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951.
利用我们自己研制的磁约束直流等离子体设备,在低气压(<1Torr)下。用Ar+H2+CH4的混合气体在基片上进行了沉积金刚石薄膜的工艺研究。利用扫描电镜和拉曼光谱对不同的进气方式所制备出的金刚石薄膜的形貌和质量进行了比较。结果表明。当在基片表面附近引入碳源气体和大约50%氢气时,可以大大提高薄膜质量。 相似文献
952.
953.
本文介绍了作者设计,调试的2.5Gbit/s光发送模块的工作原理、关键技术、典型性能参数,该模块通过控制激光器温度来稳定其中心波长,为波分复用系统的应用提供了具备稳定中心波长特性的光源。 相似文献
954.
锥形阀压电薄膜泵的初步研究 总被引:1,自引:2,他引:1
提出一种适应高频工作状态的压电薄膜泵结构,实步分析了所采用的锥形阀的工作原理与作用,设计了试验泵结构,加工了样机,通过试验证明了锥形阀的有效性,为进一步的研究打下了基础。 相似文献
955.
956.
分析了出瞳扫描方式扫描视场角与激光雷达光学系统参数的关系,认为最大扫描视场角比主天线望远镜静态视场角小,在信号过程线性的前提下,根据强度像的瑞利判据提出了扫描激光雷达角分辨率公式建议。对主要结论都进行了实验验证。 相似文献
957.
本文运用时域有限差分(FDTD)法模拟电磁波在TEMcell(横电磁波传输室)中的传输,并对之进行了三维分析,给出了TEMcell中TEM模场的横截面分布及纵向分布;计算了TEM模与高阶模的谐振频率;分析了TEMcell的上限可用频率。此结果对横电波传输室的设计和使用具有重要意义。 相似文献
958.
Shing Horng Lee Christina F. Jou Chien Ping Lee Cheng Chi Hu Jin Jei Wu 《Journal of Infrared, Millimeter and Terahertz Waves》1998,19(1):149-163
A frequency tunable active leaky-wave scanning antenna using Gunn-diode voltage control oscillator (VCO) as source is developed. The frequency tuning controlled by changing either the varactor diode dc bias or the Gunn diode dc bias is demonstrated. The measured scanning angle of active antenna is close to 15 degree as the Gunn VCO frequency tuned from 12.58GHz to 12.98GHz. To excite the first higher order mode of the microstrip leaky-wave antenna is fed asymmetrically. The dominant mode excitation has been successfully suppressed by adding a sequence of covered wire in the middle line of the microstrip leaky wave antenna. This is a prototype of frequency scanning antenna using two terminal device, which can be easily scaled up to millimeter wave frequency region. 相似文献
959.
960.
Molecular-beam epitaxial growth of HgCdTe infrared focal-plane arrays on silicon substrates for midwave infrared applications 总被引:1,自引:0,他引:1
T. J. de Lyon R. D. Rajavel J. A. Vigil J. E. Jensen O. K. Wu C. A. Cockrum S. M. Johnson G. M. Venzor S. L. Bailey I. Kasai W. L. Ahlgren M. S. Smith 《Journal of Electronic Materials》1998,27(6):550-555
Molecular beam epitaxy has been employed to deposit HgCdTe infrared detector structures on Si(112) substrates with performance
at 125K that is equivalent to detectors grown on conventional CdZnTe substrates. The detector structures are grown on Si via
CdTe(112)B buffer layers, whose structural properties include x-ray rocking curve full width at half maximum of 63 arc-sec
and near-surface etch pit density of 3–5 × 105 cm−2 for 9 μm thick CdTe films. HgCdTe p+-on-n device structures were grown by molecular beam epitaxy (MBE) on both bulk CdZnTe and Si with 125K cutoff wavelengths
ranging from 3.5 to 5 μm. External quantum efficiencies of 70%, limited only by reflection loss at the uncoated Si-vacuum
interface, were achieved for detectors on Si. The current-voltage (I-V) characteristics of MBE-grown detectors on CdZnTe and
Si were found to be equivalent, with reverse breakdown voltages well in excess of 700 mV. The temperature dependences of the
I-V characteristics of MBE-grown diodes on CdZnTe and Si were found to be essentially identical and in agreement with a diffusion-limited
current model for temperatures down to 110K. The performance of MBE-grown diodes on Si is also equivalent to that of typical
liquid phase epitaxy-grown devices on CdZnTe with R0A products in the 106–107 Θ-cm2 range for 3.6 μm cutoff at 125K and R0A products in the 104–105 Θ-cm2 range for 4.7 μm cutoff at 125K. 相似文献