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Kerber A. Cartier E. Pantisano L. Degraeve R. Kauerauf T. Kim Y. Hou A. Groeseneken G. Maes H.E. Schwalke U. 《Electron Device Letters, IEEE》2003,24(2):87-89
The magnitude of the V/sub T/ instability in conventional MOSFETs and MOS capacitors with SiO/sub 2//HfO/sub 2/ dual-layer gate dielectrics is shown to depend strongly on the details of the measurement sequence used. By applying time-resolved measurements (capacitance-time traces and charge-pumping measurements), it is demonstrated that this behavior is caused by the fast charging and discharging of preexisting defects near the SiO/sub 2//HfO/sub 2/ interface and in the bulk of the HfO/sub 2/ layer. Based on these results, a simple defect model is proposed that can explain the complex behavior of the V/sub T/ instability in terms of structural defects as follows. 1) A defect band in the HfO/sub 2/ layer is located in energy above the Si conduction band edge. 2) The defect band shifts rapidly in energy with respect to the Fermi level in the Si substrate as the gate bias is varied. 3) The rapid energy shifts allows for efficient charging and discharging of the defects near the SiO/sub 2//HfO/sub 2/ interface by tunneling. 相似文献
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Huang Yuying Zhong Weifang Qin Qinghua 《Computer Methods in Applied Mechanics and Engineering》1992,100(3):315-323
The postbuckling behavior of plates on an elastic foundation is studied by using the boundary element method (BEM). A new fundamental solution of lateral deflection is derived through the resolution theory of a differential operator, and a set of boundary element formulae in incremental form is presented. By using these formulae, the BEM solution procedure becomes relatively simple. The results of a number of numerical examples are compared with existing solutions and good agreement is observed. It shows that the proposed method is effective for solving the postbuckling problems of plates with arbitrary shape and various boundary conditions. 相似文献
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Zheng Jiao Minghong Wu Jianzhong Gu Zheng Qin 《IEEE sensors journal》2003,3(4):435-438
Zinc ferrite is a promising sensor material. In this paper, thin films of nanocrystalline zinc ferrite were deposited on alumina substrates by nebulization of a 0.01-M solution of a mixture of ZnCl/sub 2/ and FeCl/sub 3/ in ethanol (Zn:Fe=1:2) followed by pyrolysis and annealing in flowing air. The resulting films were characterized by X-ray diffraction and scanning electron microscopy, and the gas-sensing properties of as-deposited films were also investigated. 相似文献
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基于S5933的PCI总线与8051的接口设计 总被引:3,自引:0,他引:3
简要介绍了PCI总线的特点,重点介绍了AMCC公司推出的S593X系列的高性能接口控制器,并通过实践给出基于S5933的PCI总线和8051的接口设计技术。 相似文献
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农村电网的无功功率补偿 总被引:1,自引:0,他引:1
张晓琴 《重庆科技学院学报(社会科学版)》2002,17(3):35-37
阐述农村电网无功补偿的意义 .针对农村电网和农村用户的特点 ,提出在农网改造中 ,对各级电力线路 ,以提高农村电网的功率因数 ,保证农网安全、可靠和经济运行 .和电力用户进行无功补偿的方法 相似文献
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