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21.
提出一种能兼顾状态内部分杜的状态覆盖方法.在状态内部分枝树的终端结点处添加状态转换语句,将原先的单个转换分成多个转换分枝;从而实现对原先的状态转换进行扩展,使得用传统的状态测试方法就能够覆盖到状态内部的分枝.为了准确描述该过程,文中给出了分枝扩展的形式化方法.在此基础上,给出一个测试向量生成算法:遍历状态转换有向图;依状态间转换条件生成测试向量;依遍历顺序收集测试向量.通过对ITC99-benchmark中时序电路的试验表明,本文方法是有效的. 相似文献
22.
本文提出了一种简化的八波形方法,以描述门时滞故障模拟中的实际波形,并给出了波形的计算方法。八波形方法充分考虑了门输出波形的类型与输入波形的类型和时间因素的关系,比较精确地反映了故障模拟中的实际波形。在八波形描述的基础上,提出了一种δ—事件驱动的故障模拟算法,以确定被测门时滞故障的大小。 相似文献
23.
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27.
在片上网络NoC( Network-on-Chip)中,通过光通信取代传统的电信号传精来获得低延时、低功耗成为一种新兴的研究方向—光五连片上网络ONoC(Optical Network-on-Chip)本文提出一种全新的双向传输的波长路由片上网络,这种新的结构对调制好的光信号的波长进行判断来实现在网络节点之间的路由,同时还能够通过器件和传输通道的共享实现数据的双向传输.和传统的电信号传输网络相比,本文提出的双向传输结构减少了50%的硬件开销和70%的芯片面积开销,提高了器件利用率,降低了网络传输延时,极大地提高了网络传精性能,对于光互连片上网络具有重要意义. 相似文献
28.
针对环形振荡器物理不可克隆函数均匀性与独特性不够理想的问题,提出一种可调可重构的环形振荡器物理不可克隆函数设计.该设计包含可重构环形振荡器模块、整合器模块和裁决器模块.可重构环形振荡器模块由多个独立且具有相同设计的可重构环形振荡器-计数器组构成,芯片各部分的工艺偏差由计数器的数值反映;整合器模块通过将多个计数器数值进行... 相似文献
29.
SOC可测试性设计与测试技术 总被引:19,自引:0,他引:19
超深亚微米工艺和基于芯核的设计给芯片系统(system-on-a-chip,SOC)测试带来了新的问题.对SOC可测试性设计与测试技术的国际研究现状及进展进行了广泛而深入的综述.从芯核级综述了数字逻辑、模拟电路、存储器、处理器4类芯核的可测试性设计与测试技术,从系统级综述了测试激励、测试响应和测试访问机制等SOC测试资源的设计以及压缩/解压缩与测试调度等测试资源划分、优化技术,并介绍了2个标准化组织开展的SOC测试标准工作.最后,展望了SOC测试未来的发展方向. 相似文献
30.
验证包含黑盒的电路设计的有效方法 总被引:3,自引:0,他引:3
在超大规模集成电路设计中,为了进行早期的设计错误检测与调试或层次化验证,常常需要使用含黑盒的设计验证方法,该文提出了一种结合逻辑模拟和布尔可满足性的黑盒验证方法,用于验证设计中黑盒外部的功能正确性,该方法使用量化的合取范式(CNF)来表示电路中出现的未知约束,并且不需要修改电路结构,有效地节省了计算资源,此外,通过使用随机并行模拟增强了可满足性算法的错误检测能力,通过对ISCA’85电路的实验表明了该方法不仅比以往同类算法速度快,而且具有较好的错误检测能力。 相似文献