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测量不确定度是与结果相关联的参数,表征合理赋予的被测量之值的分散性。在测量过程中存在许多可能引起测量结果的不确定度分量,这些分量一般应为服从各种分布的随机变量,当随机变量出现非正态分布时,用常规方法求解会产生较大偏差。本文介绍的Monte-Carlo法是利用计算机模拟生成服从各种分布规律的随机数并行统计分析处理,可合理解决测量不确定度评定过程中较为广泛的问题。 相似文献
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基于BSIM3的超深亚微米器件建模及模型参数提取 总被引:2,自引:0,他引:2
对适用于超深亚微米电路模拟的 MOSFET器件模型进行了研究 ,完成计入量子效应、多晶硅耗尽效应等基于 BSIM3的 MOSFET模型。针对阈值电压模型以及 I- V模型中的参数编写了模型参数提取程序 ,采用最小二乘法原理 ,并采用麦夸脱算法以降低参数提取结果对初值的依赖 ,对已有参数进行了修正。模型以及参数提取结果都分别进行了验证。 相似文献
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