随机图的点可区别全染色算法

点可区别全染色(VDTC)是指在满足正常全染色的基础上,还要使得图中由顶点颜色和其关联边颜色构成的顶点色集合也不同,所使用的最少颜色数称为点可区别全色数.提出了一种针对随机图的点可区别全染色算法,算法的基本思想是对图G中的边随机地进行预染色,查找存在边染色不正常的冲突集,然后根据规则逐步迭代,直至使目标函数的值满足要求,此时说明染色成功.实验结果表明,算法能够有效地求得给定点数随机图的点可区别全色数,算法时间复杂度不超过O(n3).     

面向产品全生命周期的Web协同工艺设计

Web协同工艺设计是一个企业和团队协同工作的面向产品全生命周期的设计过程。该文提出了面向产品全生命周期的Web协同工艺设计系统三层体系结构,并对其中的协同技术进行了探讨。     

漂浮式海上风电机组全生命周期成本分析

针对国内漂浮式风电全生命周期成本研究尚不足的问题,提出一种评估漂浮式海上风电机组全生命周期成本细分的方法。该方法将漂浮式海上风电机组全生命周期划分为前期调研、设计、制造、安装、运行维护和拆解等6个阶段,涉及每个阶段的阶段成本,并将各阶段成本细分为不同的子成本,得到全生命周期多层次成本构成,并据此分析获得影响全生命周期总成本的关键变量。以某半潜式浮式风机为例,分析其全生命周期每个阶段的成本构成,从而获得最重要的成本,并将其最小化以提高浮式风机经济效应。研究结果表明,控制制造成本和安装成本是提高浮式风机经济性的关键。     

凯氏定氮全定量、半定量法以及杜马斯燃烧法测定米糠粗蛋白优劣势比较

通过对凯氏定氮法的全定量和半定量法及杜马斯燃烧法测定蛋白质实验的科学比较,分析三种方法的优劣势。作为蛋白质测定的国家标准方法,三种方法检测结果并没有显着性差异,所以测定米糠中粗蛋白含量时采用三种方法均是优良可行的。凯氏定氮法所需设备价格低、成本低廉、已经有着广泛的应用,但是操作时间长,有一定的危险性,产生有毒有害气体,危害人体健康,结果受人为影响;杜马斯燃烧法操作过程简便快捷,时间只需几分钟,不需人看管,不产生有毒有害物质,但是仪器昂贵,检测成本高。     

危旧桥梁改造中的上部结构内力分析

甘肃定西公路局省道209线某桥维修改造工程,拟建桥梁上部结构采用预应力混凝土简支箱形梁结构。针对该桥横断面的构造特点,将空间桥跨结构简化为平面结构进行计算。结果表明：得到该桥梁上部结构的弯矩和剪力在满足承载力能力极限状态下的基本组合,能够为后续的桥梁设计提供可靠依据,为桥梁运营期间的养护提供基本数据,为桥梁整体结构的健康运营保驾护航。     

石油化工装置控制性能监控系统设计和应用探讨

控制性能监控系统(CPMS)针对PID控制回路进行实时监控、性能评估和整定优化,有效提高生产装置的自控投用率、平稳率和运维效率。工程实践中将CPMS软硬件设备部署在分散控制系统(DCS)的操作管理层,并采用标准OPC接口实现与DCS通信。CPMS通过获取DCS历史数据和实时数据,对控制回路进行实时监控和性能评估,呈现过程性能综合指标;采用基于数据驱动的虚拟参考整定方法高效实现对PID控制回路参数的整定与优化,并针对缺陷回路提出维护性意见,确保生产装置长期处于最优控制状态;最终形成对每个控制回路全生命周期的可靠闭环管理。     

全氯甲硫醇气液相平衡数据的测定与拟合及在精馏过程中的参考

测定了全氯甲硫醇在330～420 K下的饱和蒸气压,采用Antoine方程和Clausius-Clapeyron方程对数据进行了拟合,得到全氯甲硫醇的Antoine方程为lgp=4.656 7-305 1.4/(T+119.98),相对偏差在-0.686%～1.530%之间;Clausius-Clapeyron方程为lnp=-401 6.8/T+14.159 3,相对偏差在-0.932%～0.731%之间,并由此推算出全氯甲硫醇的平均标准摩尔蒸发焓为33.396 kJ/mol。参考相平衡数据,对粗产品进行了精馏,得到了优化的工艺条件：在真空度0.09 MPa、精馏塔板为12块时,全氯甲硫醇质量分数是99.5%、收率为99.4%。     

活性焦二级吸附塔在烧结烟气净化处理中的应用

介绍了安钢炼铁厂烧结烟气活性焦二级吸附塔净化工艺流程,对二级吸附塔下脱硫塔净化效果,脱硝塔运行情况进行了说明。结果表明,二级吸附塔工艺可以有效提高脱硫、脱硝效率,实现烧结机烟气深度治理,降低运行成本,是一项比较成功的技术。     

中铝西南铝板带铣床生产线电控结构及系统分析

中铝西南铝板带有限公司从国外引进的铣床生产线是一条具有世界先进水平的铣床生产线。该生产线采用了先进的全集成自动化（Total Integrated Automation）技术,自动化程度和可靠性高,能快速、高效,准确地实施逻辑程序指令控制。作者对该生产线的电控结构系统进行了全面分析。     

膜层的光学薄膜参数测量方法研究

简述了研究膜层光学薄膜参数测量方法的必要性。详细介绍了各种测量方法的理论思想、测量准确度、测量范围。综合比较了各种测量方法的优缺点和适用性,研究了测量不同类型薄膜系统膜层光学薄膜参数的最佳测量方法。最后总结了膜层光学薄膜参数测量方法的发展,并提出了建议。