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21.
Takuma Suzuki Hang-Ju Ko Agus Setiawan Jung-Jin Kim Koh Saitoh Masami Terauchi Takafumi Yao 《Materials Science in Semiconductor Processing》2003,6(5-6):519-521
We report the successful growth of Ga-polar GaN epilayers on O-polar ZnO templates pre-deposited on c-sapphire. Prior to GaN growth, NH3 is exposed onto the ZnO template. The polarity of the GaN layers is confirmed by etching of the surface and by conversion beam electron diffraction (CBED), while the O-polar ZnO is confirmed by CBED. It is suggested that the NH3 pre-exposure helps form a Zn3N2 layer, which possesses inversion symmetry and inverts the crystal from anion polar to cation polar. 相似文献
22.
23.
加固改造中的结构承重体系转换 总被引:2,自引:0,他引:2
从加固改造工程的实践出发 ,探讨了混合结构向框架结构体系转换的方法和构造措施 ,为实际工程提供了新的技术思路 相似文献
24.
预应力钢-混凝土组合梁的应用与研究 总被引:1,自引:0,他引:1
回顾了预应力钢 混凝土组合梁国内外应用与研究历史 ,分析了现有规范及理论的不足 ,并指出了有待解决的问题。 相似文献
25.
The pyrolysis of tertiarybutylphosphine (TBP) has been studied in the low pressure conditions used for chemical beam epitaxy
(CBE). The pyrolysis studies were carried out in low pressure reactors of two different configurations, one of which is a
cracker cell designed for use in a CBE system. The reaction products were studied using a quadrupole mass spectrometer. The
products observed are accounted for by a reaction mechanism involving homolysis of the parent TBP molecule to produce PH2 and C4H9 radicals. These undergo subsequent reactions to form the stable products C4H8, PH3 and H2, with smaller amounts of P and P2 being produced. The production of the sub-hydride PH2 using this cracker cell design indicates that the use of partially cracked TBP may be a promising technique for reducing
the amount of carbon incorporated into the growing epitaxial layer. 相似文献
26.
步进式加热炉炉温优化设定模型及软件开发 总被引:1,自引:0,他引:1
针对线材厂步进式加热炉实际工况,提出了基于经验规则的炉温优化设定模型和在线自学习获取知识的思想,并以炉温优化设定模型为核心,开发出加热炉计算机控制系统的优化运行软件。 相似文献
27.
28.
讲述了参观Semicon/west94′展览会及考察美国和西德的5个公司、1所大学所了解到的投影光刻技术、电子束曝光技术、透镜面形测试技术的发展。 相似文献
29.
采用锁相技术,对电子束曝光机工件台运动实现速度环的全数字控制。设计了数字差频积分回路和数字差频比例控制器,能有效消除速度的静态误差和改善系统的动态特性。 相似文献
30.
We have performed selective area epitaxy (SAE) of CdTe layers grown by molecular beam epitaxy using a shadow mask technique.
This technique was chosen over other SAE techniques due to its simplicity and its compatibility with multiple SAE patterning
steps. Features as small as 50 microns × 50 microns were obtained with sharp, abrupt side walls and flat mesa tops. Separations
between mesas as small as 20 microns were also obtained. Shadowing effects due to the finite thickness of the mask were reduced
by placing the CdTe source in a near normal incidence position. Intimate contact between the mask and the substrate was essential
in order to achieve good pattern definition. 相似文献