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SN74ACT8990作为测试总线控制器,主要用于测试数据的交互,是基于边界扫描技术的数字电路测试的核心部件;为了解决上述新兴测试技术在实际应用方面研究的不足,首先介绍了芯片的功能、基本结构以及工作原理;从硬件电路和程序设计两个方面,分别详细地介绍了一个典型的基于SN74ACT8990边界扫描测试系统的设计方法及过程;最后利用测试指令扫描和互连测试对设计的浏试系统进行了功能验证;结果表明,在数字电路测试中,采用基于SN74ACT8990的边界扫描技术能够准确地定位故障,并能初步判断故障类型,具有较高的测试效率和广阔的应用前景. 相似文献
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针对目前大多数的低秩张量填充模型存在稀疏过约束而导致恢复数据的细微特征被忽略的现象,本文借助低秩矩阵分解和框架变换,引入软阈值算子的■范数正则项,提出一个基于近似稀疏正则化的低秩张量填充模型.为有效地求解该模型,我们将■范数改写为具有非线性不连续权函数的加权■范数,并用连续权函数逼近不连续权函数,在此基础上设计块逐次上界极小化的求解算法.在一定条件下,证明该算法的收敛性.大量实验表明,本文所提出的算法比现有一些经典算法能更好地重建得到图像的局部细节特征. 相似文献