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142.
本文介绍一种齿轮动态加载试验规范及技术要求,论述了运用电液比例控制技术所设计的液压加载系统原理及其使用效果,并简述由此构造的液力测功装置的原理与应用前景。 相似文献
143.
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介绍了一种用于冰箱检测的新型测试系统,并在WIN98环境下用VB6.0实现该系统软件。该系统可以同时对四台冰箱的温度参数及其中一台冰箱的耗电量进行检测,该系统具有成本低,性能稳定的优点。 相似文献
145.
146.
钛合金的银脆,镉脆敏感性及其控制 总被引:4,自引:0,他引:4
利用慢应变速率拉伸技术(SSRT),并结合恒载实验,较全面地研究了Ti-6Al-4V合金的银脆行为、固态与液态镉脆行为,确定了应变速率、接触条件、热处理制度、试样取向、温度等因素对Ti-6Al-4V合金银脆与镉脆敏感性的影响,探讨了Ni阻挡层对控制Ti-6Al-4V合金和TC11合金银脆开裂的作用。 相似文献
147.
本文简单地回顾了提高VLSI测试效率所采用的一些手段,讨论了在ASIC测试问题研究中出现的一些新观点、新方法、新动向,以及所取得的成果。在此基础上,文章阐明了ASIC测试技术的发展方向,并着重论述了可望在未来得到发展的,针对ASIC的功能测试方法。 相似文献
148.
研究了以 1 ,4-萘醌为原料 ,通过溴代、氰化和 O-烷基化三步合成 1 ,4-二烷氧基萘 -2 ,3 -二甲腈。在溴代反应中以溴化试剂代替液溴 ;在氰化和 O-烷基化反应中以溴化十二烷基三甲基铵 (DTMAB)和聚乙二醇(PEG)作为相转移催化剂 ,并采用正交设计法考察了相转移催化剂、固体碱、反应温度等因素对反应的影响 ,其中氰化产物收率达 88.7%。 相似文献
149.
In this article we propose efficient scan path and BIST schemes for RAMs. Tools for automatic generation of these schemes have been implemented. They reduce the design effort and thus allow the designer to select the more appropriate scheme with respect to various constraints. 相似文献
150.
When a circuit is tested using random or pseudorandom patterns, it is essential to determine the amount of time (test length) required to test it adequately. We present a methodology for predicting different statistics of random pattern test length. While earlier methods allowed estimation only of upper bounds of test length and only for exhaustive fault coverage, the technique presented here is capable of providing estimates of all statistics of interest (including expected value and variance) for all coverage specifications.Our methodology is based on sampling models developed for fault coverage estimation [1]. Test length is viewed as awaiting time on fault coverage. Based on this relation we derive the distribution of test length as a function of fault coverage. Methods of approximating expected value and variance of test length are presented. Accuracy of these approximations can be controlled by the user. A practical technique for predicting expected test length is developed. This technique is based on clustering faults into equal detectability subsets. A simple and effective algorithm for fault clustering is also presented. The sampling model is applied to each cluster independently and the results are then aggregated to yield test lengths for the whole circuit. Results of experiments with several circuits (both ISCAS '85 benchmarks and other practical circuits) are also provided.This work was done while the author was with the Department of Electrical Engineering, Southern Illinois University, Carbondale, IL 62901. 相似文献