一种新的红外焦平面器件非均匀性校正技术研究

在分析了红外焦平面阵列响应特性的基础上,提出了一种新的基于图像配准技术的"S"型曲线正交拟合算法,对红外焦平面阵列非均匀性进行自适应校正.仿真结果表明,该方法能有效地消除CCD像元响应不一致给图像带来的干扰,得到清晰的图像.     

基于DSP和USB的实时红外图像处理系统

设计了一种实时红外图像处理采集系统，以高速DSP芯片对红外图像进行两点法非均匀校正，用USB2.0接口芯片与主机接口，传输速度高达400Mb/s，图像的伪彩色处理和显示由微机完成。该系统实时性强，与PC机接口方便。     

256×256 Si微透镜阵列与红外焦平面阵列单片集成研究

基于标量衍射理论设计了 8位相菲涅尔衍射微透镜阵列 .利用多次曝光和离子束刻蚀技术在大规模面阵( 2 5 6× 2 5 6) Pt Si红外焦平面阵列的背面制作了单片集成微透镜阵列样品 (单元面积为 3 0μm× 4 0μm ) .测试结果表明 ,单片集成微透镜的红外焦平面阵列样品的信噪比提高了 2 .0倍 .     

基于非制冷红外焦平面探测器的工业测温系统

传统的非接触性测温系统主要采用红外CCD,其工作波长大多为0.4～1.1 μm,受到截止波长的影响,红外CCD在工业中低温测量误差过大.非制冷焦平面红外热像仪(uncooled IRFPA camera)的工作波长一般在8～14 μm之间,常温环境下测温可精确到0.01℃.UL01011型非制冷微测辐射热计是非制冷焦平面热像仪中最常使用的核心光电探测器,以此作为实验用光电探测器件,构建了非接触性工业测温系统,从实验结果可以看出,该方法在实际应用中获得了较好的效果.     

一种新的红外焦平面阵列非均匀性实时校正方法研究

分析了影响均匀性的主要因素和传统的校正方法。提出了利用半导体存储器的函数变换功能对红外焦平面阵列的非均匀性进行校正存储的实时校正新方法．阐述了校正的原理和实现的具体步骤;介绍了硬件电路原理框图和工作过程,并给出了实验结果。实验证明了这种方法的优越性,并取得了满意的实验结果。     

基于高性能DSP的红外焦平面阵列非均匀性实时校正

基于离散小波变换(DWT)理论,提出了一种基于场景的红外焦平面阵列(IRFPA)非均匀性实时校正算法;针对算法所涉及的运算量和数据量庞大的特点,设计了实时非均匀性校正的红外图像处理系统,系统是以高性能DSP(TMS320C6713)为核心器件,采用DSP不同的传输通道并行传输数据,并充分利用DSP硬件的并行性和流水线操作进行非均匀性校正;以真实的红外图像序列为例,进行了非均匀性校正的仿真实验,结果表明,基于高性能DSP的非均匀性实时校正系统完全可以达到实时校正的要求,所用算法对慢变化量具有较好的自适应性。     

非制冷焦平面热像仪获取脉冲CO2 激光光斑研究

采用漫射红外成像法对脉冲CO2激光光斑进行了测量，分析了电扫描体制非制冷红外焦平面热像仪获取窄脉冲CO2激光光班的机理，解释了出现半光班现象的原因；并采用同步发射激光技术，保证了单次激光脉冲的完整、稳定捕获，得到了脉冲CO2激光相对光强分布及相关光束质量参数。     

红外焦平面阵列非均匀性实时校正技术研究

在分析红外焦平面阵列非均匀性噪声产生机理的基础上,提出了一种易于硬件实现的新算法,并给出了其硬件实现。该算法从数字图像处理的角度出发,通过垂直滤波和排序均值滤波,对非均匀性进行校正。利用该算法能实时有效地消除红外图像的非均匀性噪声,增强图像的视觉质量。     

CTIA型红外焦平面阵列非均匀性研究

根据CTIA型红外焦平面阵列的工作原理,分析了非均匀性的来源:探测器芯片、CTIA运算放大器的输入失调电压以及读出电路的积分电容.对这几种因素造成的非均匀性进行了分析、计算和实际测试.最后,提出了使焦平面阵列非均匀性最佳的探测器工作偏置区间.     

红外焦平面阵列技术的发展现状

文章评述各种红外焦平面阵列技术的发展现状,其中,光量子型红外焦平面阵列包括Ⅱ-Ⅵ族HgCdTe三元化合物阵列、Ⅲ-V族InSb二元、InGaAs和GaAiAs三元化合物阵列、PtSi和非本征硅阵列技术,热型红外焦平面阵列包括Si、金属微测热辐射计、多晶硅热电堆和钡锶钛(BST)等热释电-铁电阵列,展望了该技术的发展前景。