共振点测试方法的研讨

包装件或产品的共振频率、振动传输比、阻尼等因素组成了包装系统的动态特性,它是由包装材料与整体包装系统共同决定的。包装系统的动态特性能够反映出在一定的运输环境（冲击、振动）下,包装对产品的保护能力。因此在进行包装设计时,经常需要测试包装件或产品的共振频率,根据共振点来设计包装系统,避免包装件在实际运输过程中发生共振现象。     

Ge／Pd／n—GaAs低阻欧姆接触的SIMS分析

采用Ｇｅ／Ｐｄ／ＧａＡｓ结构和快速热退火在ｎ－ＧａＡｓ上形成了低阻欧姆接触，利用二次离子质谱技术揭示和讨论了低欧姆接触形成的机理。比较了采用Ｘ＾＋和ＧｓＸ＾＋信号检测的Ｇｅ，Ｐｄ，Ｇａ和Ａｓ的深度分布。结果表明采用ＣｓＸ＾＋可以提供更准确的结果和成分信息。     

应力和强度分布为表列数据时的可靠度计算

提出用低阶多项式进行分段插值代替作图法进行表列数据的可靠度计算。一方面提高了计算精度,另一方面又合理地解决了高阶多项式的振荡问题,使得计算结果更为合理、精确。     

二次谐波产生的4.75μm激光

可重复生长的非线性红外晶体ＡｇＧａＳｅ２是Ⅰ－Ⅲ－Ⅵ２簇化合物之一。具有４２ｍ对称的负单轴特性。使用光栅选频要中调谐ＴＥＡ ＣＯ２激光器输出的９Ｐ支线泵浦ＡｇＧａＳｅ２晶体可产生波长４．７５μｍ左右的激光。晶体长度为６．７ｍｍ，在１０．６μｍ处按Ⅰ类相位匹配加工。     

飞行时间二次离子质谱--强有力的表面、界面和薄膜分析手段

二次离子质谱（Secondary ion mass spectrometry，简称SIMS）是一种对表面灵敏的质谱技术，建立在表面各种类型带正、负电荷原子或分子发射的基础上。用飞行时间（Time of flight，简称TOF）仪器对这些二次离子进行质量分析，能确保并行质量登录、高质量范围、高流通率下的高分辨和精确质量测定这些优异性能。配合细聚焦扫描一次离子束，可在优于1nm的高深度分辨和优于50nm的横向分辨本领下，实现对表面优于单层ppm(百万分之一）量级的极高检测灵敏度。当今TOF－SIMS已发展为一种成熟且完善的表面分析技术。极高的灵敏度，再加上即使对大分子及不易挥发性分子都独具的敏感性，使它成为很多高技术领域不可缺少的分析手段，这些领域包括微电子学、化学和材料科学以至纳米技术和生命科学等。本文简述了TOF－SIMS的原理、仪器及其多方面的应用和展望。     

一种新的二次电缆屏蔽层接地方法

提出一种新的二次电缆屏蔽层接地方法，即在开关场的一端经适当电阻接地，位于控制室的另一端直接接地。就不同电磁干扰耦合方式下二次电缆屏蔽层采用新型接地方法和传统接地方法时的抗干扰效果进行了分析比较，并对较为复杂的感性耦合方式进行了着重分析，发现采用新方法可以获得较好的电磁兼容效果，并可有效解决因地电流过大而可能烧毁屏蔽层的问题。     

电炉钢外来夹杂控制的研究

介绍了夹杂物的来源,包括内生夹杂和外来夹杂,着重于二次氧化产物、卷渣、内衬侵蚀.同时介绍了鄂钢电炉厂在冶炼和连铸过程中控制夹杂物的操作实践.     

有色企业受惠新税法

3月16日，第十届全国人大第五次会议以绝对票数通过了新的《中华人民共和国企业所得税法》。标志着在我国施行了13年的内外资企业所得税“双轨制”就此结束。