氧等离子气氛中NMOS器件的性能退化

文章描述了氧等离子干法剥离光刻胶中MOS器件的性能退化问题,并且制备了不同天线比AR(Antenna Ratio),相同器件结构的NMOS器件来检测器件的退化.实验结果发现栅漏电流密度Jg和阈值电压Vt漂移会随着Al的天线面积的增加而非线性地增加,尤其表现在阈值电压漂移上.运用增加电流应力时间的测试来模拟器件在等离子反应腔中所受的实际应力,发现了与天线比增加时阈值电压变化趋势相同,表明在氧等离子气氛中器件受到了负电应力的影响.最后,基于此次实验的结果,在器件的设计,工艺参数的制定方面提出了一些减小干法剥离光刻胶工艺带来器件性能退化的建议.     

箔条弹发射装置安装方式对试验效果的影响

简要介绍了箔条干扰弹的特性和质心干扰的基本原理,总结了质心干扰效果试验中的问题,阐述了发射装置安装的基本原则,指出了合理地安装发射装置可以大大提高质心干扰效果试验成功率,否则将影响对无源干扰设备的试验鉴定结果。     

40Gbit/s RZ-DQPSK Transponder模块的技术研究

文章重点介绍了40Gbit/sRZ-DQPSK(归零码-差分正交相移键控)Transponder模块的组成和关键技术,针对发射端和接收端控制给出了合理的实验方案。通过眼图、星座图以及光信噪比试验进行验证,眼图良好,光信噪比为12.3dB。实验结果表明,采用该方案设计出的光模块的参数能满足标准要求,可以应用于光通信领域。     

MC34063 DC/DC转换控制电路测试方法概述

目前,DC/DC转换器广泛应用于远程及数据通信、计算机、办公自动化设备、工业仪器仪表、军事、航天等领域,涉及到国民经济的各行各业。文章以其中有一定代表性的MC34063电路为例,扼要介绍其电特性和用其构成的升压电路的测试方法,并解析其测试原理和升压电路设计中的注意事项,对DC/DC转换器的分析测试和量产测试提供一些借鉴。     

关于再定时对于E1时钟传送性能影响的测试及分析

阐述了SDH的E1支路"再定时"功能,指出目前业内基本不采用的现实情况,并通过实际测试验证"再定时"对于提高时钟信号质量的效果,详细介绍了测试的步骤和方法,并提出明确的建议。     

基于中间件的故障注入技术在嵌入式软件逻辑覆盖测试中的应用

以使用中间件故障注入增加软件测试覆盖率为目的,对故障注入技术和原理进行了介绍;并通过实际工程例子提出了一种基于中间件故障注入技术的应用,同时比较了采用故障注入技术后的软件逻辑覆盖测试结果与使用常规测试手段进行的覆盖测试结果,为嵌入式软件的逻辑覆盖测试提供了一种便利、有效的方法。     

电台激励器的GPIB接口研制

介绍了GPIB总线的工作原理,运用NI公司NAT 7210协议芯片设计了一种以单片机为核心的电台激励器GPIB接口电路,讨论了单片机软件的流程并给出了软件设计的流程图,对相关工程技术人员能起到一定的借鉴作用.     

基于遗传算法的测试访问机制最优化

讨论了使测试访问机制最优化的几个问题,然后试着采用遗传算法来解决这些问题,在两个SoC上用遗传算法进行实验,把实验结果与采用整数线性规划方法(Integer Linear Programming,ILP)的结果进行比较可以发现效果改善的很明显。实验结果说明采用遗传算法对测试访问机制进行最优化处理的效果要好于ILP。     

机载雷达生产调试／维护保障集成测试系统

生产调试和装备维护保障一体化是目前国内外军用装备全寿命周期保障技术发展的趋势。文中介绍了机载雷达生产调试/维护保障一体化测试系统的的设计方法及组成,该系统具有通用性好、可靠性高、自动化程度高的特点,能够满足生产和维护的需求。     

同步数字体系中155Mbit/s净荷的误码测试

本文基于光纤传输同步数字体系(S D H)系统的开发背景,较为详细地总结了155Mbit/s速率下的净荷误码测试机理.最后给出了净荷的误码测试方法以及误码测试系统的信号流程.