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31.
熔丝类电路的修调探索 总被引:1,自引:0,他引:1
随着熔丝在电路设计中的应用普及,测试环节对熔丝修调的要求也越来越高,对测试人员提出了更大挑战。修调熔丝的目的是为了获得更精确的电压或者频率,按照制造材料和工艺可分为金属和多晶硅两种类型。不同的工艺结构决定了不同电路的熔丝有不同的特性,修调时需要针对具体电路具体分析,选择适宜的修调方案,并且编写简洁高效的修调程序。文章介绍了常见熔丝的特性,总结几种常用的修调熔丝方法,并分析了这些方法的各自特点,同时对修调熔丝的程序算法做了探讨。 相似文献
32.
33.
时钟器件芯片可以实现通信网定时同步、时钟产生、时钟恢复和抖动滤除、频率合成和转换、时钟分发和驱动等功能。在系统设计中,选用好的时钟驱动芯片,可以省去系统时钟树设计,既节省空间,又提高系统性能。介绍一款高性能时钟驱动器的集成电路设计方法,主要性能要求有:低传播延时、低输出偏斜、低输出抖动、抗电磁干扰能力、抗ESD能力,一一详述了达到各项要求的设计。 相似文献
34.
35.
标记是器件的标识,其打印方法有油墨打印和激光打印两种方式,油墨打印具有方便、价格便宜等特点,而激光打印具有打印字迹清晰、存留时间长等特点。耐溶剂性试验、交变湿热试验和盐雾试验是可以用来检验集成电路标记的三种方法,采用该三种方法分别时经过油墨打印和激光打印的器件进行试验,针对在试验中器件标记失效现象进行了探讨,并得出了油墨质量、盖板镀层质量、固化不好等问题是影响器件标记的因素。最后,提出了解决标记问题的几种方法。 相似文献
36.
文章对亚微米自对准硅化物制造设备及工艺进行了详细的描述。文中以实际生产为目标, 以实验数据为依据,对影响自对准硅化物薄膜特性的各项工艺参数进行调试和论证,找出合适的RTP1 温度,并开发出适合自对准硅化物薄膜的工艺标准。 相似文献
37.
文中介绍了一种用于测试系统的分析方法,通过测试系统分析了解生产过程中使用的设备的变差,并对不合格的设备进行分析、改进,提高集成电路测试数据的真实性和准确性;减少产品在测试、检验过程中误判的可能性。 相似文献
38.
许居衍 《中国电子科学研究院学报》2006,1(3):215-218,222
从“硅技术是否已出现新的发展态势?”、“推动技术进步的模式是否在演变?”和“在这些演变中我们要注视些什么?”三个方面,探讨主流半导体技术(硅技术)发展阶段特点及其创新走向。分析指出,电子系统设计将在下一波硅技术进步中起着重要的作用,并以此为依据,讨论中电科技集团公司发挥综合优势,在我国电子技术领域中,发挥应有的主力军作用。 相似文献
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40.