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在纳米工艺下,老化效应与软差错共同引发的集成电路可靠性问题至关重要,目前,考虑多个因素分析老化效应对软差错率影响的工作相对较少.作为一种典型的老化效应,偏置温度不稳定性(bias temperature instability, BTI)效应包括发生在PMOS中的负偏置温度不稳定性(negative bias temperature instability, NBTI)和发生在NMOS中的正偏置温度不稳定性(positive bias temperature instability, PBTI),现有工作多聚焦在单个因素在NBTI下的影响.在BTI作用下门延迟对软差错率(soft error rate, SER)的影响研究工作的基础上,进一步研究了单粒子瞬态(single event transient, SET)故障脉冲宽度和关键电荷对SER的影响.首先通过考虑PBTI,完善了在BTI作用下基于32nm工艺SET脉宽的变化模型;然后分别研究了如何在SER的计算中考虑SET脉宽和关键电荷的影响,提出了SET脉宽变化可以反映在模拟注入电荷量的变化上的结论.通过HSPICE仿真验证和C++实验表明:3个因素中延迟和SET脉宽对SER影响较小,受BTI应力影响SER将增大,应力作用初期影响最为明显,之后影响将变缓. 相似文献
103.
为满足更人性化的监护需求,减少患者家属的陪同时间和降低医护人员的工作难度,提出基于6 LoWPAN和模糊控制决策的实时输液监护系统设计方案,采用分层结构,将系统节点分为液滴检测节点、PTC加热器节点、HK 2000G心率传感器节点、SMTIR9902温度传感器节点、数据中转节点、网关节点和模糊控制终端节点7类.采用6LoWPAN技术,网关节点可方便地接入 IPv6互联网,便于数据的采集和传输.通过本系统,医护人员可在本地或远程获取病人输液及生命体征数据,方便及时更换吊瓶、拔针或追踪治疗,为病人提供更舒适、便捷和安全的医疗服务. 相似文献
104.
105.
云计算技术的发展和广泛应用对信息社会产生了巨大的影响,目前产业界对云计算人才需求巨大,但高校对于云计算人才的培养仍略显滞后。针对这个问题,系统地阐述云计算理论课程的内容体系和实验课程建设的思想、方法、内容,并介绍课程教学实践的过程和经验体会。 相似文献
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