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M. Polák M. Majoro F. Hanic J. Pitel M. Kedrová P. Kottman J. Talapa L. Vencel 《Journal of Superconductivity》1989,2(2):219-233
A method for contactless measurement of the shielding critical current density and its dependence on the external magnetic field is described and analyzed. The obtained values are compared with those measured resistively on two different samples. It is shown that the shielding critical current densityJ
cs
and the intergranular transport current densityJ
cr
are identical if the measurement conditions are similar. A degradation ofJ
cs
measured in the external field with AC ripple has been observed. 相似文献
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GPS硬件由主机和副机两部分组成,本文以Sercel公司生产的NR102K型GPS全球定位系统为例,介绍了其主机和副机在野外施工中的常见故障和解决方法,具有一定的实用性。 相似文献
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多输入单输出逆高斯分布流域汇流模型 总被引:1,自引:0,他引:1
本文将逆高斯分布应用于由水库和区间组成的复杂的流域汇流系统,并建立了多输入单输出逆高斯单位线模型。讨论了模型参数的估计方法,并对沾益流域的雨洪资料进行了实例分析。 相似文献
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Michael E. Becker 《Journal of the Society for Information Display》2006,14(11):1003-1017
Abstract— In this paper, methods and instruments for measurement and evaluation of reflection characteristics are reviewed as needed for research and development of electronic displays and for material and surface modeling with ray‐tracing and rendering software packages. Contrast under ambient illumination and recognizability under daylight illumination are prime development targets in the electronic‐display field, while computation and synthesis of realistic scenes and objects are pushing the need for physical data in computer graphics applications. Three categories of instruments are available for detailed reflection analysis. They are based on (1) gonioscopic (mechanical) and conoscopic (optical) directional scanning, (2) imaging approaches, and (3) on arrangements with variable source or receiver aperture. The capabilities, advantages, and limitations of these methods are introduced and discussed in order to facilitate appropriate selection of methods and instruments. For illustration purposes we present typical results obtained from commercial electronic display screens. A basis for continued widespread implementation and standardization of reflection metrology as required for objective rating and comparison of electronic‐display screen performance under ambient illumination is provided. 相似文献
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