轮齿干涉分析

通过数学计算有效的检测出齿轮副轮齿之间的干涉，并对避免干涉常用的设计准则的可靠性进行了评价。     

灌浆强度值(GIN)法灌浆试验研究

本文介绍了国际上最先进的ＣＩＮ法灌浆技术首次在我国大型水利工程中的试验应用情况，对应用结果进行了系统地分析研究，得出了一些有价值的结论，对我国推广使用这种先进技术具有一定的指导借签意义。     

基于包络线消除的高光谱图像分类方法研究

在高光谱遥感中,包络线消除法一般仅局限于对单个像元的光谱进行光谱分析,从中提取出有助于分类识别的特征波段。而该文则以包络线消除算法为基础,应用VC++语言编程实现了对整个高光谱图像文件去包络、归一化并且提取出分类的特征空间的功能,并且针对原图像文件和去包络线后的图像文件,比较了应用最大似然分类法和光谱角度匹配法进行分类的结果。     

超宽带穿墙雷达椭圆包络线目标边界成像算法

为解决传统超宽带穿墙雷达后向投影(BP)成像算法不利于实时成像且成像模糊的问题,基于目标边界成像的成像算法成为近年来研究的热点。SEABED算法与Envelope算法是常用的目标边界成像算法,但此类算法存在抗噪性差或准确性不佳等不足。该文采用收发分置天线方式,提出一种基于椭圆包络线原理的成像算法。通过分析目标边界与天线坐标之间的几何结构,构造与目标边界相切的椭圆模型,推导了两者的映射关系,完成了穿墙成像的目标边界重建。理论分析和实验结果表明,该算法能提高成像的抗噪性与准确性,增强了穿墙成像的性能。     

用泄漏电流概率密度分布预警污秽绝缘子串闪络

有效预警绝缘子污闪是确保电网安全的重要措施之一,但目前对预警判据缺乏系统研究,为此以XP-160和LXY4-160为试品进行了试验并根据试验结果依次采用希尔伯特变换法、直方图非参数估计法和泄漏电流水平穿越行为(LCA)法分析了污秽绝缘子泄漏电流特征;提出了泄漏电流包络线的分布特征能表征泄漏电流总体发展规律;建立了污秽绝缘子闪络判断准则。研究表明:XP-160绝缘子泄漏电流幅值135mA的统计时间93ms(即τ135=93ms)、而LXY4-160绝缘子泄漏电流幅值110mA的统计时间105ms(即τ110=105ms)时可发生污闪。试验结果验证了污秽绝缘子闪络判断准则的正确性,因此,可以利用该方法进行绝缘子污闪预警。     

基于局部均值分解法的闪变包络线提取方法

分析闪变的关键是提取电压闪变信号的包络线。将一种新的非平稳信号处理方法,即局部均值分解(LMD)方法应用于电压闪变包络线的提取。利用LMD方法对单频闪变、多频闪变、时变闪变信号等典型闪变信号进行仿真分析,证明了该方法提取闪变包络线的有效性。结果表明,LMD方法在提取闪变频率15 Hz及以下的包络线时,检测误差较小,尤其是在闪变低频段的检测准确度更高,弥补了平方检测法低频段检测误差较大的缺陷。此外,可以较准确地检测时变信号扰动发生和恢复的时刻。对载波畸变时的闪变信号仿真分析表明,无需滤波环节,提取不含谐波成份的闪变包络线,体现了LMD方法在提取闪变包络线中的优势。     

一种快速超宽带穿墙雷达成像算法

超宽带穿墙雷达因为反恐、灾后救援等方面的迫切需要而成为近年来的一个研究重点。传统的超宽带成像算法在目标识别能力及计算效率上已不能满足其要求。基于逆边界散射变换的SEABED成像算法可以完成对目标边界快速成像,但是墙体的存在使其在穿墙雷达应用中受到限制。该文考虑到墙体的影响,在SEABED算法基础上提出一种新的适用于超宽带穿墙雷达的包络线算法,该算法通过计算从回波中提取的准波前所对应的曲线簇的包络线来完成目标边界成像。利用FDTD数值仿真实现了对隐藏在墙后目标的二维成像,验证了算法的有效性,并分析了墙壁对目标定位误差的影响。     

基于三维荧光谱降维处理的矿物油识别研究

以汽油、煤油和柴油为研究对象,并将其作为整体研究,不考虑其中具体组分,利用荧光光谱分析技术,提出一种通过将光谱数据矩阵首尾相连,求取其包络线,利用其表观统计量(选用标准偏差、峰度系数和偏度系数)将三维光谱降为二维光谱的方法,该方法对于光谱有一定程度重叠但光谱形状相似性较低的体系有较好的适用性。结合聚类方法,对油种进行识别,识别率达98%,依据朗伯比尔定律,测定三种油类的荧光强度与浓度的拟合曲线,并对其进行定量分析,加标回收率可达95%以上。并与目前常用的平行因子法进行分辨效率的比较,在计算时间上提高了43%。     

一种用于故障隔离的参数区间包络线计算方法

基于参数区间的故障隔离方法的核心工具是区间判断阈值曲线,其计算一直是制约该方法发展的问题。参数区间动态轨迹包络线作为区间判断阈值曲线具有能够适用于多重参数故障隔离等优点,但包络线计算中的包裹效应问题在该领域内一直未能得到很好解决。介绍一种基于上、下函数的包络线计算方法,有别于区间算法计算的包络线随着迭代的进行而迅速变得肥大的可能性,采用该方法的仿真实验表明其计算的包络线的包裹效应得到很大程度上的减轻,可有效用于故障隔离的区间判断。     

光学薄膜参数测量方法研究

为了研准确性和效率更高的膜层光学薄膜参数测量方法,对优化膜系结构和改进制备工艺都有重要的指导作用.论文在研究传统测量方法基础上,将包络线法与全光谱拟合反演法相结合,提出了一种新型的光学薄膜参数测量方法.该方法将采用包络线法计算的单层膜光学薄膜参数近似值作为参考,设置全光谱拟合反演法优化搜索的上下限,结合适当的评价函数构建计算物理模型,并选用综合优化算法求解获得待测膜系各膜层的光学薄膜参数.最后设计TiO2、SiO2单层膜和膜系为:G|0.5HLHL0.5H|A(H-TiO2,L-SiO2)的多层膜进行测量验证,并分析了该测量方法的效率准确度、稳定性等.