首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   99917篇
  免费   8056篇
  国内免费   4304篇
电工技术   5663篇
技术理论   6篇
综合类   6283篇
化学工业   16622篇
金属工艺   6165篇
机械仪表   6974篇
建筑科学   8101篇
矿业工程   3411篇
能源动力   2913篇
轻工业   6303篇
水利工程   1668篇
石油天然气   7363篇
武器工业   806篇
无线电   10759篇
一般工业技术   11646篇
冶金工业   4907篇
原子能技术   1011篇
自动化技术   11676篇
  2024年   450篇
  2023年   1780篇
  2022年   3128篇
  2021年   4283篇
  2020年   3330篇
  2019年   2713篇
  2018年   2920篇
  2017年   3296篇
  2016年   3059篇
  2015年   4123篇
  2014年   4920篇
  2013年   5865篇
  2012年   6323篇
  2011年   6761篇
  2010年   5798篇
  2009年   5541篇
  2008年   5405篇
  2007年   5123篇
  2006年   5439篇
  2005年   4731篇
  2004年   3008篇
  2003年   2845篇
  2002年   2672篇
  2001年   2424篇
  2000年   2332篇
  1999年   2641篇
  1998年   2087篇
  1997年   1735篇
  1996年   1704篇
  1995年   1414篇
  1994年   1157篇
  1993年   739篇
  1992年   648篇
  1991年   438篇
  1990年   353篇
  1989年   303篇
  1988年   228篇
  1987年   150篇
  1986年   124篇
  1985年   71篇
  1984年   53篇
  1983年   44篇
  1982年   41篇
  1981年   28篇
  1980年   27篇
  1979年   16篇
  1972年   1篇
  1965年   1篇
  1959年   2篇
  1951年   1篇
排序方式: 共有10000条查询结果,搜索用时 0 毫秒
991.
Optical coherence microscopy is applied to measure scattering media‘s internal defect, which based on low coherence interferometry and confocal microscopy. Optical coherence microscopy is more effective in the rejection of out of focus and multiple scattered photons originating further away of the focal plane. With the three-dimension scanning, the internal defect is detected by measuring the thickness of different points on the sample. The axial resolution is 6μm and lateral resolution is 1.2μm. This method is possessed of the advantages over the other measurement method of scattering media, such as non-destruction and high-resolution.  相似文献   
992.
通过研究自适应天线旁瓣相消系统中相消比与信号相关性的关系,分析了模数转换(ADC)位数和模数转换速率对相消性能的影响,给出最佳相消比和ADC量化位数的定量关系;针对低采样速率导致的相消比下降,提出了基于sinc函数插值来改善相消比的方法,并分析了sinc插值截断长度与相消比的关系.仿真结果表明通过增加AD量化位数和采用sinc插值相消技术,可以明显地改善自适应天线旁瓣相消系统的性能.  相似文献   
993.
李冬海  党同心  赵拥军 《信号处理》2005,21(Z1):487-490
传统干涉仪测向采用模拟鉴相器,鉴相误差较大,而数字化鉴相器也仅仅是对输出相位差数字化,精度提高有限.本文提出了一种基于数字接收机的全数字化鉴相器进行测向的方法.经理论分析和仿真实验,该方法测向精度有很大提高,且可以实现同时多信号的分辨.  相似文献   
994.
赵晓晴  王娟娟  毋立芳 《信号处理》2005,21(Z1):382-385
本文研究并实现了小波变换,光照商图像与BP神经网络相结合对不同光照条件下的人脸图像进行识别的算法.运用小波变换方法对图像进行降维,运用光照商图像方法对图像进行预去光,运用BP神经网络进行人脸识别;同时讨论了BP网络输入矢量的标准化处理问题、网络隐含层神经元数选取问题,以及对Sigmoid函数和网络学习速率的改进问题.利用Yale Face Database B人脸数据库进行识别实验,结果表明,通过预去光,网络的识别率有了显著提高;本文设计的改进BP网络在与非改进网络得到相同识别率情况下,其收敛速度明显加快.  相似文献   
995.
基于连续性判别的并行帧同步系统   总被引:2,自引:0,他引:2       下载免费PDF全文
刘昭  金德鹏  曾烈光 《电子学报》2005,33(7):1177-1182
目前关于并行帧同步方案的研究大多是针对某种具体应用的,结论缺乏一般性.同时一些新出现的帧同步问题(如10G以太网中66B码的帧同步)具有一些新特点.本文提出了一种新的并行帧同步系统构成模式MCSCI,它采用连续性判别的方法进行同步码位搜索.当将MCSCI用于66B码帧同步时,和现有模式相比以较小的面积开销获得了最佳性能.本文在理论分析和计算机仿真的基础上,研究了一系列典型参数下新旧并行帧同步系统的性能,结果表明MCSCI具有广泛的应用前景.  相似文献   
996.
电扫描恒差比幅测向精度分析   总被引:2,自引:0,他引:2  
电扫描多波束恒差比幅测向体制在现代雷达截获接收机中有着广泛应用。他是由微波开关依次快速接通各个天线,通过比较相邻天线接收通道上信号幅度的大小来实现测向的。文章首先以任两个相邻天线和全向参考天线接收及信号处理过程,详细推导了电扫描恒差比幅测向方程。然后以该方程为基础,根据该方程中各个观测量相互独立的特点,方位测量误差的均方根值可由测向方程的全微分求得,并将其作为电扫描恒差比幅测向的精度,由该精度公式可以看出,电扫描恒差比幅测向有很高的精度,并且在不同的角度上,其精度保持稳定。  相似文献   
997.
介绍了一种离散Walsh函数的新型构造方法,然后给出了采用这种新方法设计的Walsh码发生器的电路框图,并给出了该设计的FPGA(现场可编程门阵列)器件实现方法,最后用Verilog HDL语言编程和QuartusⅡ开发软件进行了仿真验证.结果表明,该方法十分简便,电路结构简单,成本低,应用在CDMA(码分多址)通信系统中能明显减少带宽,提高频带的利用率,实用性好.  相似文献   
998.
VPN(虚拟专用网)的安全性是用户首要关注的问题。分析了MPLS(多协议标签交换)VPN的安全保障机制和核心网可能遇到的安全威胁,在此基础上提出了安全改进方案并进行了实验验证。在核心网中,BGP(边界网关协议)邻居间采用MD5(信息摘要算法第五版)鉴权机制,LDP(标签分发协议)邻居间采用GTSM(通用TTL安全机制)。该方案同时考虑了安全性与处理复杂度问题,经验证可以很好地加强MPLS VPN核心网的安全性。  相似文献   
999.
对InN薄膜在氨气氛下的高温退火行为进行了研究.利用XRD,SEM和XPS对样品进行了分析.结果表明,InN薄膜的结晶质量和表面形貌并不随退火温度单调变化.由于高温退火时N原子的挥发,剩下的In原子在样品表面聚集形成In颗粒.当退火温度高于425℃时,In原子的脱吸附作用增加,从而导致样品表面的In颗粒在退火温度高于425℃时逐渐减少.XRD和SEM结果表明In颗粒密度最高的样品具有最差的结晶质量.这种现象可能是由于In颗粒隔离了其下面的InN与退火气氛的接触,同时,金属In和InN结构上的差异也可能在InN中导致了高密度的结构缺陷,从而降低了InN薄膜的结晶质量.  相似文献   
1000.
采用变分方法研究GaAs/AlxGa1-xAs有限抛物量子阱中类氢杂质态能量和结合能随外电场和阱宽的变化关系.在计算中考虑了电子有效带质量和介电常数随空间坐标(或合金组分)的变化因素.结果表明,外电场对类氢杂质态能量和结合能均有明显的影响,并且这些影响随着阱宽的增大而增大.电子有效带质量和介电常数随空间坐标的变化效应使得类氢杂质态基态能量减小,结合能增大,此效应随着阱宽的增大明显变小.  相似文献   
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号