全文获取类型
收费全文 | 5319篇 |
免费 | 226篇 |
国内免费 | 157篇 |
专业分类
电工技术 | 416篇 |
综合类 | 274篇 |
化学工业 | 504篇 |
金属工艺 | 296篇 |
机械仪表 | 615篇 |
建筑科学 | 534篇 |
矿业工程 | 104篇 |
能源动力 | 231篇 |
轻工业 | 121篇 |
水利工程 | 30篇 |
石油天然气 | 84篇 |
武器工业 | 34篇 |
无线电 | 1057篇 |
一般工业技术 | 385篇 |
冶金工业 | 103篇 |
原子能技术 | 91篇 |
自动化技术 | 823篇 |
出版年
2024年 | 10篇 |
2023年 | 59篇 |
2022年 | 92篇 |
2021年 | 102篇 |
2020年 | 108篇 |
2019年 | 60篇 |
2018年 | 101篇 |
2017年 | 110篇 |
2016年 | 126篇 |
2015年 | 139篇 |
2014年 | 282篇 |
2013年 | 265篇 |
2012年 | 295篇 |
2011年 | 365篇 |
2010年 | 280篇 |
2009年 | 311篇 |
2008年 | 244篇 |
2007年 | 312篇 |
2006年 | 296篇 |
2005年 | 328篇 |
2004年 | 223篇 |
2003年 | 204篇 |
2002年 | 165篇 |
2001年 | 148篇 |
2000年 | 143篇 |
1999年 | 155篇 |
1998年 | 132篇 |
1997年 | 139篇 |
1996年 | 100篇 |
1995年 | 76篇 |
1994年 | 62篇 |
1993年 | 63篇 |
1992年 | 53篇 |
1991年 | 37篇 |
1990年 | 23篇 |
1989年 | 28篇 |
1988年 | 17篇 |
1987年 | 14篇 |
1986年 | 11篇 |
1985年 | 7篇 |
1984年 | 3篇 |
1983年 | 3篇 |
1982年 | 2篇 |
1981年 | 3篇 |
1980年 | 2篇 |
1979年 | 2篇 |
1977年 | 1篇 |
1975年 | 1篇 |
排序方式: 共有5702条查询结果,搜索用时 15 毫秒
51.
喻桂兰 《电脑与微电子技术》2012,(19):7-10
介绍一种分析时序逻辑电路的补充方法,并应用于教学实践中。其特点是原理简单、易于理解、直观方便,相对于传统的分析方法,避免了对次状态方程的分析处理计算,有时比传统方法简便、快捷。通过两个示例展示其优越性。 相似文献
52.
53.
54.
潘锦华 《特种铸造及有色合金》2005,25(11):689-691
介绍了五台山铜塔铸造工艺,由于其结构特殊,故采用了3种工艺分别铸造而成:细砂湿模造型、树脂砂毁模贴皮造型和熔模铸造.介绍了铜塔表面化学着色技术.铜塔铸造工艺对其他相似艺术铸品具有一定的借鉴价值. 相似文献
55.
变频开关电源Fuzzy-PID控制器的设计 总被引:1,自引:0,他引:1
针对感应式变频开关电源在对金属材料进行热处理过程中,负载的等效参数和谐振频率发生变化,而变频电源的输出频率不能及时调整和跟踪的问题,结合PID和Fuzzy控制技术的优点,设计Fuzzy-PID控制器对变频电源进行控制,在大偏差时用Fuzzy控制,在小偏差时用PID调节。Fuzzy-PID控制器以单片机8098为核心,采用SPWM专用芯片SA4828,实现变频开关电源的电压、电流双闭环控制,使变频电源不仅具有较快的动态响应、更小的超调,并且具有较高的稳态精度和频率跟踪控制特性。 相似文献
56.
通过对捷联惯性制导与平台惯性制导之间差异的分析,讨论了在进行捷联惯性制导系统的电路设计时所应注意的问题,在此基础上,用C32 DSP和可编程逻辑器件,设计了一个捷联惯性制导系统的电路。 相似文献
57.
研究了根据酮麝香、1,3-二甲基-2,4-二硝基-5-叔丁基苯晶体生长速度的不同,从对二者均达到饱和的溶液中分离得到1,3-二甲基-2,4-二硝基-5-叔丁基苯晶体的过程,计算了晶体生长速度并进行了实验验证。 相似文献
58.
双基推进剂硝胺脱湿及其键合剂分子设计 总被引:5,自引:0,他引:5
针对双嘶推进剂的能量的民力学性能降低的矛盾,阐述了RDX、HMX等环硝胺的脱湿现象。键合剂的选择与设计的难度,键合剂的分子主主其相关技术,键合剂的合成探索等问题。 相似文献
59.
《Journal of Parallel and Distributed Computing》2014,74(6):2512-2520
Accurate age modeling, and fast, yet robust reliability sign-off emerged as mandatory constraints in Integrated Circuits (ICs) design for advanced process technology nodes. In this paper we introduce a novel method to assess and predict the circuit reliability at design time as well as at run-time. The main goal of our proposal is to allow for: (i) design time reliability optimization; (ii) fine tuning of the run-time reliability assessment infrastructure, and (iii) run-time aging assessment. To this end, we propose to select a minimum-size kernel of critical transistors and based on them to assess and predict an IC End-Of-Life (EOL) via two methods: (i) as the sum of the critical transistors end-of-life values, weighted by fixed topology-dependent coefficients, and (ii) by a Markovian framework applied to the critical transistors, which takes into account the joint effects of process, environmental, and temporal variations. The former model exploits the aging dependence on the circuit topology to enable fast run-time reliability assessment with minimum aging sensors requirements. By allowing the performance boundary to vary in time such that both remnant and nonremnant variations are encompassed, and imposing a Markovian evolution, the probabilistic model can be better fitted to various real conditions, thus enabling at design-time appropriate guardbands selection and effective aging mitigation/compensation techniques. The proposed framework has been validated for different stress conditions, under process variations and aging effects, for the ISCAS-85 c499 circuit, in PTM 45 nm technology. From the total of 1526 transistors, we obtained a kernel of 15 critical transistors, for which the set of topology dependent weights were derived. Our simulation results for 15 critical transistors kernel indicate a small approximation error (i.e., mean smaller than 15% and standard deviation smaller than 6%) for the considered circuit estimated end-of-life (EOL), when comparing to the end-of-life values obtained from Cadence simulation, which quantitatively confirm the accuracy of the IC lifetime evaluation. Moreover, as the number of critical transistors determines the area overhead, we also investigated the implications of reducing their number on the reliability assessment accuracy. When only 5 transistors are included into the critical set instead of 15, which results in a 66% area overhead reduction, the EOL estimation accuracy diminished with 18%. This indicates that area vs. accuracy trade-offs are possible, while maintaining the aging prediction accuracy within reasonable bounds. 相似文献
60.