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CMOSIC内形成的寄生可控硅由于外部噪声引起的导通现象称之为锁存(Latch up)现象。由于这种现象的存在引起CMOS集成电路的误动作或损坏,因而成了CMOS集成电路制作的一个重大问题。作者分析了这种现象并发现,导通条件不能用以往的等效电路加以充分说明,找到了新的等效电路并求得了它的导通条件。结果表明,作为防止CMOSIC的锁存方法之一是用n~+扩散减小寄生可控硅内的横向pnp管的基极电阻值。这种方法对于在不增加芯片面积和追加新的制作工艺方面来说是最有效的方法。并且,作者发现,过去不能观察实际集成电路芯片上的锁存现象发生的场所。现在,若用胆甾醇液晶的光学性质就能观察芯片发生锁存现象的场所。利用这些结果设计的CMOS集成电路,施加脉冲电压进行测试,即使施加300V(脉冲宽度为1微米)以上的脉冲也没有发现锁存现象发生。并且发现,抗噪声电压取决于pn结的二次击穿电压值。 相似文献
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一、绪言 铝合金在熔融状态容易生成氧化物,同时因吸收氢气,所以在铸件中容易产生氧化物和气孔等缺陷。这些缺陷,使铸件的机械性能恶化。因此,铝合金在熔化、铸造时,必须防止产生和卷入非金属夹杂物以及产生气孔。防止气孔的措施,过去曾采用除气和吹入气体除气的方法。最近,也有采用真空除气的。对于非金属夹杂物,过去采用熔剂防止氧化物的生成。现在去除铝合金中非金属夹杂物,作为重要课题提出来了,特别关注使用氧化铝颗粒、玻璃纤维网等过滤方法来去除溶液中的夹杂物。并正在研制各种各样的过滤装置。采用这种处理溶液的方法,不仅是提高溶液质 相似文献
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(原载《实务表面技术》(日文)1974年9月号~1975年3月号) 我们从现在开始连载几期主要是关于电镀方面的讲座,内容不讲具体的电镀配方,而是全面地概述电镀,在这几讲当中关于理论部分给予简单的解释,这时仍旧使用了以前在《电化学入门》中使用的理论。电镀理论这一名词不知道是否有,然而作者的立场是如上所述。因而第(一)节叙述平衡电位、极化、过电压,研究它们和电镀的均镀能力的关系。 相似文献
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关于中国在烟草上引进地膜覆盖栽培的问题 总被引:1,自引:0,他引:1
一、前言据我所知,中国山东省、河南省在战前就引进美国的烟草品种,是优质烟的产区。前几天从日本专卖公司职员处得知,解放后由于引进了苏联技术,栽培方法和烟叶调制方式发生了变化,据说烟叶品质发生了很大变化。在日本,根据专卖法规定,烟草虽是农作物之一, 相似文献
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党的领导是统帅,一切工作都必须在党的领导下,按照党的政治原则方针政策办事,都必须贯彻尽速建设社会主义的方针,必须贯彻多、快、好、省;力争上游、勤俭治国的路线,任何领导者都不能当迷失方向的虚头实业家,也不能当不问业务的空头政治家,都必须把政治思想工作放在首要地位,贯彻七分政治三分业务的领导原则。对每个人说 相似文献
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由於大型铸件断面的厚薄相差很大,冷却速率不一,而造成铸件的变形及表 面硬度不匀。为此,采用了很多方法(如加 水,把薄断面加厚等)来补救。虽 然化费了很多工时,但仍然未能解决。昆明机床厂在工作中虚心地学习并使用了苏 联的冷砖铸造的方法後,解决了上述的铸件缺陷,提高了机床的质量。简化了铸造 的工序,降低了铸件的成本。今特介绍如下,供各厂学习参考。 相似文献