两段浸出锡冶炼烟尘中Zn、Cd与Cl的研究

富含Zn、Cd和Cl的锡冶炼烟尘,直接返回熔炼对粗锡直收率与质量会有十分不利的影响,所以在返回熔炼前需要进行预先除杂。试验通过两段浸出的方式分别脱出烟尘中的Zn、Cd和Cl三种杂质。结果表明,在优化试验条件下,一段水溶段有90.82%的Cd、95.78%的Cl和39.68%的Zn被浸出;再经二段硫酸浸出,Zn综合浸出率达79.83%,Cd综合浸出率达99.31%,Cl综合浸出率达96.02%。     

基于超细尾砂絮凝沉降浓密试验及研究应用

摘要：研究超细尾砂在不同配比聚丙超烯酰胺条件的絮凝沉降浓密实验,探索在不同给料速度、浓度及絮凝剂单耗条件下对料浆浓密效果的影响,借助物理实验参数进行对比回归分析获得最优匹配数据模型,对模型关系中涉及的参数进行正交试验优化设计,考察单因素及组合因素对响应值絮凝度的影响,建立多因素变化对浓度响应值的影响,进一步获得各元素最优条件的絮凝度值,依据函数模型拟合出响应最优值与元素之间的非线性关系,得到优化条件下以絮凝度为指标的各个元素影响作用大小。结果表明：①无动力浓密条件下料浆达到极限浓度絮凝剂参数确定为最佳添加量为30g/t,阴离子型絮凝剂XS、最佳料浆稀释浓度6.0%;②固体通量由0.127t/(m2?h)增加到0.360t/(m2?h)时,底流浓度表现出稳定的增长趋势,同步确定浓密处理量为0.3t/(m2?h);③回归方程及元素曲面响应关联结果的模型关联系数因子R2值为0.9978,证明模型因子各元素与响应结果紧密关联性较高;④提出了不同单耗絮凝剂对超细尾砂浓密的机理影响测试方法,将该测试方法成功应用到工程实际中。     

化学液气相渗透致密快速制备炭/炭复合材料(英)

探索了一种的炭／炭制备方法快速化学液气相渗透致密（ Ｃ Ｌ Ｖ Ｄ）,沉积时间３ ｈ 内可获得密度达１．７４ ｇ／ｃｍ ３ 的炭／炭材料。预制体为环形炭毡制件（１６０ ｍ ｍ ×８０ ｍ ｍ ×１０ ｍ ｍ ）,以液态低分子有机物（ Ｃ Ｙ Ｈ 和 Ｋ Ｅ Ｅ）作炭源前躯体,将预制体浸泡在液体炭源前驱体中,利用辐射加热,在预制体范围内造成由内而外的温度梯度。研究表明,在９００℃～１ １００℃沉积温度范围内,炭纤维表面最大沉积速率为 ６４ μｍ ／ｈ ,比等温 Ｃ Ｖ Ｉ的沉积速率 （０．１ μｍ ／ｈ～０．２５ μｍ ／ｈ）快２ 个数量级以上。同时,分析并提出了该方法快速致密多孔预制体的机理。     

脉冲激光薄膜制备技术

脉冲激光薄膜沉积是近年来受到普遍关注的制膜新技术。简要介绍了脉冲激光薄膜沉积技术的物理原理、独具的特点和研究发展动态,并介绍了采用脉冲激光薄膜沉积技术制备硅基纳米PtSi薄膜的结果     

啤酒锥型发酵罐温度分布实验研究及分析

利用传热学原理与流体力学原理,并结合啤酒发酵工艺,分析了实验数据,并得出结论：在啤酒发酵过程中,热扩散起主导作用;还分析了发酵各阶段罐壁与罐内发酵液的温差情况,以及环境温度,冷煤温度,酵母对罐壁面温度的影响。     

镀锡基板线状缺陷控制

采用扫描电镜对镀锡基板表面线状缺陷进行了分析,结果发现,造成镀锡基板表面缺陷的主要原因为保护渣卷入和氧化铁皮残留。通过对镀锡基板生产工艺进行分析,得出：控制连铸过程铝损不大于0.0050%、液面波动控制在±2.5mm、控制板坯入炉温度不小于200℃,合理控制连浇炉数,增大拉矫破鳞机弯辊插入深度,可以大幅减少镀锡基板表面线状缺陷的产生。     

滤光片及X射线二极管响应面均匀性研究

介绍了用于软X光能谱测量的滤光片及X射线二极管能量应均匀性研究。实验利用北京同步辐射装置3WIB束线,流强40－80mA的运行条件,在100－1600eV能区对滤光片及X射线二极管（XRD）作能响曲线标定。重点对C滤片及Al阴极XRD的灵敏面作能响面均匀性研究,最后给出响应面均匀性测量结果及计算分析。     

催化裂化再生设备应力腐蚀特征分析

调查分析了国内炼油厂催化裂化装置中再生器的应力腐蚀现状 ,结合兰州炼油化工厂重油催化裂化再生器的运行工艺和介质等参数 ,分析了再生器应力腐蚀的特征 ,并探讨了实际生产中有效的应力腐蚀防护措施     

B_2O_3—Al_2O_3—PbO玻璃组成和物化性质的研究

本文研究了B_2O_3—Al_2O_3—PbO玻璃中引入La2O3、SiO2、Sb2O3、Ga2O3后，TF光学玻璃化学稳定性及相对部分色散Pg·F。论证了B2O3－Al2O3－PbO光学玻璃光学性质，化学稳定性和结构关系。TF光学玻璃在3．5L铂坩埚中熔制。     

PID参数继电自整定的一种方法

介绍了ＰＩＤ调节器参数的继电自整定的基本原理。通过分析一阶惯住加纯滞后对象在继电特性作用下的输入输出持性，推导了计算对象特性参数的公式。利用这些公式进行辨识，从而整定ＰＩＤ参数。实验表明，这是一种行之有效的ＰＩＤ参数自整定方法。