试运行，投产发电。这标志着黄龙滩电厂扩建工程两台机组的主体工程全面竣工。这两台机组陆续在“迎峰度夏”期间投产发电，对于缓解湖北电网电力供应紧张的局面和调峰能力不足的矛盾将发挥重要作用。     

弯曲损耗不敏感单模光纤1310nm处模场直径测试方法比对分析

本文通过实验的方法分析研究了不同高阶模滤除条件对ITU-T G.657.A2、A3和ITU-T G.657.B3类光纤模场直径测量结果的影响。实验表明,采用22m试样光纤的测试条件或采用将2m标准的G.652光纤熔接在2mG.657试样光纤上,并在标准的G.652光纤上绕两个40mm半径圈的测试条件均可以准确测试G.657.A类包括A3类和G.657.B类光纤在1310nm处的模场直径。采用其他不同的弯曲半径或通过绕更多圈的滤除高阶模的方法并不总能够有效滤除G.657.A类包括A3类和G.657.B类2m试样光纤中的高阶模。特别是弯曲性能好且λc≥1310nm的G.657光纤,1310nm处模场直径测试的结果会受高阶模影响,并导致实测值比正确值偏小。为了避免高阶模的影响,推荐采用22m试样光纤测试条件或采用将2mG.652光纤熔接在2mG.657试样光纤上,并在G.652光纤上绕两个40mm半径圈的测试条件测试G.657光纤1310nm处模场直径。