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101.
Five-terminal silicon-on-insulator (SOI) MOSFETs have been characterized to determine the threshold voltage at the front, back, and sidewall as a function of the body bias. The threshold voltage shift with the body bias at the front and back interfaces can be explained by the standard bulk body effect equation. However, the threshold voltage shift at the sidewall is smaller than predicted by this equation and saturates at large body biases. This anomalous behavior is explained by two-dimensional charge sharing between the sidewall and the front and back interfaces. An analytical model that accounts for this charge sharing by a simple trapezoidal approximation of the depletion regions and correctly predicts the sidewall threshold voltage shift and its saturation is discussed. The model makes it possible to measure the sidewall threshold even when it is larger than the front threshold voltage 相似文献
102.
郝永明古建园林绘画作品另辟蹊径,难能可贵。郝永明的画,不仅给我国美术宝库增加了一份积累,也给古建园林艺术增添了珍贵的资料。 相似文献
103.
McIntyre H. Wendell D. Lin K.J. Kaushik P. Seshadri S. Wang A. Sundararaman V. Ping Wang Song Kim Hsu W.-J. Hee-Choul Park Levinsky G. Jiejun Lu Chirania M. Heald R. Lazar P. Dharmasena S. 《Solid-State Circuits, IEEE Journal of》2005,40(1):52-59
A 4-MB L2 data cache was implemented for a 64-bit 1.6-GHz SPARC(r) RISC microprocessor. Static sense amplifiers were used in the SRAM arrays and for global data repeaters, resulting in robust and flexible timing operation. Elimination of the global clock grid over the SRAM array saves power, enabled by combining the clock information with array select signals. Redundancy was implemented flexibly, with shift circuits outside the main data array for area efficiency. The chip integrates 315 million transistors and uses an 8-metal-layer 90-nm CMOS process. 相似文献
104.
105.
CMOS电路中抗Latch-up的保护环结构研究 总被引:5,自引:0,他引:5
闩锁是CMOS集成电路中的一种寄生效应,这种PNPN结构一旦被触发,从电源到地会产生大电流,导致整个芯片的失效。针对芯片在实际测试中发现的闩锁问题,介绍了闩锁的测试方法,并且利用软件Tsuprem4和Medici模拟整个失效过程,在对2类保护环(多子环/少子环)作用的分析,以及各种保护结构的模拟基础之上,通过对比触发电压和电流,得到一种最优的抗Latch up版图设计方法,通过进一步的流片、测试,解决了芯片中的闩锁失效问题,验证了这种结构的有效性。 相似文献
106.
107.
Jing Wang Walker D.M. Xiang Lu Majhi A. Kruseman B. Gronthoud G. Villagra L.E. van de Wiel P.J.A. Eichenberger S. 《Design & Test of Computers, IEEE》2007,24(3):226-234
Excessive power supply noise during test can cause overkill. This article discusses two models for supply noise in delay testing and their application to test compaction. The proposed noise models avoid complicated power network analysis, making them much faster than existing power noise analysis tools. can cause performance degradation and 相似文献
108.
建立企业内部网站是现代信息化技术提高企业管理水平的有效途径.从企业的需求与目的出发,设计开发了高效、实用、庄重大方的企业网站. 相似文献
109.
110.