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《光机电信息》2004,(3):43-47
2004030182半导体激光器=半导体レ-ザ[日]/玉贯岳正//オプトロニクス.-2003,22(12).-203~209 2004030183Pllin型激光式前置准直器=レ-ザ式プ-リアライメント器“プラライン”[日]/八木聪//计测技术.-2003,31(10).-54~552004030184Fujinon激光干涉仪=フジノンレ-ザ干涉计[日]/天野高宏//光アライアンス.-2003,14(3).-41~452004030185装有可视激光器的工作台=可视光レ-ザ搭载ト-タルステ-シヨン[日]/木幸治//光アライアンス.-2003,14(7).-28~322004030186激光CVD修复SL465E的开发=レ-ザCVDリペア-SL465Eの开发[日]/古泉真一//光… 相似文献
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《光机电信息》2004,(6):43-45
工〔日〕住泽弘明侧闷7a卜口二夕又一加04,23(4)一131~136 2004060492微细加工用固体激光器=微捆加工用固体卜一了〔日)汕崎逮三彻.70卜口三夕又一2004,23(4)一137一140 2004060493工业用固体激光器的现状=产案用固体卜一廿刃现状〔日〕邓,屋辉座拐‘7o卜口二夕又一加04,23(4)一148一151 2004060494激光加工在重工业领域中的应用二重工案分野忆招汁石卜一廿加工刃通用(日〕石出孝均.7a卜口二夕又一2004,23(4)一153一159 2004060495利用激光产生等离子体的下一代光刻真空紫外乡丈?奋用协赴下次世代 2004060487用激光制作碳纳米管=卜一廿了7’… 相似文献
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影响铁精矿K2O、Na2O、SiO2含量的因素分析 总被引:2,自引:0,他引:2
郭相玲 《冶金标准化与质量》2003,41(1):9-12
用统计分析方法 ,分析了影响精矿K2 O、Na2 O、SiO2 含量的因素 ,并根据分析结论提出了对生产工艺进行定向控制的条件 相似文献
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自从1979年世界第一张商业用模压全息图产生,由于其具有科技含量高、批量生产、精美、防伪、制作成本低且方便等特点,广泛应用于防伪包装领域。目前国内市面上常见的防伪标识,主要是模压彩虹全息图。这种全息图有立体感,图像清晰,色彩绚丽,保密级数高,具有神秘感和强烈的时代感。 相似文献