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991.
喷嘴结构对高压射流特性影响研究 总被引:11,自引:0,他引:11
自20世纪70年代以来,高压水射流技术已在各工业领域逐渐得到了广泛应用,但迄今仍未能大规模采用,原因是还存在一些有待解决的问题,其中最为迫切的就是如何提高喷嘴射流效率、充分利用其能量的问题。喷嘴是水射流技术应用中获得高能量利用率的关键因素之一,其结构好坏直接影响射流质量。为充分发挥喷嘴最大效率,最大限度地利用水力能量,国内外有关专家从理论分析、数值计算和实验研究3个方面对喷嘴结构与高压射流特性的关系进行了研究分析,结果表明喷嘴结构对射流流动特性、冲蚀性能、空化现象等产生重要影响,指出提高喷嘴效率应当着眼于以下几个方面:加强基础研究;改变射流作用方式、将连续射流调制成脉动射流;充分利用空化空泡破裂压力,研制开发优质喷嘴,以期对拓宽水射流技术在工业中的应用有所帮助。 相似文献
992.
993.
994.
Jianying Li Shengtao Li Fuyi Liu M. A. Alim 《Journal of Materials Science: Materials in Electronics》2006,17(3):211-217
The post-sintering heat treatment on the current-voltage behavior of the ZnO-Bi2O3 based varistors is reported. It is suggested that only phase transition of the Bi2O3 is not alone responsible for the resulting electrical performance by these devices. The ambient condition influences the
performance parameters. Thus, incorporating the role of oxygen and zinc interstitial in the total device during the post-sintering
heat-treatment is accounted as responsible parameters for the ultimate performance. Two recipes are used in demonstrating
the effect of heat-treatment on the functional behavior of the devices. 相似文献
995.
钻井工程固井胶结界面研究现状 总被引:8,自引:4,他引:4
固井质量问题在石油勘探开发中备受关注,对特殊工艺井钻井、油水井开采寿命和勘探开发效益有直接的影响。对固井胶结界面的研究是从根本上提高固井质量的一项基础性研究工作。为了推动固井胶结界面研究工作的开展,分析了国内外近年来有关固井界面研究的文献,阐述了开展固井胶结界面基础研究工作的意义,着重分析了这一研究领域目前所采用的研究方法,以及提高固井界面胶结强度的主要途径。在分析文献的基础上,提出今后深入开展固井界面研究工作的重点是:1)继续完善研究方法;2)重视动态研究;3)从胶结界面的微观结构和钻井工程整体系统的角度开展研究工作;4)注重改善胶结界面水化产物的微观结构和钻井工作液之间的协调增强作用。 相似文献
996.
997.
公共娱乐场所消防安全现状及对策 总被引:1,自引:0,他引:1
卿婉丽 《消防技术与产品信息》2005,(5):22-23
从消防安全管理的角度,论述了公共娱乐场所消防安全存在的主要问题和如何进一步加强公共娱乐场所的消防安全工作 相似文献
998.
锝化学研究 Ⅸ.脑显像剂Tc~(Ⅴ)ON_2S_2类配合物结构稳定性和价态的研究 总被引:1,自引:0,他引:1
采用改进的CNDO/2法模拟了BAT类脑显像剂Tc(Ⅴ)O配合物价态的转换过程,发现N2S2类配体与Tc(Ⅴ)O核配位时,可能存在配位平衡离子X。在溶液中由于X离子的优先解络,瞬间存在+1价对称性99Tcm配合物,并且,它又自动向相对稳定的0价不对称性99Tcm配合物转换,在动态转换过程中,将导致仅有一个配位N原子保留一个质子,这与实验结果一致。采用键级削弱百分数概念,表征配位过程的二个配位N原子上保留程度,解释了Tc(Ⅴ)O核、Tc(Ⅴ)≡N核N2S2类配合物两个N-H键上质子保留程度不同的原因,为今后设计不同价态锝配合物结构提供理论依据。 相似文献
999.
金属矿山深热矿井气温的预测计算是一个难题,本文探讨了应用灰色系统预测理论来解决这一难题的新途径,并通过实例验证了该方法的可行性和有效性。 相似文献
1000.
半导体激光器到单模光纤耦合技术的现状及发展趋势 总被引:1,自引:0,他引:1
简要阐述了半导体激光器到单模光纤的耦合损耗来源,详细介绍和分析了耦合技术的发展和现状,并探讨了耦合技术的发展趋势。 相似文献