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由于价廉实用的缘故,现在拥有RSB接口的移动硬盘的朋友很多,在使用中经常会碰到各种各样的问题,下面就和大家一起探讨一下.分析各种可能出现的原因,并提出有效的解决方法。 相似文献
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闵应骅 《计算机辅助设计与图形学学报》1990,2(3):51-60
集成电路技术的快速发展带来了集成电路芯片测试的困难。可测试性设计(DFT)技术被提了出来。这些技术的主要缺点是影响电路性能,而且要求长的连续测试方法。本文给出容易产生测试(ETG)电路的概念。ETG电路是这样一种电路,产生它的完全测试集的计算复杂性与电路大小成线性关系。本文首先解释了ETG与其他DFT方法的区别,然后简单地描述了ETG组合电路、ETG时序电路,特别详细地介绍了ETG PLA。给出了把给定PLA修改为ETG PLA的算法,以及一些新的实验结果。ETG PLA作为ETG电路的一个例子说明了ETG技术的可行性。 相似文献
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吴起 《电视字幕·特技与动画》2002,(3):23-23,26-30
Nurbs是一种非常优秀的建模方式,高级三维软件都支持这种建模方式.Nurbs能够比传统的网格建模方式更好地控制物体表面的曲线度,从而能够创建出更逼真、生动的造型.Nurbs曲线和Nurbs曲面在传统的制图领域是不存在的,是为使用计算机进行3D建模而专门建立的,在3D建模的内部空间用曲线和曲面来表现轮廓和外形.由于这种建模方法特别适合制作卡通,所以在当今电视广告的角色以及虚拟主持人制作上运用非常广泛. 相似文献
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某些大型电路的测试产生可能是非常困难的。本文定义一种容易产生测试的可编程序逻辑阵列(ETG PLA),它不需要单独的测试产生手续,只要在测试时实时地产生测试,就可以查出所有单故障和同一阵列、相同模式的多故障。本文给出的方法,将一个PLA适当增加一些乘积线和输出线就可变成ETG PLA。 相似文献
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Boolean process 总被引:6,自引:0,他引:6
Boolean algebra successfully describes the logical behavior of a digital circuit, and has been widely used in electronic circuit design and test With the development of high speed VLSIs it is a drawback for Boolean algebra to be unable to describe circuit timing behavior. Therefore a Boolean process is defined as a family of Boolean van ables relevant to the time parameter t. A real-valued sample of a Boolean process is a waveform. Waveform functions can be manipulated formally by using mathematical tools. The distance, difference and limit of a waveform polynomial are defined, and a sufficient and necessary condition of the limit existence is presented. Based on this, the concept of sensitization is redefined precisely to demonstrate the potential and wide application possibility The new definition is very different from the traditional one, and has an impact on determining the sensitizable paths with maximum or minimum length, and false paths, and then designing and testing high performance circuits 相似文献
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