基于混合遗传算法的RTL激励生成

寄存器传榆级（RTL）描述是目前应用最广泛的电路设计描述形式．在时序电路的RTL激励生成中，基于模拟的方法避免了帧扩展法庞大的搜索空间，但采用该方法常存在向量过多．质量不高等问题．本文充分考虑影响算法效率的各种因素，在此基础上，提出一种基于混合遗传算法的激励生成方法．该方法结合多种覆盖评估准则与故障模型作为激励生成目标，同时采用动态参数设置，实现全局-局域混合搜索机制．实验结果显示该方法是有效的．     

通用CPU设计验证中的等价性检验方法

针对传统的模拟验证方法需要大量的时间且难以获得完全的覆盖率的局限性,提出了目前应用最广泛的一种形式验证方法——等价性检验在一款通用CPU设计验证中的应用方案,包括寄存器传输级(RTL)设计与门级网表、门级网表与门级网表、RTL设计与RTL设计之间的功能等价性验证．此外,给出了验证过程中一些常见问题的解决办法．验证结果表明了该方法的可行性,显著地减少了门级模拟的时间．     

适用于扫描测试中的测试响应压缩电路设计

测试向量响应压缩电路分为组合压缩电路和时序压缩电路两种．提出一种新的时序压缩电路：锥一压缩器．由于该电路是单输出的,所以总能保证最大压缩率．根据扫描测试中故障出现的特点,通过引入等价概念和两条设计规则来保证该响应压缩电路能够避免2,3和任何奇数个错误位抵消的情况．这两条设计规则同样适用于处理测试响应中出现未知位的情况．提出的基于随机选取生成算法可以自动生成该压缩电路．最后用实验数据从性能和代价两方面分析了锥一压缩器的适用性．     

基于非漏电脉冲耦合振荡器模型的无线传感器网络时间同步算法

提出了一种基于非漏电脉冲耦合振荡器模型的无线传感器网络(WSNs)时间同步算法,并对算法的正确性进行了证明,给出了算法步骤的描述.同时分析了如何在WSN节点上实现该算法,引入了不应期来解决由于延迟带来的节点之间重复激发问题,并讨论了模型中各参数对同步的影响.非漏电脉冲耦合振荡器模型采用线性的动态函数描述振荡器的状态变化...     

冷轧酸洗线启卷器液压回路的特殊故障分析

冷轧酸洗线开卷机启卷器的作用是将原料卷的带头剥开,并将其夹持送入夹送辊和直头机.本文分析了某酸洗机组中由于启卷器液压系统与电气控制程序上设计的缺陷而导致的一起事故,并提出了解决办法.     

可见光下掺N附Ag纳米TiO_2的光催化降解甲基橙

采用溶胶–凝胶法制备纯TiO_2和掺氮TiO_2纳米颗粒(N-TiO_2),然后通过光催化还原在其表面附Ag,得到表面附Ag的纳米TiO_2(即Ag/TiO_2)和掺N附Ag纳米TiO_2(即Ag/N-TiO_2),利用X射线衍射(XRD)、场发射扫描电镜(FE-SEM)、光致发光光谱仪(photoluminescence spectroscopy,PL)、X射线光电子能谱(XPS)以及紫外可见漫反射光谱分析(UV-VIS DRS)对TiO_2及其掺杂改性后的组成和结构、光吸收性能以及可见光下对甲基橙溶液的光催化活性等进行表征。结果表明,所有样品均为锐钛矿型,Ag/TiO_2的平均晶粒度为20.4 nm;N以替代型N-Ti-O、间隙型Ti-O-N(或氧化态Ti-O-N-O)的形式存在于晶格中,银以Ag0形式附着在TiO_2表面;N掺杂抑制TiO_2晶粒的生长,并抑制光生电子与空穴的复合,从而促进TiO_2对可见光的吸收;表面附Ag对TiO_2晶格没有明显影响,但在450~580 nm可见光区产生强烈的表面等离子吸收带并延长至近红外区。TiO_2及其掺杂改性后对甲基橙的光催化效果为Ag/N-TiO_2Ag/TiO_2N-TiO_2TiO_2(或Degussa P25),Ag/N-TiO_2在可见光下对甲基橙(p H=3)进行光催化降解,150 min时降解率达到95%。     

Leakage Current Optimization Techniques During Test Based on Don't Care Bits Assignment

It is a well-known fact that test power consumption may exceed that during functional operation.Leakage power dissipation caused by leakage current in Complementary Metal-Oxide-Semiconductor(CMOS)circuits during test has become a significant part of the total power dissipation.Hence,it is important to reduce leakage power to prolong battery life in portable systems which employ periodic self-test,to increase test reliability and to reduce test cost.This paper analyzes leakage current and presents a kind of leakage current sinmlator based on the transistor stacking effect. Using it,we propose techniques based on don't care bits(denoted by Xs)in test vectors to optimize leakage current in integrated circuit(IC)test by genetic algorithm.The techniques identify a set of don't care inputs in given test vectors and reassign specified logic values to the X inputs by the genetic algorithm to get minimum leakage vector(MLV). Experimental results indicate that the techniques can effectually optimize leakage current of combinational circuits and sequential circuits during test while maintaining high fault coverage.     

可调可重构的环形振荡器物理不可克隆函数

针对环形振荡器物理不可克隆函数均匀性与独特性不够理想的问题,提出一种可调可重构的环形振荡器物理不可克隆函数设计.该设计包含可重构环形振荡器模块、整合器模块和裁决器模块.可重构环形振荡器模块由多个独立且具有相同设计的可重构环形振荡器-计数器组构成,芯片各部分的工艺偏差由计数器的数值反映;整合器模块通过将多个计数器数值进行...     

可测试性设计技术在一款通用CPU芯片中的应用

可测试性设计(Design-For-Testability,简称DFT)是芯片设计的重要环节,它通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性的硬件逻辑,从而使芯片变得容易测试,大幅度节省芯片测试的成本。文中介绍了在一款通用CPU芯片的设计过程中,为提高芯片的易测性而采取的各种可测试性设计技术,主要包括扫描设计(ScanDesign)、存储器内建自测试(Build-in-self-test,简称BIST)以及与IEEE1149.1标准兼容的边界扫描设计(BoundaryScanDesign,简称BSD)等技术。这些技术的使用为该芯片提供了方便可靠的测试方案。     

面向最大串扰噪声的测试生成方法

随着特征尺寸进入纳米尺度,相邻连线之间的电容耦合对电路的影响越来越大,并可能使得电路在运行时失效.为此提出一种面向受害线上最大串扰噪声的测试生成方法,该方法基于多串扰脉冲故障模型,能够有效地模型化故障并生成合适的向量.为了能够激活尽可能多的侵略线以造成受害线上的最大脉冲噪声,首先将测试生成问题转化为一个加权的最大可满足问题,再使用解题器求解,以得到测试向量;此外,将子通路约束加入到可满足问题的描述之中,以保证所有被激活的侵略线能够同时跳变.针对ISCAS89电路的实验结果显示,文中方法适用于较大规模电路的串扰噪声测试,并且具有可接受的运行时间.