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为了有效地检查出芯片上器件的缺陷,必须提高测试台的准确度、分析和图形的分辨率,就应该深入到亚微米量级进行特征化。多年来器件和产品的小型化已使印制电路板上的元件密度达 相似文献
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本文通过有机玻璃中的纵波声速随温度的变化来计算第一、二临界角随环境温度的变化。结果表明,随着环境温度的降低,第一、二临界角均明显增大。 相似文献
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在单站水文资料整编中,随着国际标准化检验的引进、推广和应用,水文资料整编精度得到进一步提高。国际标准化检验中,根据正态分布区间估计来合理选择α值,而在偏离数值检验中,t值的大小关键在于S值。所以S值的取值范围也是一个值得探讨的问题。 相似文献
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本文从三级像差理论出发,推导了几种工艺球面检验凸二次曲面的计算公式。根据这些公式计算结果,进行了光路追迹,给出了这些公式对凸二次曲面的补偿范围;并讨论了几种特殊情况下的平面解。 相似文献
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