K镜消像旋机构在海洋卫星水色仪中的应用

介绍了海洋卫星水色仪的K镜消像旋机构,分析了K镜消像旋原理,讨论了K镜转动机构在结构、转动轴系、谐振频率分配、力矩裕度、长寿命润滑以及驱动控制设计中解决的主要问题,并对K镜机构首次在轨应用结果进行了介绍.     

基于Microblaze的实时红外直方图均衡器

直方图均衡算法是红外图像处理中一种很有效的图像增强方法.在传统实时红外系统中,一般采用DSP FPGA的硬件结构实现该算法.以某红外系统为应用背景,利用Xilinx公司的SOPC技术--Microblaze软核微处理器,提出了一种SOC解决方案.     

基于透射变换和二维指向镜的大视场光谱成像研究

为了对大视场范围内的目标进行 光谱成像,人们通常采用二维指向镜和面阵凝视光谱仪相结合 的技术途径。当用二维指向镜对近距离目标进行成像时,在不同方位 角与俯仰角下产生的像旋和畸变等都不同,从而给后续处理带来了 困难。因此需要先建立目标实际坐标系、探测器图像坐 标系和俯仰方位角三者之间的光学传递模型。根据该 模型即可得到透射畸变图像与真实图像之间的变换关系。然后通 过透射变换对透射畸变图像进行正视校正,便可对 大视场图像进行拼接。外场实验结果表明,该方法可行性 强,简单易行,稳定性好。     

光电器件薄膜附着力评价方法的研究进展

薄膜与衬底的结合性能一直备受关注.在各种情况下,薄膜的性能都依赖于其与衬底的附着力大小.为了提高附着强度,需要深刻理解附着力的机理和开发合适的附着力测试技术.从基准附着力、热力学附着能和实际附着力三个不同角度提供了附着力评价途径.作为广泛使用的附着力粘接测试技术,拉脱法和压带剥落法等方法在大量样品测试方面具有独特优势,...     

地平仪用薄膜型红外热敏探测器的制备研究

红外地平仪是卫星姿态控制系统的重要设备之一,而热敏电阻红外探头又是 红外地平仪的一个关键部件,其质量会直接影响地平仪的性能和可靠性。随着近代空间技术的 不断发展,下一代红外地平仪对研制高可靠性、长线列的红外热敏探测器的需求日益迫切。近 年来,人们采用化学溶液法在制备锰钴镍氧(Mn-Co-Ni-O或MCN)薄膜材料方面取得了突破。该材料的 致密性远远超过陶瓷体材料,可以为长寿命、高可靠性的热敏器件提供一个很好的解决方案。而MCN 薄膜型探测器的类微电子制备技术也为实现长线列的多元热敏探测器奠定了基础。采用微 电子工艺制作了地平仪用锰钴镍薄膜型红外热敏探测器,并对其中的一些关键工艺(如刻蚀和 退火等)进行了颇有裨益的研究。这些新工艺和新方法对于实现薄膜热敏红外探测器在我国空间观测与遥感技术领 域的工程应用以及提高红外地平仪的可靠性和使用寿命都有着重要意义。     

基于AOTF型红外光谱仪的快速探测方法研究

目前,声光可调谐滤光片(Acousto-Optic Tunable Filter, AOTF)型红外 光谱仪已经受到了人们的广泛关注。光谱曲线的获取速度既取决于光谱采样点的数量,又 取决于光谱采样的速度。介绍了一种基于精密低噪声积分放大电路的电路设计方法。 与传统的锁相电路相比,该电路的采样速度较快,理论上可达到μs量级。根据上述理论, 在同一信号强度、不同积分时间下进行了数据采集,然后在不同信号强度、固定积分时 间下进行了数据采集。实验结果表明,该电路的采样速度可达到10² μs量级。     

户外直接测试太阳杂散光对相机影响的一种新方法

介绍了一种在户外直接测试太阳杂散光对相机影响的新方法。采用该方法时测试的点源透过率量级可达10-5,而且其造价远低于实验室的点源透过率测试设备,适用于大口径光学系统的杂散光测试。该杂散光测试设备包括顶部可开口的厂房、百叶窗、可调角度工装、挡板、机械手臂及待测相机。把待测相机放置在角度可调的工装上,在遮光罩口上安装百叶窗。测试时,太阳光直射进入相机,通过相机探测器的响应值直接评价太阳杂散光对相机的影响水平及分布。     

基于FPGA的高灵敏红外相机实时数据处理系统的设计

为满足红外相机的高灵敏度、实时性、小型化和集成化要求,采用384×288长波 红外焦平面探测器的四通道输出模式,以Altera的cyclone3系列芯片作为主控制器,并利用1块4 M大小的SRAM和 一块4 M大小的flash为辅助,设计了一套基于FPGA的图像数据处理系统。该系统通过指令控制能对图像背景进行 采集与消除、细分采样叠加和数字TDI处理等。该系统还具有推扫和凝视功能,由Verilog语言实现,可移植性强。 实验结果表明,该系统能够代替上位机对图像进行实时处理,得到高灵敏度的清晰图像。     

多靶双室磁控溅射机的研制

根据淀积高科技术课题所需的铂薄膜及淀积各种其它金属、合金和绝缘体薄膜的需要，提出了研制有良好均匀性、低沾污及有较好通用性的研究型磁控溅射设备的具体设计要求。在考虑了整个真空机组适当配置的基础上，对真空获得的抽速要求进行了设计计算。所研制设备的真空性能很好地达到了设计指标（最近国内有单位欲引进国外同类产品，所以将当年的研究情况作简单介绍）。     

本征α－Si：H中隙态的时间常数及俘获截面

制成一批本征α－Ｓｉ：Ｈ的金属－绝缘体－半导体（ＭＩＳ）结构；用高精密差分电容谱仪测量了这种结构在５０℃时的电容、电导谱；通过修正获得了由隙态决定的电导并求得了隙态俘获电子的时间常数及截面。