数学形态学在核径迹图像识别中的应用

固体核径迹是一种常用的放射性方法,而粘连核径迹分割是固体核径迹测量分析中的一个难点.本文采用C 语言编程实现的数学形态学算法对固体核径迹图像进行处理,并在实际中应用.结果显示数学形态学算法能有效分割粘连径迹并能够准确有效地计数.     

一款基于硅光电二极管的数字γ辐射仪设计

CSI（Tl）闪烁晶体的发光光谱能与光电二极管的吸收光谱较好的匹配。采用CSI（Tl）晶体＋光电二极管探测器的数字辐射仪,与传统辐射仪相比,在体积、功耗和稳定性方面都有一定优势。通过数字电位器的使用实现了甄别阚值调节的数字化,使得仪器甄别阈调节更加精确。     

人脸检测及分割方法研究

人脸检测和分割是进行人脸分析和识别的重要组成部分,其目的是从复杂背景图像中检测出人脸的位置,并把人脸分割出来。虽然人们可以毫不困难地在复杂背景中检测和识别出人脸,但是要建立一套完全自动化的人脸和识别系统却是非常困难的。近年来随着计算机技术和图像处理方法的不断发展,出现了各种不同的人脸检测方法。应用了一种基于YIQ颜色模型的人脸检测方法,并且利用惯量最小化原理进行人脸图像的姿态调整,然后进行分割提取。试验结果表明,该方法能较好地从复杂背景中检测出人脸区域并能较完整地分割出人脸。     

新型便携式微机多道γ能谱仪的研制

介绍了一种新型便携式微机多道γ能谱仪,该仪器由低本底γ射线探测器、温度补偿及特征峰稳谱电路、多道ADC、嵌入式微功耗计算机等组成。仪器中使用无"参考源"稳谱技术,从而实现γ能谱测量,其测量的能量范围为50～3000keV,对天然的铀、钍、钾元素的检出限分别为0.8×10-6、1.5×10-6、1.4×10-3。主机3.4kg(含电池1.2kg),探头0.6kg,适用于野外现场和室内对各种物质的γ能谱测量。     

数字电路测试实验系统设计探讨

为了满足数字电路故障诊断的测试需求,根据边界扫描测试标准IEEE1149.1设计了数字电路测试主控系统。系统以FPGA为控制核心,利用计算机的USB总线控制JTAG总线,实现对被测数字电路的测试。该系统能控制四路JTAG总线,且引入了FIFO以提高边界扫描的测试速度。对FIFO、USB总线及JTAG总线的控制等均在一片FPGA中实现,硬件结构简单,体积小。实验证明,用该系统可对支持IEEE1149.1标准的数字电路的状态进行控制和捕获,能方便高效地完成对数字电路的测试。     

高压互感器局部放电原因分析

局部放电水平是高压互感器的一项重要性能指标。局部放电量过高,会危及电气设备的使用寿命,造成安全隐患。因此,必须分析局部放电故障的原因以防止故障发生。在局部放电产生的诸多因素中,由合格的绝缘材料加工而成的零配件导致的局部放电超标这类问题的真正原因在排查过程中是较难被发现且又极易被忽视的。笔者通过举例详细介绍了局部放电故障的分析及排查方法。     

点源γ光子穿越特定形状屏蔽层的Monte Carlo计算与模拟

采用Monte Carlo方法对点源γ光子穿越球壳形屏蔽层的问题进行了蒙特卡罗计算与模拟,并用VC 编写了软件对光子运行过程进行模拟,通过对模拟结果γ能谱的分析,显示模拟结果能较好地反映实际光子的运动过程。利用所编软件对不同材料不同厚度的介质进行模拟,可得出厚度为4cm的铅做介质对光子的屏蔽效果较好。     

点源γ光子穿越特定形状屏蔽层的Monte Carlo计算与模拟

采用Monte Carlo方法对点源γ光子穿越球壳形屏蔽层的问题进行了蒙特卡罗计算与模拟,并用VC 编写了软件对光子运行过程进行模拟,通过对模拟结果7能谱的分析,显示模拟结果能较好的反映实际光子的运动过程.利用所编软件对不同材料不同厚度的介质进行模拟,可得出厚度为4cm的铅做介质对光子的屏蔽效果较好.     

嵌入式系统的发展与展望

IT产业高度发达,嵌入式系统功不可没,以至于无处不见嵌入式系统;嵌入式系统家族庞大,涵盖内容广泛,涉及学科多样,了解其家族成员及发展历史,正确理解其概念体系及发展趋势,对于今后的"智慧地球"具有重大意义;总结了国内外的相关文献,概述了嵌入式系统的体系结构,分析了所面临的挑战,讨论了与相关技术的关系,最后展望了发展前景。     

蒙特卡罗方法计算γ射线衰减系数的修正参数

研究窄束γ射线衰减规律试验中由于源的发散性引起的误差,提出相关的修正参数(A),选用蒙特卡罗方法进行模拟计算,分别模拟点状源模型和单向源抽象模型,得出A的变化规律.为进一步研究试验环境下其他因素对衰减系数的影响以及用实测数据进行γ场的理论计算、γ射线衰减规律的工业应用等提供参考.