全文获取类型
收费全文 | 97223篇 |
免费 | 4688篇 |
国内免费 | 3494篇 |
专业分类
电工技术 | 11947篇 |
技术理论 | 2篇 |
综合类 | 5877篇 |
化学工业 | 3226篇 |
金属工艺 | 2109篇 |
机械仪表 | 13973篇 |
建筑科学 | 6320篇 |
矿业工程 | 4509篇 |
能源动力 | 1453篇 |
轻工业 | 2612篇 |
水利工程 | 3032篇 |
石油天然气 | 2537篇 |
武器工业 | 1257篇 |
无线电 | 15992篇 |
一般工业技术 | 15982篇 |
冶金工业 | 2166篇 |
原子能技术 | 2391篇 |
自动化技术 | 10020篇 |
出版年
2024年 | 475篇 |
2023年 | 1740篇 |
2022年 | 2204篇 |
2021年 | 2681篇 |
2020年 | 2052篇 |
2019年 | 1981篇 |
2018年 | 926篇 |
2017年 | 1803篇 |
2016年 | 1903篇 |
2015年 | 2727篇 |
2014年 | 5290篇 |
2013年 | 4058篇 |
2012年 | 5143篇 |
2011年 | 4773篇 |
2010年 | 4658篇 |
2009年 | 5047篇 |
2008年 | 5697篇 |
2007年 | 4923篇 |
2006年 | 4297篇 |
2005年 | 4334篇 |
2004年 | 3823篇 |
2003年 | 3727篇 |
2002年 | 3302篇 |
2001年 | 3098篇 |
2000年 | 2737篇 |
1999年 | 2406篇 |
1998年 | 2276篇 |
1997年 | 2184篇 |
1996年 | 2198篇 |
1995年 | 2166篇 |
1994年 | 1866篇 |
1993年 | 1849篇 |
1992年 | 1677篇 |
1991年 | 1882篇 |
1990年 | 1554篇 |
1989年 | 1412篇 |
1988年 | 152篇 |
1987年 | 118篇 |
1986年 | 93篇 |
1985年 | 48篇 |
1984年 | 44篇 |
1983年 | 23篇 |
1982年 | 23篇 |
1981年 | 20篇 |
1980年 | 4篇 |
1979年 | 1篇 |
1976年 | 1篇 |
1965年 | 5篇 |
1959年 | 3篇 |
1951年 | 1篇 |
排序方式: 共有10000条查询结果,搜索用时 15 毫秒
991.
《中国新技术新产品》2017,(10)
近年来随着GPS的快速发展,实时动态测量技术(RTK)也得到了迅速的发展,并且其优越性日益呈现出来成为测量人员青睐的测量技术之一。RTK这一测量技术具有高精度,高效率等多种优点,在实际的测量工作中能够精确到厘米,因此,其给实际的测量工作带来了巨大的影响。本文主要阐述了GPS RTK的相关知识,对其的发展现状进行了相关的研究,最后针对其在实际的测量工作中的应用做了一定的分析,并就其未来发展方向做了相关的探析,旨在更好地促进其在未来测量工作中的应用。 相似文献
992.
《中国新技术新产品》2017,(14)
随着我国经济建设进程的不断加快,我国各领域的技术研究也在不断深入地进行,其中的工程测绘行业也随之不断发展,大量先进测绘技术也随着研究不断渗入实际工程测绘工作当中,相关测绘先进技术的研究对我国测绘行业的发展起到了有力的推动作用。近年来,GPS测量技术在我国工程测绘领域得到了广泛的发展与应用,它不仅为测绘工作提供了一项新型的技术手段,同时也在一定程度上对测量结果的精准性以及精确度起到提高作用。本文通过对GPS测量技术在工程测绘中的发展现状、特点以及相关的应用进行了阐述与分析,以期对GPS测量技术在工程测绘中的后续应用提供一定的参考与借鉴价值。 相似文献
993.
994.
电子元器件镍金复合镀层厚度测试方法研究 总被引:1,自引:0,他引:1
《中国测试》2017,(3):9-14
目前,电子元器件复合金属镀层厚度的测量主要采用具有破坏性的金相切片法,该方法会对样品造成不可逆损伤。鉴于此,该文提出先培养基片,再通过X射线荧光测厚仪测量复合镀层厚度的基于过程工艺控制的无损检测法,并探究双层和三层镍金复合镀层结构,得到内层镀层对外层镀层测量的影响因子,并研究其测量误差。实验结果表明:该培养基片法在不破坏样品的情况下实现电子元器件复合金属镀层厚度的精确测量,为电子元器件生产过程中复合镀层厚度的控制提供技术支持,进一步完善电子元器件镀涂工艺。 相似文献
995.
《中国测试》2017,(3)
采用金属有机化合物气相淀积法(MOCVD)在蓝宝石上生长InxGa1-xN/Ga N晶体薄膜,Ga N缓冲层的厚度为2.5μm,InxGa1-xN晶体薄膜的厚度大约800 nm,通过光致发光光谱仪测量样品发光峰的峰值,确定铟镓氮晶体薄膜中铟分布的均匀性,取样品均匀性良好的铟镓氮晶片进行卢瑟福背散射实验,每个实验室测量6个样品,两个实验室共同完成,对数据进行分多层精确拟合分析,获得外延层中的xIn,xIn值由多层拟合结果的加权平均值和定值不确定度组成。研究结果表明:采用入射离子4He,能量为2 000 ke V,散射角为165°时,铟镓氮晶片中铟含量(x=20.46%)的相对测量不确定度为2.47%,包含因子k=2。 相似文献
996.
《中国测试》2017,(1):64-68
针对当前旋转平台输出的运动信息没有时间刻度问题,设计一种带有GPS时间的运动信息测量系统。采用单片机STM32F103ZET6作为测量系统的主控单元,一方面通过串口采集GPS接收机模块提供的时间信息,另一方面运用单片机采集旋转平台上增量式光电编码器输出的脉冲信息,并实现两类信息的融合、存储;最后对系统测量精度从时间信息与运动信息两方面进行分析、优化与测试验证。测试表明:系统采用8 MHz无源晶振时,时间信息测量误差在±20μs以内;转台转速为1 r/s,半径为1 m,编码器光栅线数为10 000线时,该系统为转台提供的位移精度优于0.1 mm,满足测试应用需求。 相似文献
997.
998.
999.
1000.
描述了静重式力标准机、杠杆式力标准机及叠加式力标准机的结构、校准原理,对力传感器校准结果的测量不确定度影响因素、评定过程及方法作了明确分析。 相似文献