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41.
在硅酸钠的分析中涉及到氧化钠、二氧化硅含量的测定。本文主要介绍了用硅氟酸钠容量分析法测定二氧化硅含量的方法,并进行了测量条件的选择。本法测定的准确度较高,与国家标准法(GB-4209-84)相比,具有终点明显、精密度好的特点,因而可用于生产实践。 相似文献
42.
三网融合的新形势给广电行业的发展带来了新的机遇和新的挑战.在国家“三网融合”的大背景下,广电发展充满着变数与博弈.大力发展广电新媒体,促进新老媒体的“相互融合、相互促进、共同发展”,是目前广电发展改革之路的新目标.如何通过改革来武装自己,如何来迎接新的挑战,如何把握好新的机遇是一个值得思考和共同探讨的重要课题.面对三网融合,我们必须要用创新的理念、推动网络和技术的革新,借三网融合的契机而形成我们自己的核心竞争力. 相似文献
43.
最近几个月,无论是九城还是久游网,为了一个<劲舞团>,都多少有点闹心.九城是得而复失,原本一个借"机"下蛋的好买卖,最终竹篮打水一场空,成了镜花水月.久游网是失而复得,本来归属权很明了的一个游戏就因此变得多少有点悬念.而就在这失而复得的空档中,久游网暂停了上市日本的计划,闹出了和韩国T3公司之间所谓的账务纠纷,闹得沸沸扬扬.虽然它一再澄清,但名誉有些受损,经济受困.尽管最后总算拿回了失去的东西,也将恢复在日本的上市计划,但中间的一番波折已经让久游网承受了太多压力和冲击. 相似文献
44.
45.
为提高Insb面阵探测器的探测率,需要借助背减薄工序把Insb光敏元芯片从300tzm减薄到10μm,这一过程通常决定了面阵探测器的成品率。为了解面阵探测器在背减薄工序中的形变规律,针对典型器件结构,借助ANSYS软件,基于等效建模思路,建立了适用于Insb面阵探测器的三维结构模型,调整Insb光敏元芯片厚度,模拟探测器形变特征及分布随背减薄工艺实施过程的变化规律。模拟结果表明:当InSb光敏元芯片较厚时,面阵探测器的整体形变以弯曲变形为主,其中心区域上凸明显;随着InSb光敏元芯片逐步减薄,其中心区域的上凸变形逐步弱化,当InSb光敏元芯片厚度减薄到12μm时,探测器上表面屈曲变形占优,且随着Insb光敏元芯片厚度的减小而愈加清晰可见,此时探测器整体弯曲变形很弱。 相似文献
46.
纯哑锡表面的晶须特性已经成为IC封装中无铅焊接工艺实施的主要影响因素之一。由于其它替代方法,例如预先在引脚上镀Ni/Pd/Au层,会导致成本无法预估以及可靠性下降等问题,因此,目前的关注点是进一步减少纯锡表面须状晶体的生长。 相似文献
47.
随着科学技术的飞速发展,电子、邮电通讯、航天航空等高新产业的迅速崛起,尤其需求电子仪器仪表和设备等电子产品日趋小型化,多功能及智能化。 高密度集成电路(HIGH DENSITY IC已成为电子工业对上述要求中不可缺少的器件。这种器件具有线间距短、线细、集成度高,运算速度快,低功率,低耐压和输入阻抗高的特点,因而导致这类器件对静电越来越敏感,称之为静电敏感(ESDS)器件。 相似文献
48.
49.
50.
随着运营商进入全业务时代,竞争日趋激烈.传统语音业务用户数量和收入增长日趋减缓的情况下,三大运营商纷纷将目光瞄向了集客专线业务.专线业务是业务创新和新技术应用的重要通道和平台,是保持业务收入增长的源泉.本文对某运营商专线业务进行分类,并对传送网建设方案进行研究. 相似文献