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在已提出的二元体系超额焓分子热力学模型基础上,用体积分数表征溶液宏观组成以校正由于分子尺寸不同引起的分子之间特殊交互效应,推导出关联二元溶液超额焓的三参数改进模型.用近10年发表的有代表性的上百个二元非对称体系实验数据,主要是含不同分子尺寸、形状、结构组分的复杂体系实验数据,对所提超额焓改进模型进行了检验.结果表明,对含不同分子尺寸、形状、结构组分的非对称体系,改进模型的关联精度明显优于原模型.同时,在φ→0 或φ→1的极限条件下,改进模型同样成立. 相似文献
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0.13μm集成电路制造中的光刻技术研究现状及展望 总被引:5,自引:0,他引:5
郭宝增 《固体电子学研究与进展》2000,20(3):281-290
近三十年来集成电路的特征尺寸不断缩小 ,主要是由于光刻技术稳定发展而推动的。按美国半导体工业协会的推测 ,在以后的一些年内 ,集成电路的特征尺寸还会不断缩小 ,到 2 0 0 3年 ,0 .13μm集成电路将投入生产。有许多光刻技术可以作为生产这种电路的候选者 ,但这种集成电路最终由哪种光刻技术实现 ,目前还没有确定。文中介绍了其中的几种技术 (即 157nm光学光刻技术、X射线光刻技术和角度限制散射电子束光刻技术 )的研究现状 ,并对它们在 0 .13μm集成电路中应用的可能性进行了简单的评述 相似文献
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郭宝增 《固体电子学研究与进展》1994,14(2):101-107
单电子晶体管是几年前才发现的一种功能奇特的新型器件。围绕着这种器件工作机理的研究,逐渐发展了一门以库仑抑制模型为核心的崭新学科──单电子物理学。本文以单电子晶体管的发展为线索,介绍单电子物理学的主要内容及其研究现状。 相似文献
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线切割废砂浆资源化利用研究技术 总被引:1,自引:0,他引:1
研究了从单晶硅或多晶硅线切割加工硅晶片产生的废砂浆中回收碳化硅,同时生产白炭黑的工艺方法。该工艺包括对废砂浆进行预处理,酸洗除去其中的铁及金属杂质;然后,向其中加入高浓度氢氧化钠溶液,使其与砂浆中的硅反应生成硅酸钠,过滤得到纯的碳化硅,对硅酸钠溶液进行酸处理,得到絮凝状沉淀,干燥后即得白炭黑产品;最后,向酸洗液中加入一定量10%的石灰乳溶液,得到红褐色沉淀,干燥得到氢氧化铁产品。本工艺操作简单,可有效回收废砂浆中的碳化硅,同时利用处理后的废液副产白炭黑,进一步降低碳化硅的回收成本,减少污水的排放量,具有较好的经济效益、社会效益和环保效益。 相似文献
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白烟尘是铜冶炼过程中产生的固体副产物,其中含有Cu,Zn,Pb,Au,Ag,Bi等有价元素,是潜在的资源。碱性浸出脱砷有工作环境好、适用范围广、能耗较低和技术手段丰富等优点,具有较好的工业化应前景,有望实现白烟尘中有价元素的综合利用。根据对铜冶炼过程白烟尘主要成分的赋存状态,采用氢氧化钠碱性浸出脱砷,As浸出脱除率保持在98%左右,渣含As降至1%以下,As与Cu、Pb、Zn等有价金属得以有效分离,采用石灰可以脱除碱浸液中As,以实现碱浸液中余碱的循环利用。 相似文献
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The inputs and clock signals combination sleep state dependent leakage current characteristics is analyzed and the optimal sleep state is examined in sub-65 nm dual Vt footed domino circuits. Simulations based on 65 and 45 nm BSIM4 models show that the conventional CHIL state (the clock signal is high and inputs are all low) is ineffective for lowering the leakage current and the conventional CHIH state (the clock signal and inputs are all high) is only effective to suppress the leakage current at high temperature other than the high fan-in domino circuits. For the high fan-in footed domino circuits at high temperature and most of footed domino circuits at room temperature, the CLIL (the clock signal and inputs are all low) state is preferable to reduce the leakage current. Further, the influence of the process variations on the leakage current characteristics of the dual Vt footed domino circuits is also evaluated. It is observed that the average leakage current is universally higher than the date reported in the normal corner and the CLIL state is the optimum choice considering the leakage current reduction and the robustness to the process variations simultaneously. 相似文献
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