浅谈计算机专业嵌入式系统方向教学方法

根据计算机专业的实际情况和嵌入式系统方向的特点,提出嵌入式系统教学的几点想法,探讨应用型高校嵌入式系统方向教学方法。通过课堂教学务实基础知识,通过课程设计、毕业设计等教学实践环节培养动手能力和创新能力,从而取得良好效果。     

ESTC2012全国第十届嵌入式系统学术会议

由中国计算机学会、微机（嵌入式系统）专委会主办,北京大学承办的全国嵌人式系统学术会议（ESTC）将于2012年10月31日至11月5日在中国北京举办。ESTC自2001年以来已经成功举办了九届。ESTC2012将以“嵌入式系统与智能计算”为主题,旨在讨论嵌入式系统领域的最新研究成果和发展趋势,开展广泛的学术研讨。会议将邀请院士及国内外著名专家作主题报告。欢迎从事嵌入式系统及相关领域的专家、学者、业界人士、研究生踊跃投稿并参加会议。     

智能家居远程视频监控系统的设计与实现

针对传统模拟视频监控中图像质量差、无法联网、不可移植等不足,设计了一种基于嵌入式Linux的智能家居远程视频监控系统。远程视频监控系统以ARM（Advanced RISC Machines）处理器S3C2440和Linux操作系统为核心平台。在内核中添加了各种所需的驱动程序,基于V4L2的应用程序对USB摄像头进行图像视频采集,采用TCP/IP网络协议,进行视频数据传输。主机端采用跨平台开发工具Qt开发应用程序,接收图像视频数据并显示图像视频。实验结果显示,能在远程端看到清晰流畅的视频流,系统运行稳定可靠。     

嵌入式uClinux的Web服务技术

随着Web技术的发展,嵌入式Web服务器技术在远程管理控制方面得到了广泛的应用。远程监控系统很适合应用Web技术,而嵌入式Web服务器技术作为结合了Web技术和现场工作要求特点的一项新技术,是一种很好的解决方案。     

基于嵌入式技术的电机控制系统的若干问题探究

近年来,嵌入式技术发展迅速,产业设计领域越来越广.嵌入式技术同Internet网络技术的结合应用也成为未来在嵌入式系统上的一个发展趋势.本文将从对嵌入式技术的理解出发,分析嵌入式系统在电机控制系统方面的应用开发等问题.     

嵌入式调试中的数据获取和错误定位

嵌入式软件系统因其软件相关性和硬件相关性而比常规软件的调试复杂很多,特别是在数据获取和故障定位方面最为突出。从嵌入式软件开发与常规软件开发的异同着手,以该行业实践积累为基础,列出并讨论了一些行之有效的数据获取及错误定位方法,希望能为该领域开发人员提供一点帮助。     

风河推行全面智能化,开拓嵌入式未来

＂Wind River 2012中国开发者大会＂于11月5-9日在北京、上海、深圳等城市巡回举行。本届会议紧扣＂全面智能化＂这个全球性主题,为国内嵌入式系统开发者带来全球最新的趋势和技术,包括智能系统和物联网（M2M）、智能网络、安卓系统、产业发展动态以及风河的最新技术。Intel、Freescale、Cavium Networks、Broadcom、Presagis、TTTech、Adlink和Verocel等全球知名合作伙伴的精彩演示,也让与会者大开眼界。     

基于嵌入式技术的带式输送机控制系统

针对基于PLC的带式输送机控制系统存在体积大、PLC程序更改不方便、成本高等问题,提出了一种基于嵌入式技术的带式输送机控制系统的设计方案;详细介绍了该系统中嵌入式本质安全控制机、控制驱动器、远程I/O模块的硬件及软件设计。实际应用表明,该系统解决了基于PLC的带式输送机控制系统存在的问题,具有较好的稳定性、灵活性和友好性。     

航天器用实时操作系统设计

针对航天器在应用实时操作系统时的特殊需要,设计了航天器用实时操作系统的总体设计方案及内核;总体设计中,将操作系统分为板卡级驱动层、系统内核层、接口层三个层次,并确定了满足航天器任务的最简需求与各层的关系;在内核设计中,设计了双向链表管理器、多任务调度管理器、时钟管理器、消息队列管理器、中断管理器,并在其中体现了最简设计的思想;最后,对航天器用实时操作系统的可靠性设计思路进行了描述;此操作系统目前已应用多个航天器中。     

基于SoC的嵌入式DRAM存储器内建自测试设计

内建自测试(Built-in Self Test,BIST)是测试片上系统(System on- Chip,SoC)中嵌入式存储器的重要技术;但是,利用BIST技术采用多种算法对嵌入式存储器进行测试仍面临诸多挑战;对此,提出了一种基于SoC的可以带有多种测试算法的嵌入式DRAM存储器BIST设计,所设计的测试电路可以复用状态机的状态,利用循环移位寄存器(Cyclic Shift Register,CSR)产生操作命令,利用地址产生电路产生所需地址;通过对3种BIST电路支持的算法,全速测试,面积开销3个方面的比较,表明提出的嵌入式DRAM存储器BIST设计在测试时间,测试故障覆盖率和测试面积开销等各方面都取得了较好的性能.