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971.
本文介绍一种新型的机械补偿,非物象交换原则和物象交换原则共存的四组元连续变倍显微物镜的变倍原理,理想光学系统的有关计算公式,补偿组凸轮曲线计算公式。结合变倍显微物镜光学系统,说明在进行光学时如何运用这些公式等。 相似文献
972.
为探究退火温度对Mo/4H-SiC肖特基接触势垒不均匀程度的影响,对在不同退火温度下形成的Mo/4H-SiC肖特基接触进行了不同测试温度下的电流-电压(I-V)及电容-电压(CV)测试,运用Tung理论模型和"T0反常"中的T0值评价势垒不均匀程度,X射线衍射(XRD)分析肖特基接触的物相组成。分析结果表明,测试温度升高时I-V测试提取的势垒高度接近于C-V测试提取的势垒高度,退火温度500℃及以上时Mo与4H-SiC发生反应,且导致较低的势垒高度。退火温度为600℃时,肖特基接触具有最低的势垒不均匀程度,且此退火温度下势垒高度相对500℃及700℃时较高,物相组成为Mo2C及Mo4.8Si3C0.6。 相似文献
973.
实验利用表面光取向技术控制蓝相晶格的有序生长,将光定域化取向与分子自组装相结合。通过对基板表面进行交替的取向/非取向控制,平面内获得周期排列的微结构,使蓝相图形化结构的反射光强度在空间上形成周期性调制,同时设计制备了振幅型衍射器件;通过对基板表面做正交取向方向交替排列的微结构,使蓝相图形化结构的反射光相位在空间上形成周期性调制,设计制备了相位型衍射器件。这两类衍射器件均具有对入射光的波段选择性,即只有当入射光的波长局域在蓝相的反射带时才会呈现衍射效应。蓝相液晶软物质的特性又赋予它在电场下可调谐的波段选择性,即反射带位置随电场的增加发生红移从532nm到610nm,电场撤除则回复到初始状态。同时,借助于光取向材料的光可擦写特性,蓝相晶格的取向微结构能够重复的擦写与重构,从而实现不同衍射器件乃至不同衍射调制方式的转换。 相似文献
974.
衍射光学器件DOE是基于衍射光学原理制成的微光学器件.采用类似于微电子加工手段的激光辅助制造技术--激光直写技术,可以制作具有高衍射效率的DOE.激光直写系统的性能,比如光强控制、坐标定位以及自动对焦等,直接影响制成器件的衍射效率.最后对曲面衍射光学器件激光辅助制造的关键技术进行了分析. 相似文献
976.
无衍射光莫尔条纹法直线度测量仪 总被引:2,自引:0,他引:2
提出用无衍射光和环光栅重叠产生环状莫尔条纹的技术来进行空间直线度测量的技术 ,给出了理论分析、仪器结构和原理实验 ,并对该方法在同时实现高分辨力和大量程直线度测量的可能性 ,以及抗激光器漂移等方面的特点进行了讨论 相似文献
977.
分析了平行光系统的连续变倍体视显微镜的共用前置物镜的光学特性,讨论了共用前置物镜的设计方法,样机实测结果表明,视场清晰范围及视场中心分辨力达到机械行业标准的规定。 相似文献
978.
回顾了衍射光学元件(DOE)制作技术的发展过程,介绍了未来制作技术的发展以及元件演变的未来趋势。 相似文献
979.
激光衍射粒度分析的研究 总被引:4,自引:0,他引:4
本文在深入研究激光激光衍射粒度分析计算方法的基础上,进一步提出计算粒度分布的模型独立算法,通过计算机仿真和实际应用表明,该算法比国内原采用的迭代法具有更高的准确性和更大的应用范围。针对我国激光衍射粒度测量系统的现状和存在的问题,提出了采用旋转盘的分时测量方法,并进行了系统设计。最后,本文对系统误差进行了分析。 相似文献
980.
采用干筛分法、 激光衍射法和扫描电子显微镜法测试了粉末涂层材料的粒度, 对比了不同方法的测试结果,
研究了粉末材料的形貌对粒度测试的影响。 结果表明: 干筛分法测试球形的粉末、 不规则形粉末、 片状粉末的粒
度分布具有较好的重复性; 三种方法测试的结果相差较大, 且粒度越大, 差异越大。 相似文献