首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   60135篇
  免费   6536篇
  国内免费   4570篇
电工技术   5415篇
综合类   5615篇
化学工业   8098篇
金属工艺   3554篇
机械仪表   4458篇
建筑科学   4844篇
矿业工程   1918篇
能源动力   1814篇
轻工业   4890篇
水利工程   1555篇
石油天然气   2409篇
武器工业   930篇
无线电   7286篇
一般工业技术   5946篇
冶金工业   2133篇
原子能技术   908篇
自动化技术   9468篇
  2024年   312篇
  2023年   864篇
  2022年   1780篇
  2021年   2586篇
  2020年   1964篇
  2019年   1498篇
  2018年   1642篇
  2017年   1943篇
  2016年   1711篇
  2015年   2668篇
  2014年   3252篇
  2013年   4056篇
  2012年   4605篇
  2011年   4952篇
  2010年   4602篇
  2009年   4478篇
  2008年   4406篇
  2007年   4148篇
  2006年   3804篇
  2005年   3051篇
  2004年   2336篇
  2003年   2000篇
  2002年   2063篇
  2001年   1829篇
  2000年   1350篇
  1999年   809篇
  1998年   473篇
  1997年   380篇
  1996年   350篇
  1995年   279篇
  1994年   211篇
  1993年   199篇
  1992年   161篇
  1991年   95篇
  1990年   94篇
  1989年   65篇
  1988年   54篇
  1987年   25篇
  1986年   31篇
  1985年   21篇
  1984年   6篇
  1983年   10篇
  1982年   15篇
  1981年   12篇
  1980年   13篇
  1979年   9篇
  1976年   3篇
  1973年   4篇
  1959年   9篇
  1951年   7篇
排序方式: 共有10000条查询结果,搜索用时 8 毫秒
991.
Voltage contrast (VC) has been a powerful tool for the failure analysis of integrated circuits and multichip module. As the packing density of printed circuit board (PCB) is increasing, conventional failure analysis methods to detect open or short circuit in PCBs are no longer adequate, and voltage contrast method could be a method for this purpose. However, unlike the cases of integrated circuits and multichip module, there are many areas in PCB that will produce serious charging effect when examine under the scanning electron microscope. One of the areas is the presence of solder mask on PCB.This work examines the feasibility of using voltage contrast for PCB failure analysis. Specially designed PCB is used for experimentation, and it is found that positive bias on one track and zero bias on another copper track provide a better image contrast as compared to negative and zero biases on the tracks. Also, the variation of the image contrast with different spacing between inter copper tracks has studied. It is found that the variation depends on the presence of solder mask and its location. The variation can be very different for negative bias case as compared to the positive bias case.Finite element analysis is also performed to explain the experimental observations. All the observations can be well explained by the charging effect of the solder masks. The charging effect of solder mask is indeed very significant in affecting the image contrast, and it could reduce the contrast to almost zero in some cases.  相似文献   
992.
深入研究了亚30nm CMOS关键工艺技术,特别是提出了一种新的低成本的提高空穴迁移率的技术--Ge预非晶化S/D延伸区诱生沟道应变技术,它使栅长90nm pMOS空穴有效迁移率在0.6MV/cm电场下提高32%.而且空穴有效迁移率的改善,随器件特征尺寸缩小而增强.利用零阶劳厄线衍射的大角度会聚束电子衍射分析表明,在沟道区相应的压应变为-3.6%.在集成技术优化的基础上,研制成功了高性能栅长22nm应变沟道CMOS器件及栅长27nm CMOS 32分频器电路(其中分别嵌入了57级/201级环形振荡器),EOT为1.2nm,具有Ni自对准硅化物.  相似文献   
993.
利用微机电系统(MEMS)技术,制作了一种128×1元柔性红外传感器阵列;首先在硅片衬底上生长一层PDMS柔性材料,然后再在柔性材料上利用MEMS技术制作红外传感器阵列.采用六轴微小器件试验台进行扭弯试验.在传感器的两端施加一定的力使其弯曲,然后测传感器不同单元的电阻.试验结果表明:所制作的柔性传感器阵列能经受多次弯扭,电阻值基本没有变化,柔性传感器在经过弯扭3 300次后,传感器本身的柔性材料并没有断.  相似文献   
994.
This paper studies a variation of a simple step-stress life testing in which the stress change time is random, and the test is subject to type II censoring. We assume that only two order statistics from the test are observed. The first observed order statistic is the stress change time from a low level stress to a high level stress during the testing, and the second observed order statistic is the final failure time when the test is censored. We first present the joint probability distribution of the two order statistics observed from the simple step-stress accelerated life test. Maximum likelihood estimates, and the method of moment estimates for model parameters based on the joint distribution are considered. We also present the exact confidence interval estimates for the model parameters based on various pivotal quantities, and demonstrate the estimation procedure by a simulated example.  相似文献   
995.
考虑反应堆压力容器在役期间可能发生的典型的过冷瞬态(大破口失水和小破口失水事故),针对不同的裂纹形式运用MSC Marc程序进行断裂力学分析,进而确定容器在哪种裂纹和哪种瞬态下最危险,分析中考虑了堆焊层对断裂分析的影响. 运用有限元法进行断裂力学分析结果与理论解进行比较,二者吻合较好.  相似文献   
996.
一种计算机网络脆弱性评估系统的设计   总被引:1,自引:0,他引:1  
以攻击图建模方法为基础,提出了一种综合利用网络安全评估工具、模型检验工具的计算机网络脆弱性评估系统的设计方案。给出了脆弱性评估系统的总体框架结构,分析了各模块的功能特点和结构组成。该脆弱性评估系统可以分析计算机网络系统的最薄弱环节、最隐蔽被攻击路径、最易被攻击路径和最常被攻击路径,可以有效指导计算机网络系统安全措施制定与改进。  相似文献   
997.
从Hurst参数的小波估计方法出发,介绍了平滑滤波后的网络基础(低频)流量和原始流量在自相似性质的上表现规律,探讨了低通平滑滤波对流量自相似性质的影响。  相似文献   
998.
本工作涉及充气飞行时间探测器的工作原理和实验测量结果。在不同能量(64、48和33MeV)下,利用充气飞行时间探测方法对同量异位素36S和36Cl进行鉴别,并与用传统的ΔE-E方法在相同能量下的鉴别结果进行比较。实验结果表明,在入射能量较高(Ei>40MeV)时,ΔE-E法的鉴别能力比充气飞行时间法的稍好些;在Ei<40MeV时,充气飞行时间法的鉴别能力比ΔE-E法的好,入射能量为20~40MeV时,充气飞行时间法能明显将36S和36Cl区分出来。  相似文献   
999.
张建宇  韩国柱  程力  陈明 《计算机仿真》2006,23(6):23-24,40
在对某型自行火炮机动转移的模拟过程中,在所建立的虚拟地形基础上,考虑自行火炮自身的机动能力,将地形坡度因素和机动时对目标点的偏移程度综合,建立了优选转移路线的多因素非线性模型,同时探索了利用自适应遗传算法求解该模型的方法,并对其中交叉概率和变异概率的确定进行了分析,最后通过实例计算验证了此方法的可行性.为进行自行火炮作战效能仿真时计算机动转移过程中的实时坐标提供参考.  相似文献   
1000.
基于Ansys的压电式四臂加速度计模拟分析   总被引:2,自引:0,他引:2  
介绍了压电式四臂微加速度计的工作原理,耦合场分析原理以及ANSYS软件在压电分析中的具体应用.以压电式四臂加速度计为例,使用ANSYS软件对其进行了静态,模态等分析,得出了压电层厚度、悬臂厚度、长度对加速度计灵敏度的影响.在模态分析中得出了加速度计的前三阶固有频率和与之对应的振动形态.本文的结果可以直接应用到加速度计结构的优化设计.  相似文献   
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号