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71.
现代电子工业Cpk评价中的特殊问题 总被引:2,自引:0,他引:2
现代电子工业生产具有许多新的特点,如果不针对具体情况,均采用传统工业生产中广泛使用的常规方法计算其工序能力指数,评价生产工艺水平,将可能导致错误的结论。总结了电子工业生产中工艺参数的典型特点,并讨论了工序能力指数的正确计算方法。 相似文献
72.
相位差的测量在电子战测向侦察领域具有重要的意义。对两路信号进行FFT后可提取相位差,用这种方法可以在较低信噪比下实现相位差的高精确度提取,并且具有分离同时多信号的能力。 相似文献
73.
74.
本文首次将小波分析的方法应用到SAR(Synthetic Aperture Radar)射频干扰抑制中,提出了基于小波包分析的自适应干扰抑制方法,利用小波包变换的多分辨分析能力和良好的时频局部化特性,实现了SAR射频干扰的自适应抑制.通过干扰抑制仿真实验,验证了方法的正确性和有效性. 相似文献
75.
76.
二端子有源矩阵LCD研究进展 总被引:2,自引:0,他引:2
首先介绍了传统的各种类型的二端子有源矩阵液晶显示的工作原理、结构和制作工艺。进而介绍了一种优于传统二端子模式的Lechner二极管有源矩阵液晶显示模式,并介绍了此模式的工作原理、研究现状、研究意义及发展态势.传统二端子模式都存在各自的缺点,不能很好地满足AM-LCD对于二端子器件的要求,用于AM-LCD都无法很好地达到预期目的。而Lechner二极管有源矩阵液晶显示模式,相对于其他二端子模式,只需使用二极管的正向特性,对阈值电压的要求降低,工艺更简单,图像显示质量更好,并且较易实现大屏幕显示。在目前TFT-LCD处于主导地位的情况下,通过对二端子有源矩阵液晶显示,特别是Lechner二极管二端子有源方式的研究,也许在不远的将来,实现降低AM-LCD生产线成本,简化大屏幕AM-LCD制作工艺将不是梦想。 相似文献
77.
通常在安全处理系统中,微处理都将密钥储存在静态随机存储器(SRAM)中,如果SRAM的数据在断电后确实完全丢失,那么采取这样的对策是非常安全的,但是SRAM在断电后存在数据残留的问题,是系统的一个重大安全隐患。针对信息系统的安全性,用实验方法进行了SRAM数据残留特性的研究,确定了多种SRAM数据残留的临界温度点,建立了数据残留时间与温度的相关关系,进行了数据残留特性与电参数的相关分析,提取出数据残留特性的特征电参数待机电流Iddsb,有助于进一步研究SRAM数据残留机理。 相似文献
78.
79.
多光谱和SAR遥感图像融合分类的特征选取 总被引:5,自引:0,他引:5
针对多光谱和SAR遥感图像特征层融合分类的特征选取问题,以Landsat卫星的TM图像和JERS-1卫星的SAR图像融合分类为例,给出了一种基于Rough Set理论的最佳分类特征选取方法. 相似文献
80.