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81.
T. D. M. Weijers H. Timmers R. G. Elliman 《Nuclear instruments & methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms》2002,190(1-4):397-401
The impact of the pulse height deficit effect in gas ionization detectors on the accurate extraction of depth information from heavy ion elastic recoil detection spectra has been investigated. Thin GaN films and GexSi1−x/Si heterostructures have been analyzed with a 200 MeV 197Au beam. Employing an empirical parameterisation of the pulse height deficit, a global energy calibration of the detector can be achieved. Energy spectra have been compared, calibrated with either a constant or a full energy-dependent compensation for the deficit. A constant compensation results in significant distortion of the extracted depth profile for heavier ions, whereas an energy-dependent compensation yields true concentration–depth profiles. 相似文献
82.
83.
波束形成和解码的联合迭代接收技术 总被引:1,自引:1,他引:0
SDMA技术是提高频谱利用率的有效技术,但在判决反馈最小均方波束形成中,在深衰落之后期望用户波束会指向干扰用户,严重影响了波束形成的性能。文中提出在波束形成和信道解码之后,经过编码、交织,重新生成波束形成的参考信号,再进行波束形成,有效克服了深衰落之后的波束指向错误。计算机仿真结果证明了该方法的有效性。 相似文献
84.
85.
磁偏转电子枪研制核靶 总被引:3,自引:3,他引:0
文章叙述了磁偏转电子枪的原理和结构以及用EQD-3型电子枪研制各种核靶的工艺过程。 相似文献
86.
本文提出光束轨迹方程的一般解,导出解析解的存在条件,推广了文献[1]的光线传播理论,文中以一特定梯度折射率棒为例,讨论了高斯光束在棒中的传播特性。 相似文献
87.
柳襄怀 《有色金属材料与工程》1994,15(2):65-72
作者在多年实验工作的基础上,论述了离子束增强沉积薄膜合成及其在材料表面优化中的应用、所用设备、膜的合成、表面优化技术与机理,并展望了前景。 相似文献
88.
甄汉生 《真空科学与技术学报》1993,(2)
微波电子回旋共振等离子体是淀积薄膜、微细加工和材料表面改性的一种重要手段。由于这种等离子体电离水平高,化学活性好,可以用来实现基片上薄膜的室温化学气相淀积和反应离子刻蚀,因此对于微电子学、光电子学和薄膜传感器件的发展,这种等离子体会具有重要的意义。此外,采用微波电子回旋共振等离子体原理,没有灯丝的离子源可以提高离子源的使用寿命,可以增加离子束的束流密度。可以确信,微波电子回旋共振等离子体的发展,将把离子源技术提高到一个新的水平。显然,这必将对材料表面改性工艺,包括离子注入掺杂等工艺的发展发挥作用。自从1985年以来,为了得到大容积等离子体而发展了微波电子回旋共振多磁极等离子体,这些技术在薄膜技术、微细加工以及材料表面改性中的应用前景是乐观的。我们将在本文中,介绍微波电子回旋共振等离子体的原理及其应用。 相似文献
89.
基于DFT插值的宽带波束形成器设计 总被引:6,自引:0,他引:6
本文提出一种基于DFT插值的宽带波束形成器设计方法。首先推导了具有频率不变波束图的连续线阵的灵敏度函数与离散线列阵加权系数之间的关系;接着给出了基于DFT插值的宽带波束形成器设计的两个步骤:(1)使用窄带波束形成器的设计方法计算在参考频率下基阵的加权系数;(2)根据参考频率下基阵的权系数与其它子带权系数之间的关系,利用DFT插值的方法求出其它子带的加权系数。最后,给出了一个设计实例说明本文方法的有效性。 相似文献
90.
We have utilized a variable energy positron beam and infrared transmission spectroscopy to study defects in GaAs epilayers
grown at low temperatures (LT-GaAs) by molecular beam epitaxy. We have measured the Doppler broadening of the positron-electron
annihilation gamma ray spectra as a function of positron implantation energy. From these measurements, we have obtained results
for the depth profiles of Ga monovacancies in unannealed LT-GaAs and Ga monovacancies and arsenic cluster related defects
in annealed LT-GaAs. We have also studied the effects of the Si impurities in annealed LT-GaAs. The infrared transmission
measurements on unannealed LT-GaAs furnish a broad defect band, related to As antisites, centered at 0.370 eV below the conduction
band. 相似文献