钨酸根抑制不绣刚局部腐蚀的机理

用X射线光电子能谱(XPS)研究了AISI304不锈钢在含WO2-4+Cl-的模拟闭塞电池中形成钝化膜的组成与结构及WO2-4抑制其局部腐蚀的机理.研究表明,闭塞区内AISI304不锈钢表面的钝化膜的外层主要为WO2-4、CrO3、CrCl3、FeCl2和FeCl3,此外,还有少量的Ni2O3、Fe2O3、CrO2-4、γ-FeOOH以及Fe(OH)3;溅射5 min时膜内层主要为Cr2O3、CrOOH、Cr(OH)3、FeCl2、FeCl3和WO3,还有少量的WO2和WO2-4.WO2-4对钝化膜的影响在于WO2-4迁入闭塞区后吸附在金属表面,可全部或部分取代吸附在钢表面的Cl-,并与腐蚀产物Fe2+发生氧化还原反应生成Fe3+和WO2,WO2-4与Fe2+、Fe3+反应生成难溶化合物FeWO4和Fe2(WO4)3覆盖在阳极上,形成较耐蚀的保护膜,降低闭塞区内自催化效应速度,从而抑制局部腐蚀的进一步发展.     

利用ActiveX Automation技术开发AutoCAD的工具菜单栏

详细阐述了如何运用高级语言 ,通过ActiveXAutomation技术来控制AutoCAD绘图 ,并开发出类似天正CAD的菜单。这项技术的应用 ,可以很容易地编制实用程序 ,从而调用AutoCAD自动完成相应的绘图功能。这对于水电领域的工程设计自动化有很大的意义。     

X5045电路及其应用

X5045是一种集看门狗、电压监控和串行EEPROM三种功能于一身的可编程控制电路，文中介绍了它的主要特点和工作原理，同时结合8051单片机给出了MPU与X5045的接口电路与相应的读写程序。     

美能达X—700相机快门故障维修一例

近年来,许多摄影类刊物常介绍一些关于照相机维修的文章,像单镜头反光取景式的美能达X-700、X-300等,这类相机也是影友常用的器材之一。笔者在维修工作中发现美能达X-700还有一个常见的快门故障,现整理出来供同行参考。     

自由电子激光的新进展

1 向X射线激光器迈进2000年2月在汉堡市DESY实验室超导TESLA试验装置（TTF）工作的国际研究小组创造了自由电子激光最短波长记录。从9个国家38个院所来的140名学者取得的成就是获得波长109nm的远紫外辐射振荡。以前使用同类自放大自发辐射自由电子激光器（SASE FEL)取得的最佳结果是波长530nm。后来经过数个星期的艰辛工作，又将波长降低至80nm（图1）[1]。为了取得这项成果，研究组运用了TTF的超导直线加速器的电子束。为了能在～６nm软X射线区工作，目前正对该装置做进一步的完善，可望于2003年准备就绪。该装置的建成为实现主…     

美国两用技术

高分辨数字平板X光探测器及软件技术，AMU计划降低了防御卫星系统耗费，多晶氮氧化铝材料(ALON)成功用于军事和商业领域，复合材料真空模注修复系统用于商业生产，微波反应堆技术成功用于消除太空船中危害性原料。     

X射线光电子能谱(XPS)

在对许多材料的研究和应用中,了解其表面特性是很重要的。而要获得材料的表面特性,就需要一些特殊的仪器,对各种材料从成分和结构上进行表面表征。其中,X射线光电子能谱(XPS)由于其对材料表面化学特性的高度识别能力,成为材料表面分析的一种重要技术手段。 X射线光电子能谱的基本原理(图1)是当一束特定能量的X射线辐照样品,在样品表面发生光电效应,就会产生与被测元素内层电子能级有关的具有特征能量的光电子,对这些光电子的能量分布进行分析,便得到光电子能谱图。XPS起始于发现光电效应之后不久,1914年Rutherford即成功地表述了XPS的基本方程:     

Kevex SIGMA^TM定性X—Ray显微分析工具SDP及其应用

本文介绍了X—Ray能谱定性分析的原理，并结合Kevex SIGMA系统，详细介绍了定性X—Ray显微分析工具SDP及其应用。     

同位素中子源活化瞬发分析装置

一、基本原理自六十年代中期以来,中子活化瞬发γ射线元素分析技术(PNAA)得到人们广泛重视。与通常的中子活化分析(NAA)技术相比,它分析的是样品中的主要成分,若用同位素中子源,还可进行实时在线连续测定及现场分析。PNAA技术是用热中子与待测元素发生中子俘获反应,处于激发态的产物核在瞬间     

“奉旨缩水”更实用——X1650 GT／1950 GT怎能错过？

在显卡品牌泛滥的年代，缩水是偷工减料，品质低劣的代名词，而这次我们所说的“缩水”却具有不同的意义。[编者按]