上近似在粗糙集约简中的应用

对粗糙集理论中不相容决策表的约简问题进行了研究.引入关联规则中支持度和置信度的概念,并重新定义了这两个概念.利用粗糙集中上近似概念的特点,提出一种将上近似用于不相容决策表的约简算法.通过一个实例介绍了该算法的基本步骤.算法对各规则能计算出各自的支持度和置信度,能实现对不相容决策表的约简.     

基于Spi演算的密码协议的控制流分析

基于Spi演算和控制流分析,提出了一个密码协议的新分析方法。随后利用该方法对Beller-Chang-Yacobi MSR协议进行了分析,通过证明该协议已知的漏洞,说明该方法是正确的,并通过更深入的研究和分析,证明了该协议在并行会话攻击下是不安全的,基于此对该协议进一步改进,改进后的协议是安全的。     

数字版权管理系统中的角色访问控制模型

在对数字版权管理系统分析的基础上,针对数字版权管理系统的结构特点,提出了一种数字版权管理系统的角色访问控制模型。应用该模型能够减少管理开销,并能提高系统的可扩展性。该模型预测速度快,准确度较高,有很好的适应性和良好的竞争优势。     

基于区域填充算法的PCB网络提取

随着电子技术的迅速发展,用于PCB行业的设备与技术也突飞猛进。飞针测试机作为判定PCB板的电气连接是否良好的PcB检测设备,可以准确无误地检测出PCB板上各点之间的开短路情况,从而发现PCB板上出现开短路错误的位置。而要对PCB板的物理通断进行电气测量,首先必须知道PCB板正确的物理连接（即PCB的网络分布）情况。文章将主要讲述如何利用一种图形区域填充的算法,从用于绘制PCB板的GERBER文件中获取PCB板的正确网络分布。     

SOC软硬件划分系统中的关键算法

设计并实现了SOC软硬件划分系统,搭建了软硬件协同设计的平台并描述了软硬件协同设计的流程。运用多目标遗传算法对目标系统的价格、功耗、速度进行优化,采用了基于Pareto支配的适应值赋值、精英保持和密度计算截断操作的方法进行多目标寻优。针对单任务图描述多CPU系统结构的不足,提出采用多任务图来描述的方法,并提出了MTLS性能评估算法,验证系统软硬件划分的优劣。在对比实验中将NSGA2算法运用到本系统中,结果证明论文的多目标寻优算法获得的非支配解80%比NSGA2的非支配解优。     

网格计算系统性能研究

通过推导,得出了几种不同连接网格计算系统的加速比和效率计算公式,为构造网格计算系统和评价网格任务分法算法的效率提供了理论依据,并为进一步研究其它拓扑结构的分布式计算系统打下了基础。     

门限代理签名方案的安全性分析

在Sun提出的门限代理签名方案的基础上,Yang、Tzeng和Hwang等人于2003年提出了一个在算法和通信方面都更有效的门限代理签名方案（简称YTH方案）.对YTH方案进行了安全性分析,指出该方案容易受到内部攻击,即原始签名者在代理签名组不知情的情况下,可以伪造一个由任意t个代理签名者参与的对任何消息的代理签名.由于原始签名者能够绕过代理签名组伪造代理签名,所以该签名方案不符合数字签名所必须满足的不可伪造性和不可否认性原则.     

LiCi密码的差分故障攻击

LiCi轻量级分组密码算法是2017年提出的一种新型密码算法,其具有结构微小、消耗能量少等优点,适用于物联网等资源受限的环境.在LiCi的设计文档中,对该算法抵御差分攻击和线性攻击的能力进行了分析,但LiCi算法对于差分故障攻击的抵抗能力尚未得到讨论.针对LiCi算法每轮迭代的移位规律,在第31轮迭代时的左半侧多次注入...     

室内MIMO无线信道:模型和性能预测

提出了一种包含小尺度衰落、相对路径衰落和阴影衰落的室内MIMO信道模型,考虑到室内人员的流动性,并对模型的性能进行了预测,拓展了室内MIMO无线衰落信道模型的研究.实验结果验证了提出模型的性能.得到有用的结论:在低秩的信道,信道容量减少,能合理解释针孔信道容量,在高秩的信道,不考虑相对的路径衰落和阴影衰落的情况下,信道的容量随天线的数目增加和信号相关性的减少而增大.考虑相对的路径衰落和阴影衰落,在LOS传播环境中,若存在丰富的散射传播,信道容量要高得多.     

Resolving Deep Sub-Wavelength Scattering of Nanoscale Sidewalls Using Parametric Microscopy

The quantitative optical measurement of deep sub-wavelength features with sub-nanometer sensitivity addresses the measurement challenge in the semiconductor fabrication process. Optical scatterings from the sidewalls of patterned devices reveal abundant structural and material information. We demonstrated a parametric indirect microscopic imaging (PIMI) technique that enables recovery of the profile of wavelength-scale objects with deep sub-wavelength resolution, based on measuring and filtering the variations of far-field scattering intensities when the illumination was modulated. The finite-difference time-domain (FDTD) numerical simulation was performed, and the experimental results were compared with atomic force microscopic (AFM) images to verify the resolution improvement achieved with PIMI. This work may provide a new approach to exploring the detailed structure and material properties of sidewalls and edges in semiconductor-patterned devices with enhanced contrast and resolution, compared with using the conventional optical microscopy, while retaining its advantage of a wide field of view and relatively low cost.