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991.
Voltage contrast (VC) has been a powerful tool for the failure analysis of integrated circuits and multichip module. As the packing density of printed circuit board (PCB) is increasing, conventional failure analysis methods to detect open or short circuit in PCBs are no longer adequate, and voltage contrast method could be a method for this purpose. However, unlike the cases of integrated circuits and multichip module, there are many areas in PCB that will produce serious charging effect when examine under the scanning electron microscope. One of the areas is the presence of solder mask on PCB.This work examines the feasibility of using voltage contrast for PCB failure analysis. Specially designed PCB is used for experimentation, and it is found that positive bias on one track and zero bias on another copper track provide a better image contrast as compared to negative and zero biases on the tracks. Also, the variation of the image contrast with different spacing between inter copper tracks has studied. It is found that the variation depends on the presence of solder mask and its location. The variation can be very different for negative bias case as compared to the positive bias case.Finite element analysis is also performed to explain the experimental observations. All the observations can be well explained by the charging effect of the solder masks. The charging effect of solder mask is indeed very significant in affecting the image contrast, and it could reduce the contrast to almost zero in some cases. 相似文献
992.
深入研究了亚30nm CMOS关键工艺技术,特别是提出了一种新的低成本的提高空穴迁移率的技术--Ge预非晶化S/D延伸区诱生沟道应变技术,它使栅长90nm pMOS空穴有效迁移率在0.6MV/cm电场下提高32%.而且空穴有效迁移率的改善,随器件特征尺寸缩小而增强.利用零阶劳厄线衍射的大角度会聚束电子衍射分析表明,在沟道区相应的压应变为-3.6%.在集成技术优化的基础上,研制成功了高性能栅长22nm应变沟道CMOS器件及栅长27nm CMOS 32分频器电路(其中分别嵌入了57级/201级环形振荡器),EOT为1.2nm,具有Ni自对准硅化物. 相似文献
993.
994.
Chengjie Xiong Kejun Zhu Ming Ji 《Reliability, IEEE Transactions on》2006,55(1):67-74
This paper studies a variation of a simple step-stress life testing in which the stress change time is random, and the test is subject to type II censoring. We assume that only two order statistics from the test are observed. The first observed order statistic is the stress change time from a low level stress to a high level stress during the testing, and the second observed order statistic is the final failure time when the test is censored. We first present the joint probability distribution of the two order statistics observed from the simple step-stress accelerated life test. Maximum likelihood estimates, and the method of moment estimates for model parameters based on the joint distribution are considered. We also present the exact confidence interval estimates for the model parameters based on various pivotal quantities, and demonstrate the estimation procedure by a simulated example. 相似文献
995.
996.
997.
998.
本工作涉及充气飞行时间探测器的工作原理和实验测量结果。在不同能量(64、48和33MeV)下,利用充气飞行时间探测方法对同量异位素36S和36Cl进行鉴别,并与用传统的ΔE-E方法在相同能量下的鉴别结果进行比较。实验结果表明,在入射能量较高(Ei>40MeV)时,ΔE-E法的鉴别能力比充气飞行时间法的稍好些;在Ei<40MeV时,充气飞行时间法的鉴别能力比ΔE-E法的好,入射能量为20~40MeV时,充气飞行时间法能明显将36S和36Cl区分出来。 相似文献
999.
1000.
基于Ansys的压电式四臂加速度计模拟分析 总被引:2,自引:0,他引:2
介绍了压电式四臂微加速度计的工作原理,耦合场分析原理以及ANSYS软件在压电分析中的具体应用.以压电式四臂加速度计为例,使用ANSYS软件对其进行了静态,模态等分析,得出了压电层厚度、悬臂厚度、长度对加速度计灵敏度的影响.在模态分析中得出了加速度计的前三阶固有频率和与之对应的振动形态.本文的结果可以直接应用到加速度计结构的优化设计. 相似文献