全文获取类型
收费全文 | 5815篇 |
免费 | 607篇 |
国内免费 | 372篇 |
专业分类
电工技术 | 596篇 |
综合类 | 600篇 |
化学工业 | 163篇 |
金属工艺 | 148篇 |
机械仪表 | 725篇 |
建筑科学 | 305篇 |
矿业工程 | 138篇 |
能源动力 | 88篇 |
轻工业 | 67篇 |
水利工程 | 61篇 |
石油天然气 | 43篇 |
武器工业 | 44篇 |
无线电 | 1859篇 |
一般工业技术 | 722篇 |
冶金工业 | 51篇 |
原子能技术 | 27篇 |
自动化技术 | 1157篇 |
出版年
2024年 | 15篇 |
2023年 | 77篇 |
2022年 | 73篇 |
2021年 | 106篇 |
2020年 | 138篇 |
2019年 | 129篇 |
2018年 | 133篇 |
2017年 | 193篇 |
2016年 | 184篇 |
2015年 | 194篇 |
2014年 | 334篇 |
2013年 | 428篇 |
2012年 | 407篇 |
2011年 | 443篇 |
2010年 | 335篇 |
2009年 | 288篇 |
2008年 | 344篇 |
2007年 | 357篇 |
2006年 | 353篇 |
2005年 | 298篇 |
2004年 | 249篇 |
2003年 | 272篇 |
2002年 | 208篇 |
2001年 | 189篇 |
2000年 | 163篇 |
1999年 | 140篇 |
1998年 | 117篇 |
1997年 | 97篇 |
1996年 | 97篇 |
1995年 | 89篇 |
1994年 | 68篇 |
1993年 | 73篇 |
1992年 | 46篇 |
1991年 | 31篇 |
1990年 | 31篇 |
1989年 | 20篇 |
1988年 | 19篇 |
1987年 | 8篇 |
1986年 | 6篇 |
1985年 | 9篇 |
1984年 | 4篇 |
1983年 | 11篇 |
1982年 | 6篇 |
1979年 | 1篇 |
1978年 | 1篇 |
1977年 | 4篇 |
1972年 | 1篇 |
1961年 | 2篇 |
1960年 | 1篇 |
1955年 | 1篇 |
排序方式: 共有6794条查询结果,搜索用时 515 毫秒
31.
自发参量下转换光场的实验研究进展综述 总被引:1,自引:0,他引:1
自发参量下转换(spontaneous parametric down-conversion,SPDC)光场是基于单色泵浦光子流和量子真空噪声对非线性晶体的综合作用而产生的,它固有的量子起源决定了在非经典光场研究中的重要地位和作用.对SPDC光场的相干特性和它在绝对测量光电探测器量子效率中的应用进行了深入而细致的研究和探讨. 相似文献
32.
33.
通过混合集成型结构光学拾音器的光学设计和芯片设计,制作了包含微光学棱镜,光电探测器和信号放大电路的混合集成型光学拾音器。经过测试,发现有较好的信号输出特性,表明混合集成型光学拾音器已基本研制成功。 相似文献
34.
本文首次提出一种新观点,超大规模集成电路中互连结构的等效模型应具有层次性,对于底层的电路设计,应将互加看作一种具有分布参数的多端口网络,而对于高层次的模块设计,则应将互连看作一种逻辑元件,基于这种观点,本文提出了一种表格型的逻辑模型,它可以将互连产生的三种主要负效应:串扰、延迟和信号变形人武部考虑在内。 相似文献
35.
36.
Measurement selection for parametric IC fault diagnosis 总被引:1,自引:0,他引:1
This article presents experimental results which show feedforward neural networks are well-suited for analog IC fault diagnosis. Boundary band data (BBD) measurement selection is used to reduce the computational overhead of the FFN training phase. We compare the diagnostic accuracy between traditional statistical classifiers and feedforward neural networks trained with various measurement selection criteria. The feedforward networks consistently perform as well as or better than the other classifiers in term of accuracy. Training using BBD consistently reduces the FFN training efforts without degrading the performance. Experimental results suggest that feedforward networks provide a cost efficient method for IC fault diagnosis in a large scale production testing environment.This work is supported by NSF-IUC CDADIC, Project 90-1. 相似文献
37.
Energy minimization and design for testability 总被引:6,自引:0,他引:6
Srimat T. Chakradhar Vishwani D. Agrawal Michael L. Bushnell 《Journal of Electronic Testing》1994,5(1):57-66
The problem of fault detection in general combinational circuits is NP-complete. The only previous result on identifying easily testable circuits is due to Fujiwara who gave a polynomial time algorithm for detecting any single stuck fault inK-bounded circuits. Such circuits may only contain logic blocks with no more thanK input lines and the blocks are so connected that there is no reconvergent fanout among them. We introduce a new class of combinational circuits called the (k, K)-circuits and present a polynomial time algorithm to detect any single or multiple stuck fault in such circuits. We represent the circuit as an undirected graphG with a vertex for each gate and an edge between a pair of vertices whenever the corresponding gates have a connection. For a (k, K)-circuit,G is a subgraph of ak-tree, which, by definition, cannot have a clique of size greater thank+1. Basically, this is a restriction on gate interconnections rather than on the function of gates comprising the circuit. The (k, K)-circuits are a generalization of Fujiwara'sK-bounded circuits. Using the bidirectional neural network model of the circuit and the energy function minimization formulation of the fault detection problem, we present a test generation algorithm for single and multiple faults in (k, K)-circuits. This polynomial time aggorithm minimizes the energy function by recursively eliminating the variables. 相似文献
38.
群时延精确设计的全差分四阶Bessel滤波器 总被引:1,自引:0,他引:1
采用MOS管有源电阻,提出了一种全差分R-MOSFET-C四阶Bessel有源低通滤波器,.通过调节工作于亚阈值区的CMOS管的沟道导纳补偿电阻值的大小,能抵消集成电路制造工艺中电阻值的一致偏差,实现Bessel有源滤波器群时延的精确设计.根据无源滤波器的状态方程完成有源滤波器的综合,应用3.3V,0.5μm CMOS工艺完成了群时延大小为0.75μs的四阶Bessel低通滤波器的管极计算机仿真,仿真结果表明所提电路正确有效,适于全集成. 相似文献
39.
40.