片式元器件的脆断试验与断面观察

这一讲试图说明片式元器件脆断试验的试验内容和评价数据。脆断试验与拉伸试验相同,都是判定基板与元器件的连接可靠性的试验。     

含有限晶粒的微小接头的拉伸变形行为研究

采用了电子背散射衍射技术和在扫描电镜下原位拉神实验手段相结合的方法对Sn3．0Ag0．5Cu／Cu接头在拉力作用下的变形行为进行了研究。首先,利用电子背散射衍射技术分析了接头钎料表面的晶粒分布。其次,在原位拉伸实验中注意观察分析不同晶粒在拉伸过程中的变化。结果表明：试样接头钎料上晶粒个数有限。在拉力作用下,不同的晶粒中激活的滑移系不同,因而其塑性变形行为也不一样,这种不协调的塑性变形导致晶界处易产生裂纹。在变形过程中,钎料会出现动态回复,使晶粒碎化。某些碎化后的晶粒通过扭转使其晶体取向改变,新的取向使其变形变得更容易。这些晶粒会产生很大的塑性变形。     

变频调速在冷却塔风机上的应用

针对轴流风机在冷却塔水温调节应用中存在的问题,介绍了施耐德ATV61变频器在冷却塔水温自动调节改进中的应用。对其自动调节原理,及变频器所采用的控制方式进行说明,并对变频器在温度自动控制过程中所涉及到得参数、控制效果进行总结。     

预处理蓝宝石衬底上生长高质量 GaN 显示薄膜

采用化学方法腐蚀部分 c-面蓝宝石衬底,在腐蚀区域形成一定的图案,利用 LP-MOCVD 在此经过表面处理的蓝宝石衬底上外延生长 GaN 薄膜.采用高分辨率双晶X射线衍射(DCXRD)、光致发光光谱(PL)、透射光谱分析GaN薄膜的晶体质量和光学质量.分析结果表明,CaN 薄膜透射谱反映出的 CaN 质量与 X射线双晶衍射测量的结果一致,即透射率越大,半高宽越小,结晶质量越好;对蓝宝石衬底进行前处理可以大大改善GaN薄膜的晶体质量和光学质量,其(0002)面及(1012)面XRD半高宽(FWHM)分别降低到 208.80arcsec 及 320.76arcsec,而且其光致发光谱中的黄光带几乎可以忽略.     

一种应用于地铁站的无线乘客求助系统的研究

为了能使地铁站内乘客求助信息快速、可靠地传输,又方便系统的安装与维护,采用了单片机控制无线传输模块收发乘客求助信息的方案,并在无线收发模块之间添加中继器以增加传输的距离。进行地铁站内环境对无线信号衰减程度的分析,并设计了地铁站内无线乘客求助信息系统。该系统可以满足地铁站内环境下乘客求助信息的无线传输。     

蛋膜结构WO3纳米材料的制备及其H2S气敏性能

以鸡蛋壳内膜为模板,通过简单环保的液相浸渍技术结合煅烧工艺制备了具有蛋膜结构特征的WO<,3>纳米材料.利用XRD、SEM对其物相、结构进行了表征.结果表明:采用此方法制备的WO<,3>纳米材料为单斜晶相,且很好地复制了蛋膜的交叉网状结构.利用该材料制成气敏元件,并采用静态配气法测试了元件的气敏性能.研究发现:元件在2...     

采用新型可调谐有源电感的频率可调谐高Q低噪声的带通滤波器

对采用双回转结构交叉耦合差分有源电感(DGC-DAI)的可调谐、高品质因子Q和低噪声差分有源带通滤波器(THQLNA-BPF)进行了研究。输入级,采用差分共基-共射结构,以抑制噪声和获得高频特性;输出级,采用差分共集放大器,以获得高的驱动能力和高的隔离度;有源电感滤波网络,利用DAI电感值可宽范围调谐、高Q值和低的噪声,来分别实现BPF的中心频率的宽范围调节、高Q值和良好的噪声特性;进一步地,利用变容二极管网络改善BPF中心频率的可调性和提高Q值,利用有源可调负阻网络提高BPF的Q值和进行Q值独立调节。基于WIN 0.2μm GaAs HBT工艺,利用ADS对THQLNA-BPF进行性能验证。结果表明:中心频率可在1.68 GHz~4.32 GHz范围内调谐,调谐量达2.64 GHz;最大和最小Q分别达到83.6和33.6;噪声范围为6.04 dB~8.83 dB;在中心频率为3.69 GHz时,输入1 dB压缩点为-7.3 dBm,稳定系数μ>1;静态功耗小于18 mW。     

运动目标对SAR成像的影响

合成孔径雷达(SAR)是一种高分辨成像雷达。随着科技的发展人们对雷达分辨率的要求日益增高。基于SAR成像的基本原理分析了运动目标的特性,研究了运动目标对成像的影响,并给出了仿真结果。     

NDN中路由机制研究综述

命名数据网络（NDN）是未来互联网研究中一个具有代表性的结构。着重介绍NDN中一些路由策略,其中涉及NDN的基本结构及转发机制、现有路由策略的发展及优缺点,最后提出了路由机制方面进一步的研究方向。     

无线电吸波暗室的反射电平（上）

给出了天线方向图比较法和自由空间电压驻波比法两者的对照,这2种方法可用于评估无线电吸波暗室的反射电平。在分析这2种方法之后,指出了哪些参数会影响反射电平的测量值。通过实验结果的对照,揭示了为什么在采用这2种方法时会得到不尽一致和不相关联的结果,进而还表明当吸波暗室性能获得改进之后,如何利用反射电平来衡量这种改进。基于目前的研究成果,描述了吸波暗室性能的评估步骤。同时,还通过举例指出有必要开展进一步的研究,以便归纳出满意的评估步骤。