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41.
为了研制出高性能电荷耦合器件(CCD),减少硅片清洗工艺Fe离子沾污是关键。利用表面光电压(SPV)法,研究了硅片清洗过程的Fe离子沾污。研究表明,SPM(H2SO4/H2O2)→SC-1清洗,去除Fe离子污染的效果比较差;用SPM→SC-1→SC-2清洗,去除Fe离子杂质的效果较好,Fe离子污染减少了2个数量级。增加SC-1和SC-2清洗次数可以减少Fe离子沾污,但效果不明显。当化学试剂中金属杂质含量由1×10^-8 cm^-3减少到1×10^-9 cm^-3,清洗工艺Fe离子沾污减少到8.0×1010 cm^-3。 相似文献
42.
介绍了世界上最大的矿热炉生产公司德国曼内斯曼-德马格公司的埋弧炉最新技术,以及俄国和南非矿热炉技术的最新发展。 相似文献
43.
阐述了锅炉换热管外壁(如省煤器、空气预热器、水冷壁等)积灰和结焦对锅炉运行造成的危害,通过黑龙江省哈尔滨东北轻合金有限责任公司SHL-14-115/75型锅炉的清洗实例,表明对锅炉换热管壁定期进行清洗,会大大减少换热管表面腐蚀和腐损,增大热交换面积,减少烟气排放阻力,降低排烟温度,提高锅炉热效率,延长锅炉的使用寿命。 相似文献
44.
45.
清洗对于电子产品可靠性有着非常重要的影响,针对印制电路组件污染物进行了系统阐述,并对不同的清洗技术和工艺进行了总结归纳,讨论了影响清洗效果的各个因素及其检验规范,为实际生产起到了指导性作用。 相似文献
46.
47.
48.
从超声波清洗用清洗溶剂,特别是替代消耗臭氧层物质的氯化氟代碳(CFC)清洗溶剂等方面介绍了集成电路的清洗技术;还介绍了集成电路的免清洗工艺技术, 使用免清洗工艺技术对各道关键工序的控制及采用免清洗技术的主要优势。 相似文献
49.
A. Schneuwly P. Gröning L. Schlapbach G. Müller 《Journal of Electronic Materials》1998,27(11):1254-1261
To reduce cost and enhance reliability for microelectronics applications, a complete understanding of the thermosonic bonding
process is required. In particular, the question of whether melting, diffusion, or significant heating occurs along the interface
during friction has often been raised. We present results obtained with a new device based on thermoelectric temperature measurements
to determine the temperature at the bond interface. In addition to the temperature information, the data characterizes the
bonding process in real time on a micrometer scale. The basic principle of the developed apparatus is temperature measurement
by an Au-Ni thermocouple fixed within the inside chamfer of a bonding capillary. Different bond substrates with high and low
bond contact quality have been investigated. The thermoelectric temperature measurements very precisely determines the bonding
behavior of the bond pads. A few nanometers surface contamination on a bond pad significantly reduces the temperature rise
at the bond interface and therefore impairs bondability of the substrate. These results demonstrate the sensitivity and accuracy
of the measurement principle. The apparatus is a powerful tool to measure the tribology of the bond system and to characterize
the bondability of different bond pads. 相似文献
50.