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甲基丙烯酸十二酯基二元共聚制备缔合减阻剂的合成与性能研究 总被引:1,自引:1,他引:0
在石油管道运输中应用最广泛的减阻剂是直链共聚烯烃类聚合物,但是其极易因分子链的断裂而使其分子量降低,以至失去减阻功能,即通常所说的剪切降解.本文主要合成一种新型抗剪切减阻剂,并对其合成方法、引发剂对聚合单体转化率的影响、缔合减阻剂减阻率及抗剪切性能的比较等进行了实验研究.研究结果表明:该合成反应温和同时反应过程易控制;其抗剪切降解性能好于直链共聚烯烃类高分子减阻聚合物;聚合物的减阻率随加剂浓度的增加而增加,但呈现上升变缓的趋势.同时随着加剂浓度的增加,剪切后加剂与未剪切加剂减阻率变化曲线呈现出吻合的趋势. 相似文献
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设计、制备了三个系列(不同Bi2O3与Sb2O3掺杂浓度)的ZnO基复合材料. 力学性能测试的结果表明, Bi含量(2%, 原子分数)保持不变, 随Sb含量(在合适的剂量范围内)的增大,由于基质ZnO晶粒减小, 陶瓷致密度增大, 所得材料的模量、抗弯强度以及断裂韧性均增大; Sb含量(3%, 原子分数)保持不变, 随Bi含量的增大, 由于基质ZnO晶粒增大、陶瓷致密度减小, 所得材料的模量、抗弯强度以及断裂韧性均减小.在设计组成范围内材料的最佳力学性能约为: 弹性模量114 GPa, 弯曲模量115 GPa, 抗弯强度120 MPa, 断裂韧性1.87 MPa×1/2. 相似文献
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The charge-pumping measurement technique was successfully applied to submicron (Leff = 0.35 μm) n-MOSFETs on ultra-thin (50 nm) SOI film. The hot-carrier-induced degradation is studied by examining the damages to both gate-oxide and buried-oxide (BOX) interfaces. We found that when stressed at maximum substrate current, interface-trap generation is still the primary cause for hot-carrier-induced degradation. Even for ultra-thin-film SOI devices, the hot-carrier-induced damage is locally confined to the gate-oxide interface and only minor damage is observed at the buried-oxide interface. The buried-oxide interface charging contributes less than 5% of the overall drain current degradation. 相似文献
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A heuristic algorithm of establishing a minimum coding nodes multicast tree on which a two-channel all-optical network coding scheme can be performed is presented.To minimize the coding nodes,the heuri... 相似文献
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目的建立大米中黄曲霉毒素、伏马毒素、雪腐镰刀菌烯醇、脱氧雪腐镰刀菌烯醇类毒素、玉米赤霉烯酮、赭曲霉毒素A、T-2毒素、HT-2毒素以及杂色曲霉毒素等16种真菌毒素便捷准确的液相色谱-串联质谱法。方法大米样品经粉碎均质后采用70%甲醇水溶液浸泡提取,通过PriboFastRM226多功能净化柱净化,利用液相色谱串联质谱的多反应监测模式进行测定分析,采用内标法定量。结果 16种真菌毒素均具有良好的线性关系(r0.99),3个加标水平回收率为85.2%~102.8%,相对标准偏差范围为2.05%~4.75%。在61件大米检测中,共有5件样品检出真菌毒素,检测到的真菌毒素有5种,其中雪腐镰刀菌烯醇、伏马毒素B_1、伏马毒素B_2、15-乙酰基脱氧雪腐镰刀菌烯醇各有1件样品检出,黄曲霉毒素B_1有3件检出,检出率为8.33%,检出的5种真菌毒素含量在0.69~71.47μg/kg,均未超过国家食品安全标准规定的真菌毒素限量标准。结论大米中真菌毒素的检出率低,含量符合国家标准要求,该检测方法准确、可靠、便捷,可适用于大米中多种真菌毒素的检测。 相似文献
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首次研究了TM模的光折变表面波,理论上分别推导了扩散机制下的TE和TM模式的光折变表面波的非线性波方程.通过数值计算分别得到不同传播常数下两种模式光折变表面波振幅空间分布.对TM模式表面波和TE模式表面波的特性进行了比较.讨论了背景光和暗辐照等参量对TM模式表面波的影响.研究结果表明TM模表面波由于晶体各向异性使得Ex、Ez两个光波电矢量分量数值上相差较大,表面波的能量主要集中于Ex分量上;并且Ex分量比Ez分量从表面到体内振幅衰减更快速,能量被更好地约束在表面;背景光和暗辐照可明显影响TM模式光折变表面波从表面到体内的衰减速度.TM模式表面波随传播常数、背景光和暗辐照等参量的变化的规律与TE模类似. 相似文献