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102.
硅控整流器SCR作为晶闸管常用于功率器件,具有再生性和从高阻态到低阻态切换的能力.因此合理设计的SCR能成为非常高效的ESD保护电路.文章介绍了SCR的基本机制,SCR、MLSCR、LVTSCR和SCR组合保护电路的结构,并介绍了具有更好ESD性能的设计和版图. 相似文献
103.
104.
文中论述了一种提高数模混合信号测试(基于DSP信号处理)精度的算法(以下称旋转数据算法),旋转数据算法是针对数模混合信号测试中异步采样的不连续性导致的频谱泄漏问题,而提出的消除频谱泄漏的算法。旋转数据算法的主要思想是:把数模混合电路的测试信号等效地看成由一个旋转向量在X轴上投影产生,当采样不连续时,采样数据经FFT变换... 相似文献
105.
106.
介绍了一种用于高速流水线ADC双沿采样的时钟占空比稳定电路。在传统占空比稳定电路的基础上,增加含连续时间积分器的反馈环路,并设计了时钟周期检测电路,同时可通过SPI配置积分器的参考电压,在片外调节芯片制造过程中产生的误差,并在前端增设一个高增益带宽时钟放大器,用来放大幅度很小(Vp-p<100 mV)的差分输入时钟信号。电路采用0.18 μm 1.8 V 1P5M CMOS工艺,可对频率范围为50~250 MHz、占空比范围为10% ~ 90%的输入时钟进行稳定调节,时钟峰-峰值抖动约为0.3 ps @ 250 MHz。 相似文献
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对于AC-DC电路测试,圆片测试(CP)一般采用开环测试的方法,测试项目较少,从而使CP的测试时间大大减少,提高了测试效率以及测试产能。CP测试的目的是测试基准电压以及输出波形等参数,并对相应参数进行工艺上的修调,使得这些参数达到中心值,保证芯片基本功能的准确;但CP测试并不是应用环境下的芯片状态,所以当AC-DC电路进行成品测试(FT)的时候,通过模拟芯片的应用环境来测试芯片在应用端的参数,从而确保芯片在工作环境中能正常应用,达到检测芯片的目的。主要介绍了AC-DC电路在闭环应用环境下各项参数的测试方法,确保电路功能的稳定性以及可靠性。 相似文献
110.
层次化设计是片上集成芯片开发采用的主流方法,它是一种自底向上的流程。但层次化设计也带来了时钟树设计难以掌握的问题。针对一款复杂So C系统芯片时钟树设计,详细分析了层次化时钟树综合需要解决的关键点,并提出有效的解决方案。实验表明该方案可以迅速实现时钟树收敛,提高设计效率。 相似文献