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991.
利用固态源分子束外延技术在GaSb衬底上生长In GaAsSb/AlGaAsSb量子阱激光器结构,研制了激 射波长为2.0μm波段的GaSb基量子阱激光器。测量了激光器的阈值 电流密度随激光器腔长的变化规律, 得出无限腔长时器件的阈值电流密度为135A/cm2,在室温连续波 工作模式下,测得激光器的内量子效率 为61.1%,内部损耗为8.3cm-1,激光 输出功率斜效率为112mW/A,最高输出功率达到72mW,器件性 能优异。另外,还研究了改变激光器的腔长和改变注入电流的条件下器件激射波长的调谐特 性。器件激射 波长随注入电流的红移速度为0.475nm/mA。对于不同腔长的器件, 腔长越长,器件工作波长越长,工作波 长和腔长之间呈单调关系。上述波长变化规律是GaSb量子阱激光器的典型特征。 相似文献
992.
Raji Soundararajan Kelvin G. Lynn Salah Awadallah Csaba Szeles Su-Huai Wei 《Journal of Electronic Materials》2006,35(6):1333-1340
We have studied the defect levels in as grown and post growth processed cadmium telluride (CdTe) using thermoelectric effect
spectroscopy (TEES) and thermally stimulated current (TSC) techniques. We have extracted the thermal energy (Eth) and trapping cross section (σth) for the defect levels using the initial rise and variable heating rate methods. We have identified 10 different defect levels
in the crystals. Thermal ionization energy values obtained experimentally were compared to theoretical values of the transition-energy
levels of intrinsic and extrinsic defects and defect complexes in CdTe determined by first-principles band-structure calculations.
On the basis of this comparison, we have associated the observed ionization levels with various native defects and impurity
complexes. 相似文献
993.
Erkan Yuce Sezai Tokat Aydn Kzlkaya Oguzhan Cicekoglu 《AEUE-International Journal of Electronics and Communications》2006,60(5):399-403
In this paper, both of current-mode and voltage-mode proportional plus integral plus derivative (PID) controllers employing the second-generation current conveyors (CCIIs) as active elements are developed. The presented novel PID controllers have grounded passive elements that do not need passive element matching, and realize independently adjustable PID parameters. Thus, it is easy to implement these PID controllers in integrated circuits. Several computer simulations are presented to demonstrate the behavior of these proposed PID controllers. 相似文献
994.
利用击穿电压和击穿电量这两个参数评价标准0.18μm CMOS工艺栅氧的可靠性,获得击穿电压和击穿电量的两个常用方法是电压扫描法和电流扫描法.对用这两种方法得到的击穿电压和击穿电量进行了对比.通过对比,发现测试方法对击穿电压的影响非常小.但是测试方法却可以在很大程度上影响击穿电量.用电流扫描法获得的击穿电量要比用电压扫描法的要大,这一差别可以从两种方法不同的电流-电压曲线中得到解释.同时,通过考察Weibull分布的斜率还发现,击穿电压值的分布斜率要比击穿电量大的多,而且曲线拟合得更好.这说明用击穿电压获得的分析结果更可靠.综合以上结果,可以认为对0.18μm CMOS工艺可靠性评价而言,击穿电压是比较合适的评价指标. 相似文献
995.
996.
采用MOCVD生长了InGaAsP/InGaP/AlGaAs材料系分别限制异质结构(SCH) 的高功率半导体激光器.对于厚度为10nm 的单量子阱,通过计算量子阱增益谱优化了器件的激射波长. 在室温下外延材料的荧光峰值波长为764nm,由于In原子的记忆效应(In carry-over effect)和As/P的替换作用使材料的InGaP/AlGaAs界面不陡峭,通过在InGaP/AlGaAs间长一层5nm的GaAsP大大改善了界面质量. 器件的阈值电流从界面改善前的560mA 减小到改善后的450mA, 斜率效率也从0.61W/A提高到了0.7W/A, 特别是单面最大输出功率已经从370mW 增加到了940mW,发生灾变性光学损伤时的工作电流已经由原来的1100mA 上升为1820mA. 相似文献
997.
均匀圆阵(UCA)是一种应用广泛的具有二位波达角估计能力的平面阵列。为了从理论上分析不同阵列参数下到达波方位角(AOA)、仰角估计精度,推导了均匀圆阵二维波达角估计的性能界,以此为基础分析了阵列孔径、阵元个数、快拍数以及来波仰角高低与到达角估计精度的关系,并通过对UCA-MUSIC算法计算机仿真验证了推导结果的正确性。研究结果为波达角估计类算法提供了可供参考的性能下界,圆阵设计时也不再需要大量的Monte Carlo仿真试验确定阵列参数,可直接从估计精度表达式中获得。 相似文献
998.
999.
1000.