Cd1—yZnyTe晶片Te夹杂的观察

本文观察了Cd0.96Zn0.04Te晶片的8层红外透射分层域聚焦显微像,分析了各个层域的Te夹杂情况及Te夹杂密度,指出了找到CdZnTe较小夹杂密度层域面并用之来做外延HgCdTe衬底表面的方法。     

密集型色散管理模式中DM孤子传输特性分析

本文以经典色散管理孤子的传输特性为参照,研究了单信道40Gbit/s密集型色散管理系统内色散管理孤子的诸多传输特性,证实了密集型色散管理模式相对于经典色散管理模式的优势所在,同时给出了系统最佳传输性能与入射功率、分段数、以及脉冲初始宽度等因素的数值关系。     

Windows9X提速技巧

本文主要从软件和硬件等方面介绍了在windows9x操作系统下提高运行速度的几种方法.     

一种采用交错耦合VCO和高速前置分频器的频率合成器

文章提出了一种采用延迟单元交错耦合压控振荡器（VCO）和高速双系数前置分频器的锁相环（PLL）频率合成器设计方法。采用0．25μm的CMOS工艺模型,在Cadence环境下模拟,在相同级数情况下,设计获得的VCD比传统顺序连接的VCO速度快1．4倍;运用动态D触发器实现的双系数前置分频器,最高速度可达2GHz。该锁相环频率合成器在400MHz-1.1GHz的宽频范围内都能保持良好的相位跟踪特性,温度系数为886ppm/℃,电源反射比为3．3％／V。     

单片数字锁相环衬底噪声的SPICE模拟及分析

应用PSPICE及采用C语言自编的外部程序,对单片数字锁相环中衬底噪声耦合及衬底噪声对电路性能的影响进行了模拟和分析,有助于进一步理解衬底噪声以及衬底噪声对复杂的混合信号电路工作的影响。提出了实际应用中据此选择合适的衬底类型和相应的减小衬底噪声的方法。     

基于CPLD技术的雷达光栅扫描坐标变换器的设计与实现

雷达光栅扫描坐标变换器是雷达光栅扫描显示系统的关键部件.本文以Altera公司的FLEX10K系列CPLD为例,介绍了可编程逻辑器件的内部结构和性能特点.提出了一种基于CPLD技术的雷达光栅扫描坐标变换器,并介绍了其CPLD实现的过程及结果.     

光纤空间压电加速度计及其消噪技术的研究

设计了压电加速度计的机械结构,推导了加速度计的X,Y,Z方向的特性方程,给出了三自由度的频响测试结果,采用光纤传输和同步检波的方法,有效地消除了噪声干扰。     

PMN基铁电陶瓷电镀镍性能失效及恢复研究

针对铌镁酸铅（PMN）基弛豫铁电陶瓷电镀镍后性能失效行为,采用介温谱、绝缘电阻测量及高温退火方法进行了研究。实验表明,PMN基驰豫铁电镀镍后会出现介电常数下降、介质损耗和绝缘电阻增大,随电镀时间延长,试样失效程度增加。电镀失效试样经过500℃、2.5h空气退火后,性能完全恢复,分析认为,电镀过程中产生的活泼原子氢吸附在资体上,将瓷体中的某些金属元素还原,产生氧空位和自由电子,导致陶瓷电性能失效。而经过适当的氧化气氛退火后,失效试样被重新氧化,使得电性能恢复。     

硅基SiO_2光波导

在硅基上通过氢氧焰淀积的 Si O2 ,厚度达到了 2 0 μm;通过掺 Ge增加芯层的折射率 ,折射率比小于 1% ,并可调 ;用反应离子刻蚀工艺对波导的芯层进行刻蚀 ,刻蚀深度为 6 μm,刻蚀深宽比大于 10 ;波导传输损耗小于0 .6 d B/ cm(λ=1.5 5 μm) ,并对波导的损耗机理和测试进行了分析与研究 .另外 ,为实现光纤与波导的耦合 ,结合微电子机械系统技术 ,在波导基片上制作了光纤对准 V形槽     

针孔缺陷对集成电路功能成品率影响分析与仿真

对集成电路针孔缺陷引起功能成品率下降的模型进行了研究 ,给出了分析和仿真针孔功能成品率的两种计算方法—— Monte- Carlo方法和关键面积提取方法 ,这对集成电路成品率设计和分析是非常重要的