基于凸集的结构非概率可靠性度量研究

结构非概率可靠性分析中,结构的可靠性是通过非概率可靠性指标度量的.文中研究结构非概率可靠性的度量方法,对比分析基于区间的非概率可靠性模型和基于凸集合模型的非概率可靠性模型两种情况下的非概率可靠性指标,证明它们之间存在着确定的函数关系,揭示两种指标之间的差异是由不确定因子所决定的本质,并对其进行定性解释.同时得到一些有用的结论.     

关键几何尺寸对转子叶片疲劳可靠性的影响

基于改进的一次二阶矩法,利用线弹性随机有限元分析和局部应力应变法,考虑几何尺寸随机性进行转子叶片结构疲劳寿命可靠性的数值分析.根据榫头喉部关键尺寸的随机特性确定应力的统计特性,然后采用一种等概率方法,通过确定性数值计算得到叶片寿命的概率密度、均值和变异系数,讨论榫头喉部几何尺寸的随机性对危险点寿命可靠度的影响.     

Ad Hoc网络的加权可靠路由策略

在Ad Hoc网络中,由于网络节点的移动性及拓扑结构的易变性,路由成为最受关注的问题。为了克服在路由算法中,节点的信息存储量大、路径使用效率低下、路由开支庞大等问题。提出了一种加权可靠路由策略W-RR。在该策略中,每个节点都保存稳定性、开销以及邻居节点信息,在进行选路时,对路径的可靠性进行加权,并利用定位系统在源节点和目的节点之间选择一条加权可靠性最大的路径。仿真结果表明,该路由策略在可靠性、建路时间、选路成功率、路径的开销和信息量等方面都具有较好的性能。     

不确定性设计优化理论与方法研究

系统地开展了不确定性设计优化理论与方法研究,定义了设计不确定性、设计稳健性和设计可靠性等概念,阐述了不确定性设计优化理论体系框架,建立了不确定性设计优化模型,提出了解决不确定性设计优化建模、求解和计算复杂性问题的有效途径.     

基于机构运动精度的可靠性虚拟实验方法研究

基于虚拟样机仿真分析软件ADAMS的虚拟仿真环境,对应用广泛的曲柄滑块机构开展基于可靠性的虚拟实验研究.首先建立机构的虚拟样机,模拟机构真实实验条件,逼真地展现真实的实验场景.实验中通过Monte Carlo计算方法和参数化建模技术,综合考虑机构的尺寸误差和运动副间隙误差对机构运动可靠性的影响.通过虚拟实验分别获取关于执行机构位移、速度、加速度误差的大样本数据,并由此得到误差的分布规律,求取误差的可靠度.最后,以VC 6.0为开发平台,开发了该虚拟实验系统,该实验系统能代替真实实验,使实验次数可以不受限制.     

碟形弹簧的模糊可靠性优化设计研究

碟形弹簧模糊可靠性优化设计方法综合应用了模糊可靠性设计理论和优化设计技术,因其同时考虑了碟形弹簧各设计参数的离散性和设计边界的模糊性,设计出的碟形弹簧更趋经济合理,对于设计最佳碟形弹簧结构,具有较大的现实际意义.     

SOD-323型双端器件焊点防开裂技术研究

针对某电源模块产品中的SOD-323型双端器件在环境试验中出现焊点开裂的失效问题,对其焊点开裂机理进行研究。结合三防漆的温度特性,对其进行仿真和多种条件下的应力试验摸底。根据试验结果,提出了针对SOD-323型双端器件焊点开裂的应用解决方案。     

HfO2 Gate Dielectrics for Future Generation of CMOS Device Application

Introduction High- k gate dielectrics have been extensivelystudied as alternates to conventional gate oxide( Si O2 ) due to the aggressive downscaling of Si O2thickness in CMOS devices,and hence the exces-sive gate leakage.Hf O2 has emerged as one...     

640×512小型化红外探测器杜瓦组件可靠性研究

在SWaP3(Size,Weight,and Power,Performance and Price)概念的驱使下,第三代制冷红外探测器向着高性能、小型化和轻量化的方向发展.作为军用核心电子元器件,制冷红外探测器的可靠性成为研究的重点.以浙江珏芯微电子有限公司所研制的640×512/15μm小型化杜瓦组件为研究对象,开...     

1553B总线通讯的可靠性设计

为保证通讯的正常时序和避免空间环境[尤其是单粒子翻转效应（SEU）]对1553B总线通讯的危害性影响,建立了1553B总线通讯通用的失效模式分析模型。针对不满足通讯时序而引起的通讯失效,通过增加握手时序的方式加以避免。软件设计中针对典型的失效模式,如中断无法响应、帧格式错误等,给出与一般通讯软件不同的高可靠性软件设计流程,具体在设计方法上采取寄存器定时更新、存储区表决法以及冗余设计等可靠性措施避免失效,并通过对固定位置的存储单元模拟SEU故障注入的方式进行验证,降低了单粒子翻转的危害性,提高了1553B总线通讯的可靠性,具有普遍意义。