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中国的三种非同步轨道卫星移动通信系统星座方案 总被引:6,自引:1,他引:5
本文介绍基于我国的三种非同步轨道卫星移动通信系统星座方案:低、中轨系统各有24和18颗星,轨道高度分别为1326和8035km,两系统各以5°和30°的仰角对我国的覆盖率为99.78%和99.96%;椭圆轨道系统12颗星,近、远地点分别为427和2906km,以7°和15°仰角对我国北纬20°以上地区覆盖率分别为97.90%和89.61%,若增加4颗中轨卫星,以15°仰角对我国的覆盖率为99.99%。 相似文献
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The purpose of this paper is to study the relationship between the oxygen concentration and brightness degradation in ZnS:TbOF green thin-film electroluminescent (EL) devices. The characteristics including crystallinity, optical, and electrical properties were discussed. The brightness-voltage (B-V) measurement results shelved that with higher oxygen-content in ZnS:TbOF phosphor layer, lower brightness was measured. It was consistent with the poor crystallinity, worse photoluminescent intensity, and easier to get moisture in the oxygen-rich (O/Tb>1) phosphor film. Furthermore, deep level transient spectroscopy (DLTS) measurements identified that when the O/Tb ratio was greater than 1, the oxygen-related deep hole traps EH1 and/or EH2 could be detected in the ZnS:TbOF phosphor layer. These E H1 and/or EH2 traps were believed to be the main killers for the brightness of the device since they capture most of the holes from the generated electron-hole pairs. This evidence strongly supports that the modified energy transfer model is more dominant than direct impact excitation during the luminescent process 相似文献
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适用于高速长途DWDM系统的色散管理线路 总被引:1,自引:0,他引:1
对于高速长途密集波分复用(DWDM)传输,必需采用各种各样的色散补偿、色散管理技术,其中,交替使用正负色散光纤构成色散管理线路(DML)是可行的解决方案之一,在国际上已经取得显著进展,正成为人们关注的焦点,国内在这方面的研究报道还少见.文章以高速长途DWDM系统对传输线路的性能要求为基础,综述了有代表性的3种不同类型的DML的特点和最新进展。 相似文献
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Qiang Xu Nicolici N. 《Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, IEEE Transactions on》2005,13(11):1275-1285
Extensive research has been carried out for test planning of core-based system-on-a-chip devices. Most of the prior work assumes that all of the embedded cores are wrapped for test purpose. However, some designs may contain user-defined logic or cores that cannot be wrapped due to area constraints or timing violations. This paper discusses how these unwrapped logic blocks can be tested rapidly by adapting the TestRail architecture, which uses only the test control mechanism and the test instructions available through the IEEE 1500 standard for embedded core test. A new test scheduling algorithm, which facilitates a concurrent test of both unwrapped logic blocks and IEEE 1500-wrapped cores, is proposed, and experiments show that it outperforms a previous approach when the available number of tester channels and/or the number of unwrapped logic blocks are small. 相似文献