扫描隧道显微镜

1引言 1982年,IBM的G.Binning和H.ROhrer发明了扫描隧道显微镜(Scanning Tunneling Microscope:STM).这一发明标志着人类进入了直接观察原子、操纵原子的新时代,标志着在原子和分子水平根据人们的意愿设计、修饰、加工、创造新的物质结构与特性成为可能.两人因此于1986年荣获诺贝尔物理学奖.     

纳米结构Ag-TCNQ电双稳薄膜的制备及分析

采用真空蒸发和大气环境下后热处理的方法制备了纳米量级颗粒均匀的Ag-TCNQ薄膜。通过可见光范围透射谱、x射线衍射、原子力显微镜、傅里叶红外光谱以及x光电子谱等分析研究了薄膜的物理和化学性质，发现热处理可促使Ag和TCNQ发生充分的络合反应并减小薄膜的颗粒度，在此基础上利用STM实现了局城电双稳态的转变和纳米存储点的写入。     

用STM的纳米导电图形加工技术的研究

用STM针尖对有机络合物电双稳薄膜材料施加强电场作用 ,可在材料表面产生纳米线度的导电几何图形。实验证明 :对针尖本身的几何构形、施加在针尖上的脉冲幅度、周期和占空比都必须进行细致的选择。用Ag TCNQ络合物进行实验 ,在适合的针尖 样品距离下 ,发现所加脉冲偏压的极性为负时 ,容易进行加工     

透明导电IMO薄膜的载流子迁移率研究

采用van-der-Pauw法、等离子振荡波长法和光谱拟合法等三种方法对IMO(In2O3：Mo)薄膜和ITO(In2O3：Sn)薄膜的载流子迁移率进行了测量和比较。结果表明，IMO薄膜的载流子迁移率高达100cm^2V^-1s^-1以上，远超过已报导的其他掺杂透明导电氧化物（TCO）薄膜的载流子迁移率；IMO薄膜的载流子有效质量约为电子静止质量的0.35倍；IMO薄膜的高载流子迁移率主要是由载流子受到的散射作用较弱所引起。这无法用通常的掺杂TCO薄膜的载流子散射理论来解释，为此引入复合效应进行分析。在ITO薄膜中，每形成一个电中性复合粒子，就会使两个掺杂的Sn^4 失去贡献载流子的电活性；而在IMO薄膜中，即使一个掺杂Mo^6 与晶格间隙中的一个O^2-结合成复合离子后，该复合离子仍然会贡献出一个载流子，故薄膜中形成的电中性复合粒子数目较少，从而导致价态差为3的IMO薄膜中的电中性复合粒子对载流子的散射远低于价态差为1的ITO薄膜，因此，IMO薄膜有可能获得较高的载流子迁移率。     

增韧聚甲醛的研究

共聚甲醛和热塑性弹性体共混体系,当弹性体含量达到30%左右时,冲击韧性得到大大提高。力学性能和扫描电镜研究表明,体系为两相结构,增韧共聚甲醛的断裂面呈延性破坏。     

电化学合成聚噻吩结构的光谱和电子能谱表征

借助紫外-可见-近红外光谱,红外光谱,喇曼光谱等实验技术研究了电化学合成导电高分子聚噻吩(Polythiophene)材料在掺杂和非掺杂情况下的结构特征,说明了双极化子是这一类基态非简并的高分子的主要元激发。喇曼光谱和俄歇电子能谱还表征了掺杂离子在样品中的分布,掺杂离子处于高分子链的间隙中,且在深度分布上是均匀的。     

透射电子显微镜

1TEM的工作原理 透射电子显微镜(TEM)是一种现代综合性大型分析仪器,在现代科学、技术的研究、开发工作中被广泛地使用.     

快速氧化生长超薄硅氧化层的变入射角椭圆偏振研究

采用多角度椭圆偏振光谱测量，并结合一定的数值计算方法，首次同时精确测出了多种工艺条件下由快速热氧化法生长的超薄氧化层厚度与折射率，对该方法生长的氧化层厚度与氧化时间平方根的关系进行了研究并计算了氧化生长速率的温度激活能，同时也对薄氧化层折射率与氧化层厚度的关系进行了探讨．     

光纤编码技术在区域定位监控中的应用

提出了一种适用于光纤长距离环境监控的区域定位新方法.具体是利用布设在现场的传感光纤对区域环境振动实现实时记录,用白光干涉方法实现振动信号的提取和还原,用传感光纤的编码(排列组合),实现不同区域的定位.通过实验研究表明,该方法能对环境触发信号进行实时监控,并能确定信号所属区域.应用光纤编码技术实现区域定位,能有效减少光纤长距离监控系统的复杂程度,降低系统成本,有望在大区域、长距离的监控领域获得成功应用.     

提高电镀锌钢板耐指纹性的研究

电镀锌无铬耐指纹钢板在向高端家电用户推广过程中,出现了耐指纹性较差的问题.针对影响耐指纹性的因素,如干燥板温、涂料中树脂含量、树脂中SiO2含量、添加剂的组成及含量进行优化,找到可以明显提高耐指纹性的试剂组成,同时确保膜层的其它性能,如耐蚀性、耐黑变性、耐热性、耐碱性、耐溶剂性及涂装性等.